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Hunan Eccept Messung und Steuerung Technologie Co., Ltd.
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Scan-/Transmissionselektronenmikroskop

VerhandlungsfähigAktualisieren am12/27
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Das JEOL JSM-7610FPlus-Scan-/Transmissionselektronenmikroskop bietet eine stabile Beobachtung und Analyse mit hoher räumlicher Auflösung durch Halbtauchobjektive und ein High Power Optics-Beleuchtungssystem. Darüber hinaus bietet es eine hohe Skalierbarkeit für eine Vielzahl von Anforderungen wie die Beobachtung der niedrigen Beschleunigungsspannung mit dem GENTLEBEAMTM-Modus und die Signalsortierung mit dem r-Filter.
Produktdetails
  Jeol JSM-7610 FplusScan-/TransmissionselektronenmikroskopHalbtauchobjektive und High Power Optics-Beleuchtungssysteme bieten eine stabile Beobachtung und Analyse mit hoher räumlicher Auflösung. Darüber hinaus bietet es eine hohe Skalierbarkeit für eine Vielzahl von Anforderungen wie die Beobachtung der niedrigen Beschleunigungsspannung mit dem GENTLEBEAMTM-Modus und die Signalsortierung mit dem r-Filter. Die immersive Schottfeld-Emissions-Elektropistole ermöglicht einen zehnmal höheren Sondenstrom als die herkömmliche Schottfeld-Emissions-Elektropistole (FEG), während der Lichtwinkel-Steuerspiegel (ALC) auch einen kleinen Strahlfleck aufrechterhalten kann, wenn der Sondenstrom erhöht wird. Beide können zusammen einen Sondenstrom von über 200 nA liefern. Die leistungsstarken High Power Optics-Systeme, von der Beobachtung von Bildern mit hoher Vergrößerung bis hin zur EDS-Analyse und EBSD-Auflösung, können stets kleine Objektive mit hoher Auflösung verwenden, ohne dass ein Austausch erforderlich ist. Der optische Appendix-Steuerspiegel (ACL) ist oberhalb des Objektivs konfiguriert und optimiert automatisch den Blickwinkel des Objektivs im gesamten Sondenstrombereich. Daher kann auch der Sondenstrom der bestrahlten Probe im Vergleich zu herkömmlichen Methoden sehr klein sein.
扫描/透射电子显微镜
  Jeol JSM-7610 FplusSpezifikationen des Scan-/Transmissionselektronenmikroskops:
1. Sekundäre Elektronenbildauflösung: 0,8 nm (Beschleunigungsspannung 15kV), 1,0 nm (Beschleunigungsspannung 1kV), bei der Analyse 3,0 nm (Beschleunigungsspannung 15 kV, WD8mm, Sondenstrom 5nA)
2. Beschleunigungsspannung: 0,1 ~ 30kV
3. Sondenstrom: Anzahl pA ~ 200nA
4. Elektronische Waffe: Eintauchende Shott-Basis-Abfeuerung von Elektronischen Waffen
5. Linsensystem: Fokus-Spiegel, Licht-Appendix-Kontroll-Spiegel, Semi-Immersive Objektive
6. Probentasch: Voll-Paar-Winkel-Probentasch, 5-Achsen-Motorantrieb
7. Elektronische Detektorserie: Hochbitdetektor, eingebauter R-Filter, niedriger Bitdetektor
8. Automatische Funktion: Autofokussierung, automatische Diffusion, automatische Helligkeit / Linieneinstellung
9. Bildbeobachtung: LCD-Display
10. Bildschirmgröße: 23 Zoll Breitbildschirm