SR-Mapping Reflexfoliendickenmeter

I. Übersicht

SR-MappingReflexfoliendickenmeterSerieVerwenden Sie das Prinzip der Reflexionsinterferenz für eine verlustfreie Messung, durch die Analyse des Reflexionsspektrums, das durch die Reflexionsinterferenz von Licht auf der Oberfläche der dünnen Folie und durch die Bildung von Reflexionsphase auf der Oberfläche der dünnen Folie und der Grundfläche entsteht, und kombinieren Sie mit dem R-Theta-Verschiebstisch, der mit 6 bis 12 Zoll-Proben kompatibel ist, können Sie die gesamte Probe schnell scannen, schnell und genau Informationen wie die Dicke der Folie, die optische Konstante messen und die Gleichmäßigkeit der Folie bewerten.

■Optische Filmmesslösungen；

Berührungslose, zerstörungsfreie Messungen;

■ Kernalgorithmen unterstützen die Analyse von dünnen bis dicken Folien, einzelnen bis mehrschichtigen Folien;

Wiederholbare Messgenauigkeit: 0,02 nm

Vollautomatische Messung, Messpunkte und Positionen können in Recipe nach Bedarf bearbeitet werden

■Mit einer hohen Intensität Halogen Lichtquelle, das Spektrum abdeckt UV-sichtbares Licht bis zum nahen Infrarotbereich;

■ Hoch integriertes Design mit optischem und elektromechanischem Design, kleines Volumen und einfache Bedienung;

■ Basierend auf dem Prinzip der reflektierten Lichtphase-Interferenz der oberen und unteren Schnittstelle der Dünnschicht, lässt sich die einschichtige Dünnschicht einfach in mehrere Schichten auflösen;

■Konfigurieren Sie einen leistungsstarken Kernalyse-Algorithmus: FFT-Analyse der dicken Folie, Kurvenpassung-Analyse zur Analyse der physikalischen Parameterinformationen der Folie;

III. Produktanwendung

Weit verbreitet in einer Vielzahl von Mediumschutzfolien, organischen Folien, anorganischen Folien, Metallfolien, Beschichtungen und anderen Filmmessungen.

Technische Parameter