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Beijing Chuangheng Kejie Technology Co., Ltd
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TM4000 Elektroskop

VerhandlungsfähigAktualisieren am05/07
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Übersicht

Das niedrige Vakuumsystem des TM4000 Desktop-Elektroskops* ermöglicht eine schnelle Beobachtung der Probe ohne jede Behandlung. Der TM4000 Optimizer bietet drei verschiedene Beobachtungsmodi bei 5kV, 10kV und 15kV, bei denen der Strom jeweils in vier Richtungen einstellbar ist, und ist mit vier Segmenten Rückstreuungsdetektoren ausgestattet, die Bildinformationen in vier verschiedenen Richtungen erfassen und Proben in mehreren Mustern bilden können. Mit der neuen SEM-MAP-Navigationsfunktion können Elektroskopbilder in Berichtsform exportiert werden. Ausgestattet mit einem großen Probenlager, das große Proben mit einem Durchmesser von 80 mm und einer Dicke von 50 mm aufnehmen kann.

Produktdetails

TM4000 ElektroskopViele Beobachtungen können unter geringen Vakuumbedingungen durchgeführt werden.Proben wie Pulver oder Wasser, die leicht statische Elektrizität erzeugen, können in Verbindung mit ihrem Zweck beobachtet werden.

Die sekundäre Elektronenbildbeobachtung (Oberflächenform) kann unter geringen Vakuumbedingungen durchgeführt werden.

Ohne Vorbehandlung kann auch die Oberfläche von Isolatoren und wasserhaltigen und ölhaltigen Proben beobachtet werden

Nicht nur die Beobachtung herkömmlicher leitfähiger Proben, sondern auch Isolatoren und wasserhaltige und ölhaltige Proben ohne Vorbehandlung. Ein schneller Wechsel zwischen Sekundärelektronenbild und Rückstreuelektronenbild ist möglich.

Sekundäre Elektronik mit hoher Empfindlichkeit und niedrigem Vakuum

Verwenden Sie einen hochempfindlichen Low Vacuum Secondary Electronic Detector (UVD). Durch die Erkennung des Lichts, das durch die Kollision zwischen Elektronenleitungen und restlichen Gasmolekülen erzeugt wird, können Bilder mit sekundären Elektroneninformationen beobachtet werden. Darüber hinaus können CL-Informationen (UVD-CL: Bild mit CL-Informationen) erhalten werden, indem der Detektor gesteuert wird, um das durch die Elektronenbestrahlung erzeugte Licht zu erkennen.

Prüfprinzip des Sekundärelektronischen Detektors mit hoher Empfindlichkeit und niedrigem Vakuum

Unterstützt Beschleunigungsspannung 20 kV

Das TM4000II/TM4000Plus II unterstützt eine Beschleunigungsspannung von 20 kV.

Mit der EDS-Analyse (optional) können höhere Zählraten analysiert werden.

Hohe S/N-Erzielung von EDS-Elementen durch Beschleunigungsspannung von 20 kV

EM-Probenstand (optional)

Einfache Betrachtung von STEM-Bildern

TM4000 ElektroskopMit dem neu entwickelten STEM-Probenstand und dem hochempfindlichen Low Vacuum Secondary Electronic Detector (UVD) können STEM-Bilder mit kleinen Vergrößerungen einfach beobachtet werden.

Dünnfilmproben und Bioproben können leicht beobachtet werden.

Probe: Maus Nieren

Beschleunigungsspannung: 15 kV

Beobachtungssignale: STEM-Bilder

Vergrößerung: 1000 Mal

Beispiel: Leber von Mäusen

Beschleunigungsspannung: 15 kV

Beobachtungssignale: STEM-Bilder

Vergrößerung: 5000 Mal