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Beijing Festec Technologie Co., Ltd.
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NEX LS Scanner Multielement Online-Schichtanalysator

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NEX LS Scanning Multi-Element-Online-Schichtanalysator$r$n Hauptvorteile und Merkmale$r$nDie Energy Diffuse X-ray Fluorescence (EDXRF) -Technologie der dritten Generation des NEX LS stellt die nächste Entwicklung des Scanning Multi-Element-Online-Schichtanalysators für Rollen oder Rollenanwendungen dar.
Produktdetails

NEX LS Scanner Multielement Online-Schichtanalysator

Hauptvorteile und Merkmale

Die Energy Diffuse X-ray Fluorescence (EDXRF) -Technologie der dritten Generation des NEX LS* stellt die nächste Entwicklung für Scan-Multielement-Online-Beschichtungsanalysatoren für Rollen oder Rollenanwendungen dar.

  • Online Echtzeit-Beschichtungsgewichtsanalyse

  • Messung von Elementen Aluminium (AI) bis Uran (U)

  • Optischer Kern der NEX-Serie

  • Industrielle Touchscreen-Benutzeroberfläche

NEX LS Scanner Multielement Online-Schichtanalysator

Produktübersicht

Energiediffuse Röntgenfluorescenz (EDXRF)

Um einen Tisch bereitzustellenmehrFür die analytische Leistung und Zuverlässigkeit stammen die EDXRF-Messkopfkomponenten aus der etablierten Serie von hochauflösenden Desktopgeräten NEX. Mit seiner bewährten Technologie ermöglicht der Rigaku NEX LS eine schnelle, zerstörungsfreie Multielementaranalyse von Elementen von Aluminium (Al) bis Uran (U), einschließlich Beschichtungsgewicht, Beschichtungsdicke und/oder Zusammensetzung.

Beschichtungsdicke und Zusammensetzung

Rigaku NEX LS ist für Service-Netzwerk- und Spulenanwendungen ausgelegt und verfügt über die Fähigkeit, mehrere Kompositionen, Beschichtungsgewichte oder Beschichtungsdicken durchzuführen. Der Messkopf ist auf einem starren Balken montiert und mit einem linearen Bewegungsmechanismus über dem Rollenrad ausgestattet, so dass der Abstand vom Messkopf zur Oberfläche konstant ist. Wo erforderlich, wird die Elementzusammensetzung der Beschichtung direkt gemessen. Stattdessen kann das Beschichtungsgewicht (oder die Beschichtungsdicke) direkt gemessen werden (wobei die Elementzählung proportional zur Dicke ist) oder indirekt gemessen werden, indem der Abbau einiger Basiselemente gemessen wird (wobei die Elementzählung negativ zur Dicke korreliert).

Siliziumschicht

Desktop EDXRF Spektrometer sind seit langem eine bekannte Technologie für Hersteller von Klebstoffbeschichtungen, Konvertern, Vakuumformkunststoffen und anderen Branchen, die Siliziumöl als Blockschicht, Klebstoffbeschichtung oder Entnestungsmittel verwenden. Echtzeit-Scan und strengere Prozesskontrolltoleranzen bringen die EDXRF Siliziumbeschichtungsanalyse auf eine neue Höhe. Siliziumbeschichtungen werden auf Kunststoff- und Papiersubstrationen angewendet, um die Freisetzungseigenschaften von Produkten wie Etiketten oder Verpackungen zu ändern. Wenn zu wenig Siloxan aufgebracht wird oder wenn in bestimmten Bereichen des Fasernetzes eine Siloxanbeschichtung fehlt, werden die Entfernungseigenschaften des Klebstoffs bei der Entfernungsanwendung nachteilig beeinträchtigt oder die Entformungseigenschaften von Vakuumgestellten Kunststoffen beeinträchtigt werden, was zu unzulässigen oder unterbrechenden Produkten in der Herstellung und anderen nachgelagerten Prozessen führt. Wenn zu viel Silizium verwendet wird, steigen die Kosten der hergestellten Rollen, verringern die Gewinne und beeinträchtigen in einigen Fällen die Akzeptanz und Leistung des Endprodukts.

Anwendungsbereich

  • Silikon-Freisetzungsbeschichtungsmaschine

  • Konverter - Silikon auf Kunststoff oder Papier

  • Vakuumformkunststoff - Siliziumbeschichtung

  • Spezialkunststoffe

  • Konvertierungsbeschichtung

  • Metallisierter Kunststoff

  • Lackierung auf Metallrollen

  • Flammschutzmittel auf Stoffen