Olympus Goldphasemikroskop

Manueller Schalter für Rotationskoskomplexumrichter	Manuelle Steuerung	Belichtungsknopf

System für die Bildanalyse

Wiederherstellbare Mikroskop-Einstellungen: Codierbare Hardware

Das BX3M verfügt über eine neue Codierungsfunktion, die die Hardwareeinstellungen des Mikroskops mit der Olympus Stream-Bildanalyse-Software integriert. Die Beobachtungsmethode, die Lichtintensität und die Position des Objektivs werden in der Software und/oder der manuellen Steuerung aufgezeichnet. Die Kodierungsfunktion ermöglicht die automatische Speicherung der Mikroskopieinstellungen mit jedem Bild, sodass die anschließenden Wiederherstellungseinstellungen einfach abgeschlossen und der Bericht dokumentiert werden kann. Dies spart dem Bediener Zeit und verringert die Wahrscheinlichkeit, falsche Einstellungen zu verwenden. Die aktuellen Beobachtungseinstellungen werden immer auf der manuellen Steuerung und der Software deutlich angezeigt.

Betriebsschritte	Aktion A Aktion B
Verschiedene Bediener verwenden unterschiedliche Einstellungen
Einfach die richtige Einstellung zu überprüfen
Beobachtungseinstellungen synchronisieren
Trotz unterschiedlicher Bediener gleiche Einstellungen

Funktionen für verschiedene Inspektions- und Analyseaufgaben

MIX-Beobachtung: Machen Sie das Unsichtbare sichtbar

Die MIX-Beobachtungstechnologie des BX3M kombiniert Lichtfeld- und Dunkelfeldbeleuchtungsmethoden. LED-Lichtquelle im MIX-Beleuchtungsschieber, um das dunkle Feldlicht auf die Probe zu richten. Diese Methode ähnelt der herkömmlichen Dunkelfeldbeleuchtung, bietet jedoch eine Quadrant-Auswahl für verschiedene Lichtwinkel von LEDs. Diese Kombination von orientierten dunklen Feldern und hellen Feldern, Fluoreszenz oder Polarisierung, die als MIX-Beleuchtung bezeichnet wird, hilft, Mängel hervorzuheben und aufhöbende und eingenehmte Oberflächen zu unterscheiden.

Traditionell.

Das helle Feld strahlt das Licht direkt auf die Probe, während das dunkle Feld die Probe von der Seite um das Objektiv herum strahlt und Kratzer und Mängel hervorhebt.

Fortgeschrittene

MIX-Beobachtung ist eine Kombination aus hellen, fluoreszierenden oder polarisierenden und orientierten dunklen Feldern durch eine ringförmige LED-Lichtquelle. Die LED-Lichtquelle kann angepasst werden, um zu wählen, aus welcher Richtung die Beleuchtung ausgeführt wird. Diese Methode erlaubt einen einzigartigen Kontrast auf Oberflächen, die mit herkömmlichen Methoden nicht beobachtet werden können, und unterstreicht die Eigenschaften der Oberfläche.

Instant MIA: Panoramafotografie durch einfache Bewegung der Tragstelle

Instant MIA: Panoramafotografie durch einfache Bewegung der Tragstelle

Jetzt ist kein elektrischer Tragstisch erforderlich, einfach die XY-Knopfe auf dem manuellen Tragstisch zu bewegen, um das Bild einfach und schnell zu verbinden. Die Olympus Stream-Software nutzt Mustererkennungstechnologie, um Panoramabilder zu erzeugen, die dem Benutzer einen breiteren Blickfeld bieten als ein einzelnes Bild.

Sofortiges MIA-Bild einer Münze.

EFI: Erstellen von ultratiefen Bildern

Die erweiterte Bildtiefe (EFI) der Olympus Stream-Software ermöglicht die Aufnahme von Probenbildern, die über die Brennfläche des Objekts hinausgehen, und überlagert die Bilder über verschiedene Brennflächen, um ein Bild von der Supertiefe zu erstellen. Die EFI kann mit manuellen oder elektrischen Z-Achsmechanismen durchgeführt werden und ein Höhendiagramm erstellt werden, um die Probenstruktur einfach zu erkennen. Sie können auch EFI-Bilder offline mit der Stream Desktop-Version erstellen.

HDR: Detailer im hellen und dunklen Bereich gleichzeitig erfassen

Der High Dynamic Range (HDR) verwendet eine fortschrittliche Bildverarbeitungstechnologie, die die Helligkeitsunterschiede innerhalb eines Bildes anpassen kann, wodurch Blendung reduziert wird. HDR verbessert die visuelle Wirkung digitaler Bilder, um den Benutzern ein professionelles Bild zu bieten, wenn sie Berichte erstellen.

Durch die HDR-Funktion werden Details in den hohen und dunklen Bereichen klar dargestellt
(Beispiel: Kraftstoff-Injektor)

Verbesserter Kontrast durch HDR-Funktion
(Beispiel: Magnesium)

Anpassbar an Präferenzanforderungen für Beobachtung und Analyse

Breite Auswahl an Beobachtungsmethoden

Reflexionslichtmikroskope werden in allen Branchen eingesetzt. Hier sind nur einige Beispiele für Effekte, die durch verschiedene Beobachtungsmethoden erzielt wurden, wie Hellfeld (BF), Dunkelfeld (DF), Differential Interference (DIC), Polarisation (PL), Fluoreszenz (FL), Infrarot (IR) und Transmitted Light (TL).

DF (Beispiel: Oberflächenmontage)	DIC (Beispiel: Ink Gusseisen Korrosionsprüfung)	PL(Beispiel: Weißmütter)
FL (Beispiel: Fremdkörper auf Halbleiterwafern)	IR (Beispiel: Elektrodenschnitt)	TL (Beispiel: LCD-Farbfilter)

Regelmäßige oder grundlegende Messfunktionen

Vielfältige Messfunktionen können mit der Olympus Stream-Software realisiert werden, sodass der Benutzer nützliche Daten aus den Bildern einfach abrufen kann. Bei der Qualitätskontrolle und -prüfung werden Bilder häufig gemessen. Die Olympus Stream-Lizenzsoftware auf allen Ebenen umfasst interaktive Messfunktionen wie Entfernung, Winkel, Rechtecke, Kreise, Ellipse und Mehrecke. Alle Messergebnisse werden zusammen mit Bilddateien für zukünftige Dateiabrufe gespeichert.

Zählen und messen

Zielerkennung und Messung der Größenverteilung sind wichtige Anwendungen in digitalen Bildern. Die Stream-Software nutzt eine Schwellenaufteilungsmethode zur Zielerkennung, um Ziele (z. B. Partikel, Kratzer) zuverlässig vom Hintergrund zu trennen.

Materiallösungen

Die Olympus Stream Software bietet eine intuitive Workflow-basierte Schnittstelle für komplexe Bildanalysen. Mit nur einem Knopfklick können komplexe Bildanalyseaufgaben schnell und präzise durchgeführt werden, die den gängigen Industriestandards entsprechen. Durch die deutlich reduzierte Bearbeitungszeit für wiederkehrende Aufgaben können sich Materialwissenschaftler auf Analyse und Forschung konzentrieren. Es ist auch möglich, jederzeit ein modulares Plugin zum Vergleich von Zwischenteilen und Standard-Bewertungsdiagrammen hinzuzufügen.

Langjährige optische Technologie

Ausgezeichnete optische Leistung: Wellendifferenzkontrolle

Bei Forschungen oder Systemintegrationen mit Mikroskopen müssen die optischen Eigenschaften aller Objektive standardisiert werden. Das Olympus UIS2-Objektiv bietet eine Wellendifferenz-Kontrolle, die die Auflösung reduziert und somit Leistungsindikatoren für numerische Aperturen (NA) und Arbeitsabstände (WD) erheblich reduziert.

Stabile Farbtemperatur und starke weiße LED-Beleuchtung

BX3M bietet eine LED-Lichtquelle mit hoher Intensität für reflektiertes und durchlässiges Licht. Unabhängig von der Intensität behält die LED eine gleichbleibende Farbtemperatur. LED bietet eine hervorragende und langlebige Beleuchtung und ist das ideale Werkzeug für Materialprüfungsanwendungen.

Hohe und geringe Lichtstärke durch Halogenlampen	Hohe und geringe Lichtintensität durch LED

Hohe Qualität für fortschrittliche Leistung

Unterstützte Messung: Automatische Kalibrierung

Ähnlich wie bei digitalen Mikroskopen kann auch eine automatische Kalibrierung mit der Olympus Stream Software durchgeführt werden. Die automatische Kalibrierung eliminiert menschliche Veränderungen während des Kalibrierungsprozesses und ermöglicht zuverlässigere Messergebnisse. Der Algorithmus der automatischen Kalibrierung berechnet automatisch die richtige Kalibrierungsmenge anhand des Durchschnitts mehrerer Messpunkte. Dadurch werden die Unterschiede zwischen den einzelnen Bedienern erheblich verringert, eine einheitliche Genauigkeit erhalten und die Zuverlässigkeit der regelmäßigen Überprüfung verbessert.

Nahtlose Zusammensetzung: Bildschattenkorriktur

Die Schattenkorriktur kann mit der Olympus Stream-Software durchgeführt werden, um die Schatten um die Bildecke herum zu kompensieren. Bei Verwendung von Schwelleneinstellungen für Lichtintensität bietet die Schattenkorriktur eine genauere Analyse. Darüber hinaus kann ein gleichmäßigeres Panoramabild erzielt werden, wenn ein MIA-Bild gepflegt wird.

1 x 3 MIA-Bild (Beispiel: Rückstände auf einem Folienfilter)

Bild auf der linken Seite: Schatten am ursprünglichen Bild, wenn das Bild zusammengefügt wird
Bild rechts: Gleichmäßige Beleuchtung des gesamten Sichtfeldes nach Schattenkorriktur

Konfigurationsbilder für Materialwissenschaften und industrielle Anwendungen

BBX53M Kombination aus reflektiertem und reflektiertem/durchlässigem Licht

Die BX3M-Serie verfügt über zwei Mikroskopgestelle, eines für nur reflektiertes Licht und eines für die Kombination von reflektiertem und durchlässigem Licht. Beide Racks können manuell, codiert oder elektrisch konfiguriert werden. Alle Racks sind mit ESD-antistatischer Funktion ausgestattet, die elektronische Proben schützt.

BX53MRF-S Konfigurationsbilder	BX53MTRF-S Konfigurationsbilder	BX53MIR beobachten

IR-Objektive können zur Halbleiterprüfung und -messung durch Siliziummaterialbildgebung verwendet werden. Ausgestattet mit einem 5- bis 100-fachen Infrarot (IR)-Objektiv, bietet es eine Differenzkorriktur von der sichtbaren Wellenlänge bis zum nahen Infrarot. Für die Beobachtung hoher Vergrößerungsraten korrigiert die Drehung des Korrekturrings der LCPLN-IR-Serie die Abweichung, die durch die Probendicke verursacht wird. Mit einem Objektiv erhalten Sie ein klares Bild.

BX53M Polarisationskombination

Das Polarisationsmikroskop BX53M ermöglicht eine kontrastreiche Polarisation und ist ideal für Geologen. Untersuchungen wie die Identifizierung von Mineralien, die Analyse der optischen Eigenschaften von Kristallen und die Identifizierung von Steinflachen profitieren von stabilen Mikroskopsystemen und optischen Systemen.

BX53-P Spiegelkonfiguration	Konfiguration BX53-P Kegelspegel/Orthographie

Brech-Spiegel für Kegeloptik und Orthographie

Mit dem U-CPA Kegelbeobachtungszubehör ist der Wechsel zwischen Kegelbeobachtung und Orthographie einfach und schnell. Interferenzgrafik der Hinterfokusebene kann klar fokussiert werden. Die Sichtfeldleuchte des Brech-Spiegels ermöglicht es ihm, stets scharfe und klare Kegellichtbilder zu erhalten.

Reiche Auswahl an Farbkomplementern und Wellenlängenplatten

Es werden sechs verschiedene Komplementäre zur Messung der Doppelbrechung von Stein- und Mineralflachen angeboten. Die Differenzniveau der Messung reicht von 0 bis 20 λ. Für eine bequemere Messung und einen hohen Bildkontrast können Berek- und Senarmont-Komplementäre verwendet werden, die die Differenzniveau im gesamten Sichtfeld ändern können.

Messbereich des Komplementors

R = Lichtdifferenzniveau

Für die meisten genauen Messungen wird empfohlen, dass ein Komplementor (außer U-CWE2) in Kombination mit dem Interferenzfilter 45-IF546 verwendet wird.

Spannungslose optische Komponenten

Das spannungsfreie Objektiv UPLFLN-P reduziert dank der Konstruktions- und Fertigungstechnologie von Olympus die innere Spannung auf ein extrem geringes Maß. Dies bedeutet einen höheren EF-Wert, wodurch ein ausgezeichneter Bildkontrast erzielt wird.

Das BXFM-System

BXFM eignet sich für spezielle Anwendungen oder in andere Instrumente integriert. Die modulare Konstruktion in Kombination mit einer Vielzahl spezieller kleiner Beleuchtungs- und Befestigungseinrichtungen ermöglicht den direkten Einsatz in einzigartigen Umgebungen und Konfigurationen.

Modular gestaltet, erstellt eigene Systeme

Mikroskop-Rack

Zwei Mikroskop-Racks können für reflektiertes Licht verwendet werden; Einer hat auch die Fähigkeit, durchlässiges Licht zu beobachten. Außerdem ist ein Adapter zur Anhebung der Beleuchtung für höhere Proben ausgestattet.

Halter

Wenn die Probe bei der Mikroskoppinspektion nicht geeignet ist, auf einem Tragstisch zu platzieren, können Beleuchtungen und optische Komponenten auf größeren Halterungen oder anderen Geräten montiert werden.

Spiegel

Wenn Sie eine Brille für die Mikroskopbildung verwenden oder mit einer Kamera beobachten, wählen Sie die Brille entsprechend der Art der Bildgebung während der Beobachtung und der Beobachtungsposition des Bedieners aus.

Beleuchtung

Die Beleuchtung projiziert Licht auf die Probe entsprechend der gewählten Beobachtungsmethode. Die Software kann in Kombination mit einer codierten Beleuchtung die Position der Spektroskopkomponente auslesen und die Beobachtungsmethode automatisch erkennen.

Lichtquelle

Wählen Sie die Licht- und Stromquelle für die Beleuchtung der Probe entsprechend der Beobachtungsmethode aus.

Objektivumsetzer

Zubehör für Objektive und Schieber. Wählen Sie die gewünschte Anzahl und Art von Objektiven; Und ob mit einem Schieber-Zubehör.

Schieberegler

Wählen Sie den DIC-Schieberegler, um die regelmäßige offene Beobachtung zu ergänzen. Mit dem DIC-Schieberegler können Sie bei der Erfassung von Stereomorphologieinformationen über die Probe einen hohen Kontrast oder einen hochauflösenden Typ wählen. Die MIX-Beleuchtung ist sehr flexibel und bietet eine partitionierte LED-Lichtquelle in einem dunklen Lichtweg.

Steuerbox und manuelle Steuerung

Die Steuerbox wird für die Kombination von Mikroskop-Hardware und PC verwendet und die manuelle Steuerung für die Anzeige und Steuerung des Hardwarezustands.

Laststelle

Träger- und Trägerplatten für die Aufstellung von Proben. Wählen Sie nach Form und Größe der Probe.

Kameradapter

Adapter zur fotografischen Beobachtung. Sie können aus den gewünschten Sichtfeldern und Vergrößerungen wählen. Mit der folgenden Formel können Sie den tatsächlichen Beobachtungsbereich berechnen:
Wirkliches Sichtfeld (mm) = Sichtfeld (Anzahl der Sichtfelder) ÷ Objektivvergrößerung.

Brille

Brille zur direkten Beobachtung im Mikroskop. Wählen Sie nach dem gewünschten Blickfeld.

Farbfilter

Ein optischer Farbfilter ermöglicht die Umwandlung verschiedener Arten von Licht, das auf die Probe ausgestrahlt wird. Wählen Sie entsprechend den Bedürfnissen der Beobachtung den passenden Filter aus.

Schwerpunktspiegel

Der Fokus kann das durchlässige Licht zusammentreffen und fokussieren. zur Beobachtung des durchlässigen Lichts.

Spektrospektor-Komponenten

Spektroskop-Komponente für den BX3M-URAS-S. Wählen Sie nach den gewünschten Beobachtungen.

Mittelspiegel

Verschiedene Arten von Zubehör für verschiedene Zwecke. Zwischen dem Spiegel und der Beleuchtung verwendet werden.

Weitere Informationen

UIS2 Objektive

Objektive können die Probe vergrößern. Wählen Sie Objektive aus, die der Arbeitsabstand, der Auflösung und der verwendeten Beobachtungsmethode entsprechen.

Standardkonfigurationsparameter der Olympus Mikroskop Serie BX53M

Spezifikation BX53 (zur Polarisationsbeobachtung)

BX53M/BXFMESDGeräte

Olympus stehtGoldphasemikroskopBX53M-Serie Fotoeffekte:

5X Olympus Dunkelfeld	5X Olympus Stadion
10x Olympus Dunkelfeld	10x Olympus Stadion
20X Olympus Dunkelfeld	20X Olympus Stadion
50X Olympus Dunkelfeld	50X Olympus Stadion
100x Olympus Dunkelfeld	100X Olympus Stadion