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Guochang wissenschaftliche Instrumente (Suzhou) Co., Ltd.
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Multifunktionales Röntgenabsorptionsspektrometer

VerhandlungsfähigAktualisieren am02/09
Modell
Natur des Herstellers
Hersteller
Produktkategorie
Ursprungsort
Übersicht
Das Multifunktions-Röntgenabsorptionsspektrometer SuperXAFS M9000 unterstützt die Near-Edge-Scan-Funktion und unterstützt die Transmission-/Fluoreszenzmodus-Absorptionsspektrometrie und das Emissionsspektrum.
Produktdetails

Nationale SchädlingeMultifunktionales RöntgenabsorptionsspektrometerDer SuperXAFS M9000


Kernparameter

1. Energiebereich: 4,5-20keV, kann auf 25kev aktualisiert werden

2. Lichtdurchfluss an der Probe: ≥4 × 106Photonen/s @7-9 keV

Energieauflösung: 0,5-1,5 eV@7-9 keV

Energiewiederholbarkeit: ≤30 meV@24h

Genauigkeit des Regelmechanismus: Mindestschrittlänge des Energiescanns 0,1 eV


Arbeitsmodus

1. Unterstützung der Nearby-Scan-Funktion.

2. Unterstützung von Transmission / Fluoreszenzmodus Absorptionsspektrum, Emissionsspektrum.


Funktionen Highlights

1. Anpassen Sie die automatische Sammlung mehrerer Proben an, um die Anzahl der Proben zu reduzieren.

2. Bereitstellung einer Probendatenbank, um die Benutzeranalyse zu vereinfachen.

3. Unterstützt die Anpassung der Szene vor Ort und bietet professionelle Anleitung zur Analyse von Absorptionsspektrumdaten.


Nationale SchädlingeMultifunktionales RöntgenabsorptionsspektrometerDer SuperXAFS M9000


Das Röntgenabsorptionsfeinstrukturspektrometer (XAFS/XES) ist eine nicht-destruktive Technik zur Untersuchung der lokalen Struktur und des Elektronenzustands von Materialien. Diese Technik nutzt die Wechselwirkung von Röntgenstrahlen mit Substanz, um das Near-Edge-Absorption-Spektrum (XANES), das Extended-Far-Edge-Absorption-Spektrum (EXAFS) und das Emissionsspektrum spezifischer Energiebanden für bestimmte Elemente zu erfassen, um den chemischen Zustand und den Preiszustand von Elementen zu analysieren, die Positionsstruktur der lokalen Umgebung um das Atom zu ermitteln und die Klassen von Atomen zu ermitteln, die die Mikropositionsstruktur von kristallinen und nicht-kristallinen Materialien charakterisieren. XAFS/XES wird hauptsächlich für die Analyse des Preiszustands, der Positionsstruktur und des Elektronenzustands von Katalysatoren, Legierungen, Keramiken, Umweltschadstoffen, verschiedenen kristallinen und nichtkristallinen Materialien und Metallionen in Bioproben sowie für die Untersuchung der dynamischen Entwicklung der lokalen Strukturen von Materialien unter Veränderungen der Wärme-, Licht-, Elektro- und Magnetfelder eingesetzt.