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TEM Komuro-IC-Test

VerhandlungsfähigAktualisieren am05/18
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TEM-Kammern mit Frequenzen bis zu 3 GHz können für die Prüfung von ICs nach IEC 61967-2, IEC 61967-8, SAE 1752-3, IEC 62132-8 und GB/T 42968.2-2024 verwendet werden.

Produktdetails

Der FF-T02A ist eine kleine TEM-Kammer mit bis zu 3 GHz, die FCC-TEM-JMC entspricht und für IC-Tests geeignet ist.

Der FF-T01A erweitert den Betriebsfrequenzbereich der Geräte auf Bereiche, die von bestehenden Geräten nicht erreicht werden, und ermöglicht die Durchführungs- und Störungsprüfung von IC-integrierten Schaltungen ab 3 GHz, die in einem feststehenden Testfenster installiert sind und nach der Installation unter 3 GHz nach den Normen IEC 61967-2, IEC 61967-8, SAE 1752-3, IEC 62132-8 und GB/T 42968.2-2024 getestet werden können. Die IC-Prüfung beschränkt sich nicht mehr auf die Verwendung der alten Norm YDT 1690.2-2007 zum Abschluss von Strahlungsstörungsprüfprojekten in EMV-Prüfungen integrierter Schaltungen.

Die gleiche Produktreihe unterstützt die maßgeschneiderte Entwicklung.

Parameter:
Größe: 274*127*61mm

Anwendungsfrequenz: DC-3GHz

VSWR: <1,2


TEM小室-IC测试