Seimer fliegt Nexsa™ Röntgenfotoelektronenspektrometer

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Thermo Scientific Nexsa Das Röntgenoptoelektronische Energiespektrometer (XPS) bietet eine vollautomatische, multitechnische Analyse mit hohem Durchsatz und hält gleichzeitig qualitativ hochwertige Analyseergebnisse auf Forschungsgrad bei. Durch die Integration verschiedener Analysetechnologien wie ISS, UPS, REELS und Raman können Anwender eine echte gemeinsame multitechnologische Analyse durchführen, die das Potenzial für weitere Fortschritte in der Entwicklung von Mikroelektronik, Ultradünnfilm, Nanotechnologie und vielen anderen Anwendungen freisetzt.

Produktdetails

Seimer fliegt Nexsa ™ RöntgenfotoelektronenspektrometerMaterialanalyse und -entwicklung

Nexsa Energy Spectrometer bieten analytische Flexibilität, um das Materialpotenzial zu maximieren. Flexibilität in Form einer optionalen Multi-Technologie-Kombination, die eine echte Multi-Technologie-Kombination für analytische Prüfung und hohen Durchfluss ermöglicht, während die Ergebnisse auf Forschungsniveau bleiben.

Seimer fliegt Nexsa ™ RöntgenfotoelektronenspektrometerStandardisierte Funktionen sorgen für leistungsstarke Leistung:

· Isolatoranalyse

· Hochleistungsstarke XPS-Leistung

· Tiefenanalyse

· Multitechnologische Zusammenarbeit

· Dual-Mode-Ionenquelle für erweiterte Tiefenanalyse

· Neigungsmodule für ARXPS-Messungen

· Avantage-Software für Instrumentsteuerung, Datenverarbeitung und Berichterstellung

· Kleine Flecken Analyse

Optionales Upgrade: Sie können eine Vielzahl von Analysetechnologien in Ihre Prüfanalyse integrieren. Automatischer Betrieb

· ISS: Ionenstreuungsspektrum, das Elementinformationen über die 1-2 Atomschichten der obersten Oberfläche des Materials analysiert und einige Informationen über den Überfluss an Isotopen durch Massenentscheidung analysiert.

· UPS: UV-Optoelektronik-Spektrum zur Analyse von Preisband-Energiestufenstrukturinformationen und Oberflächenfunktionsinformationen für Metall-/Halbleitermaterialien

· Raman: Die Raman-Spektrologietechnik zur Bereitstellung von Fingerabdruckinformationen auf molekularer Strukturebene

· REELS: Energieverlustspektrum für reflektierte Elektronen zur Erfassung von H-Elementgehalten sowie Informationen über die Energiestufenstruktur und die Bandlücke des Materials

Mit der optischen Ansicht von SnapMap konzentrieren Sie sich auf die Eigenschaften der Probe. Die optische Ansicht hilft Ihnen, Ihre Interessengebiete schnell zu lokalisieren und gleichzeitig fokussierte XPS-Bilder zu generieren, um Ihr Experiment weiter einzurichten.

1. Röntgenstrahlung auf einem kleinen Bereich der Probe.

2. Sammeln Sie die Optoelektronen aus diesem kleinen Bereich und sammeln Sie sie im Analyzer

3. Sammeln Sie kontinuierlich Elemente-Diagramme, während sich die Probe bewegt

4. Überwachung der Standorte der Probenstelle während der gesamten Datenerfassung, deren Kartenbildung zur Erzeugung von SnapMaps verwendet wird

Seimer fliegt Nexsa ™ RöntgenfotoelektronenspektrometerAnwendungsbereiche

· Batterie

· Biomedizin

· Katalysator

· Keramik

· Glasbeschichtung

· Graphen

· Metalle und Oxide