Optische 3D-Scangerät ATOS 5

Optische 3D-Scangerät ATOS 5Vorteile:

Multifunktionale Scanner für die Industrie

Dank der erstklassigen Kameratechnologie, leistungsstarker Lichtquellen und leistungsstarker Software erreicht die Leistung des ATOS 5 ein ganz neues Niveau, insbesondere bei der Messung von hellen und dunklen Oberflächen, feinen Strukturen und Kanten. Diese Technologie beschleunigt die gesamte Messzeit und liefert gleichzeitig genaue dreidimensionale Messdaten.

Schnelle Messung

Variables System

Umfassende Prozess- und Qualitätskontrolle

Vollständiger 3D-Scan

ATOS 5 beschleunigt den Testprozess. Ob auf hellen oder dunklen Oberflächen, das System bietet eine kürzere Belichtungszeit. Durch den großen Messbereich können optische 3D-Scanner schneller scannen und 3D-Daten schnell abrufen, was die Produktivität erhöht. hohe Präzision

Entwickelt für den industriellen Einsatz

ATOS 5 erfüllt die hohen Messanforderungen industrieller Anwender. Auch unter schwierigen Bedingungen liefert das System Messdaten mit absoluter Rückverfolgbarkeit. ATOS 5 verfügt über eine Stereokamera-Einstellung, einschließlich eines eingebauten, von einem Sensor gesteuerten Zuverlässigkeitsmonitors für die Messung. Unsere eingebaute Software liefert Ihnen kontinuierliches Feedback zu Kalibrierungszustand, Messgenauigkeit, Umweltveränderungen und Komponentenbewegungen. Vielseitiger Einsatz

Auf Ihre Bedürfnisse zugeschnitten

Wählen Sie ATOS 5, um Flexibilität und Genauigkeit zu vereinen. Ob in der Werkstatt oder im Messraum, ob manuell oder automatisch, das System kann komplexe Prüfaufgaben bewältigen. Der feste Einsatz im Messraum oder der mobile Einsatz in der Produktion erfüllen Ihre Anforderungen. Wenn Sie die Effizienz der Serienproduktion steigern möchten, ermöglicht ATOS 5 eine automatisierte Qualitätskontrolle in der standardisierten ScanBox-Messmaschine. Leistungssteigerung

Grafikkartenbeschleunigungsmessung

Die ZEISS INSPECT Software nutzt die Rechenleistung der Grafikkarte voll. Da die GPU über eine große Anzahl von Kernen verfügt, werden einzelne Scans schneller verarbeitet. Dies verkürzt die gesamte Messzeit erheblich. In Kombination mit seiner leistungsstarken Lichtquelle und Kameratechnologie erreicht ATOS 5 mit dieser GPU-Beschleunigung ein ganz neues Leistungsniveau. Erweiterung mit fotografischer Messung

Für große und komplexe Bauteile

Integriertes optisches TRITOP-Messsystem zur Verbesserung der Messleistung. Als Erweiterung von ATOS 5 ist diese tragbare Lösung bei der Erfassung von Referenzpunktfeldern ausgezeichnet und ist ideal für die Erkennung großer, komplexer Bauteile. Mit diesen Referenzpunkten konvertiert ATOS 5 automatisch einzelne Messwerte, um eine hohe Präzision zu gewährleisten.

ATOS Technologie

Optische 3D-Scangerät ATOS 5Berührungslose Messungen mit strukturiertem blauem Licht. Eine einzelne Messung besteht aus bis zu 12 Millionen unabhängigen Messpunkten. Bestimmen Sie die Genauigkeit, die Auflösung und die Größe des Messbereichs nach Ihren Anforderungen. Dies ermöglicht nicht nur eine hohe Auflösung komplexer, feiner Bauteile, sondern gewährleistet auch eine schnelle Digitalisierung großer Bauteile.

Messvariablen

Dreidimensionale Koordinaten

Dreidimensionale Verschiebung

Dreidimensionale Transformation

Dreidimensionale Geschwindigkeit und Beschleunigung

Oberflächenverdeilung

Materialeigenschaften zur Simulation (Elastizitätsmodule usw.) Beurteilung von 6 Freiheitsgraden (6DoF)

Testvorbereitung spart Zeit und Kraft Die optischen Sensoren des ZEISS 3D-Testportfolios messen statisch oder dynamisch belastete Proben und Komponenten berührungslos, unabhängig vom Material und ohne zeitaufwendige und teure Prüfvorbereitungen. Die Installation herkömmlicher Sensoren wie Spannungsmesser, LVDT oder Beschleunigungssensoren kann eingespart oder erheblich reduziert werden. Neben der Zeitersparnis bei der Vorbereitung bieten die optischen Sensoren eine größere Datenbank für die nachgelagerte Testbewertung.

Hochpräzise Messung von großen und kleinen Objekten

Uniform bietet eine stabile Lösung für die Analyse von Proben von Bauteilen von mehreren Millimetern bis zu mehreren Metern. Unabhängig von der Geometrie und der Temperatur der Probe erreicht die Messauflösung Submikrometer.