EscaLab Xi+ R?ntgenoptoelektronisches Spektrometer

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Thermo Fisher Scientific ESCALAB Xi+ ist ein neues Testger?t, das auf dem Produkt ESCALAB 250Xi basiert und mit skalierbaren Funktionen eine Vielzahl von Analysetechnologien integriert. Durch Flexibilit?t, umfangreiche professionelle Konfigurationsoptionen, intuitive Softwarebedienung und Hardwarekonfiguration bietet das Produkt experimentelle Ergebnisse und Produktivit?t. Das leistungsstarke Avantage-Datensystem bietet einen ganzheitlichen Service für Systemsteuerung, Datenerfassung, Datenverarbeitung und Systembetriebsberichte.

Produktdetails

EscaLab Xi+ Röntgenoptoelektronisches SpektrometerAnalyse Leistung:

Qualitative und quantitative Analyse von Oberflächenelementen

Energieanalyser-Design in Kombination mit einer bikristallinen Mikrofokuss-monochromatischen Röntgenquelle für eine Energieauflösung

Schnelle, hochauflösende Parallelbildgebung

Chemische Bildgebung: Raumliche Auflösung besser als 1um

Rückverfolgungsspektrum: Rückverfolgungsbereich besser als 6um

• Kein hinteren Korrekturdetektor erforderlich

Die Doppeldetektoren für Elektronenmultiplikatoren und Widerstandsanodendetektoren sind für die Anforderungen der leistungsstarken XPS-Spektrifizierung und der XPS-Bildgebung mit hoher räumlicher Auflösung konzipiert.

Die innovative Technologie des Raumkontinuierlichen Widerstands-Anode-Detektors ermöglicht eine XPI-Bildauflösung von bis zu 1um, während die erhaltenen Daten keine Merkmale des Detektoruntergrunds haben und keine Korrektur des Untergrunds erforderlich sind, um die quantitative Elementverteilung von Mikron-Auflösung direkt zu erhalten.

• Mikrofokussierte Einfarbquelle

Analysegröße kontinuierlich zwischen 20 μm und 900 μm einstellbar

Empfindlichkeit und Energieauflösung

Bietet nicht weniger als 20 Zielarbeitspunkte zur Verfügung, um sicherzustellen, dass das Anodenziel während der gesamten Lebensdauer des Instruments nicht ersetzt werden muss

● Automatisieren Sie effiziente Ionenanalysequellen

Neue Ar-Ionencluster in Kombination mit herkömmlichen Einzelpartikel-Ionenquellen für die tiefgreifende Analyse verschiedener Materialien

Hochpräzise Winkelauflösung XPS

Software steuert Positions- und Winkelanalysen, um die Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Daten sicherzustellen

Komplettes ARXPS-Datenverarbeitungswerkzeug zur Schichtdickenberechnung von mehrschichtigen Strukturen im Nanoskala

• Ein-Klick-Ladungskompensation

Ausgestattet mit einem doppelten Strahlladungsneutralisierungssystem, das unabhängig von den Bedürfnissen der tatsächlichen Probe gesteuert werden kann.

Präzise Ladungsneutralisierung für alle nicht leitenden Proben und raue Oberflächen

Leistungsstarke Analysesoftware Avantage

Vollständig digitale Instrumentsteuerung

Visualisierung von Systemsoftware

Vollständige XPS-Standarddatenbibliothek und Datenbank zur Identifizierung von Verbindungsstrukturen

Anpassung der Datenerfassung zum Berichtserzeugungsmodus

EscaLab Xi+ Röntgenoptoelektronisches SpektrometerEinfache Bedienung:

• Hohe Automatisierung

Optionale Analysebereich- und Winkelauflösung

Automatisierte Gasregelung und Vakuumregelung

• jederzeit kalibrieren

Kalibrierung von Energiemessgeräten und Instrumentfunktionen