Raman-Atomkraftmikroskopsystem

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Cofocal Mikro-Raman-Spektrometer: Hauptmerkmale: 1, Empfindlichkeit weit höher als andere ähnliche Raman-Spektrometer, modulares Design, Wellenlängen können gewählt werden, Konfiguration flexibel, einfach zu aktualisieren

Produktdetails

Rahman-Spektrometer:
Hauptmerkmale:
1, die Empfindlichkeit ist viel höher als andere ähnliche Raman-Spektrometer, modulares Design, Wellenlängen können beliebig ausgewählt werden, flexible Konfiguration, einfaches Upgrade.
2, alle Antriebsteile werden durch die geschlossene Kreislaufsteuerung des Rasters eingesetzt, die Instrumentengenauigkeit und die Wiederholbarkeit sind um eine Größenordnung höher als andere Spektrometer der gleichen Art.
3. Sie können ein großes Spektrum von Raman-Spektren (patentiert) auf einmal kontinuierlich scannen, ohne Empfang und ohne Verwendung eines niederopflösenden Rasters.
Das neueste, patentgeschützte Mikro-Fokussystem kann die Fokustiefe kontinuierlich einstellen und den Lichtfluss und die Stabilität des Instruments erheblich verbessern.
Patentgeschützte Raman- oder Fluoreszenzsignale werden direkt abgebildet, um die räumliche Verteilung des Materials schnell zu erhalten.

Atomkraftmikroskop:
Hauptmerkmale:
Bruker Dimension ® Icon ™ Das Atomkraftmikroskop bietet Forschern in der Industrie und der Wissenschaft ein ganz neues AFM-Anwendungserlebnis mit leistungsstarken Testfunktionen und einfacher Bedienung. Auf der weltweit am häufigsten verwendeten AFM-Plattform für große Proben basiert Dimension-Systeme auf jahrzehntelanger technischer Erfahrung und umfangreichem Kundenfeedback für umfassende Innovationen in Verbindung mit den Anforderungen der Industrie. Das neue Systemdesign ermöglicht ein beispielloses niedriges Drift- und Geräuschpegel, so dass die Benutzer nun in nur wenigen Minuten echte und genaue Scanbilder erhalten können.

Dimension ® Icon ™ Die ausgezeichnete Bildauflösung in Kombination mit den spezifischen elektronischen Scan-Algorithmen von Bruker verbessert die Messgeschwindigkeit und die Qualität erheblich. Dimension ® Serie Große Proben Tisch Atomkraftmikroskope ist immer führend in der Branche, die neueste Dimension ® Icon ™ Eine weitere Innovation in der Nadelspitz-Scan-Technologie ist die Konfiguration eines Temperaturkompensationspositionssensors, der ein niedriges Geräuschniveau auf der Z-Achse AE und XY-Achse AE erreicht, das in einem großen Probenstandsystem mit einem Scanbereich von 90 Mikrometer angewendet wird, was sogar besser ist als das Öffnungsringsgeräuschniveau von hochauflösenden kleinen Probenständen AFM. Der neu gestaltete XYZ-Schließkreis-Scankopf beeinträchtigt die Bildqualität nicht, selbst bei hohen Scangeschwindigkeiten, und ermöglicht eine höhere Datenerfassungsleistung.

Raman-Atomkraftmikroskop-Verbindungssystem:
Sie können die Fähigkeiten von inVia Raman mit dem Scannsondenmikroskop (SPM und AFM) kombinieren, um die Zusammensetzung, Struktur und Eigenschaften von Materialien im Nanoskala zu untersuchen.

Vorteile des gemeinsamen Systems:
Messungen vor Ort. Es ist nicht erforderlich, Proben zwischen den verschiedenen Instrumenten zu bewegen, was Zeit spart und den richtigen Analysebereich gewährleistet.
inVia und SPM/AFM können gleichzeitig als unabhängige Systeme verwendet werden, ohne dass die Leistung beider beeinträchtigt wird.
Erhalten Sie umfangreiche Probeninformationen. Verwenden Sie AFM zur Aufzeichnung der Form und der damit verbundenen physikalischen Eigenschaften der Probe. Erhöhung der Fähigkeit von Raman, chemische Informationen in Proben zu analysieren, um Materialien und Nichtmetallverbindungen zu identifizieren.
Die Nadelverstärkte Raman-Messung (TERS) ermöglicht chemische Informationen im Nanoskala.

Wählen Sie das beste System:
Der speziell entwickelte flexible Kopplungsarm von Renishau kann zur Integration von inVia mit SPM- oder AFM-Optik verwendet werden. inVia ist sehr flexibel und kann direkt an verschiedene AFM und SPM von folgenden Anbietern gekoppelt werden:

· Bruker Nano Surfaces

· Nanonics
· NT-MDT
· JPK
· Par

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