Wärmefeld-Emissions-Scan-Elektronenmikroskop

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JSM-IT710HR Wärmefeld-Emissions-Scan-Elektronenmikroskop Klare Sichtbarkeit fördert neue Entdeckungen! Derzeit wird die Verarbeitungsleistung der Datenerfassung neben der Auflösung und der analytischen Leistung auf Nanoskale als wichtig angesehen. Die JSM-IT710HR ist die vierte Generation der HR*-Serie von JEOL mit der Philosophie „SEM für hochauflösende Bilder, die jedermann einfach aufnehmen kann“. Die Automatisierung der Operationen und die Verbesserung der Beobachtungsleistung des nJSM-IT710HR ermöglichen es dem Benutzer, das Unbekannte von der Sichtbarkeit aus zu erkunden.

Produktdetails

///Über das Sehbare hinaus, das Unbekannte entdecken///

热场发射扫描电子显微镜

JSM-IT710HR Reduzierung der Ladung: Probe zur Verfügung gestellt von: Herr Tshiro Asakura, Fachhochschule für Biotechnik, Agrotechnische Universität von Tokio

Analyse der Kristallstruktur von JSM-IT710HR: Proben zur Verfügung gestellt von: Mr. Tsusaki Takanaki, Institut für Materialforschung (NIMS)

Neue Funktionen

Automatische Beobachtung: Simple SEM/EDS

Simple SEM ermöglicht automatisierte Tests, indem mehrere Bedingungen gleichzeitig festgelegt werden, was die tägliche Produktivität erhöht.

热场发射扫描电子显微镜

Live 3D: Echtzeit-3D

3D Live-Bilder können bei niedriger Vergrößerung beobachtet werden.

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3. JSM-IT710HRWärmefeld-Emissions-Scan-ElektronenmikroskopLow Vacuum Hybrid Secondary Electronic Detector (LHSED)

Der LHSED ist ein neuer Niedervakuumdetektor, der die Beobachtungen zwischen Lichtemittierungsinformationen und Profilen wechseln kann.

热场发射扫描电子显微镜

4. Die Stabilität der Abfeuerung von Elektropistolen auf dem Short Field wurde mehr als vierfach erhöht

> Automatische Strahlenausstellung

Der JSM-IT7010HR kann von der Sammelachse bis zur Dispersion und der Fokus automatisch angepasst werden, ohne eine mühsame manuelle Bedienung.

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> Sekundäre elektronische Prüfsysteme

热场发射扫描电子显微镜

Linke Probe: Pawenfedern, rechte Probe: Zellulose Mikrofasern

> Hohe Auflösung und hoher Strahlstrom

Das JSM-IT710HR ist mit einer integrierten Elektropistole und einem Fokuskop für den Short Field Launch integriert und ermöglicht eine hohe Auflösung für Beobachtungen und Analysen, während ein großer Strahlstrom erzeugt wird.

> Elektronisches Rückstreuungsprüfsystem

Der neue Multisegment-Rückstreuungsdetektor erfasst Rückstreuungsinformationen aus vier Richtungen gleichzeitig, erzeugt einfache 3D-Bilder und zeigt sie in Echtzeit an.

Alle Analysen beginnen mit Zeromag

Verbesserte Sichtfeldsuchfähigkeit mit Zeromag-Optik; Die Verknüpfung von SEM-Bildern mit optischen Bildern vereinfacht die Beobachtung, Analyse und automatisierte Prüfung.

热场发射扫描电子显微镜

6. JSM-IT710HRWärmefeld-Emissions-Scan-ElektronenmikroskopIntegration von EDS

JEOL produziert und vertreibt neben SEM auch EDS selbst. Mit diesem Vorteil können Sie SEM-Beobachtungen und EDS-Analyseergebnisse zentral betreiben und verwalten, wodurch die Funktionalität und die Datenverwaltungsfähigkeit verbessert werden.

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