MiniSIMS-ToF Sekundär-Ionen-Massenspektrometer für Flugzeit

Die Flugzeitsekundäre Ionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS) ist eine der informativsten Technologien auf dem Gebiet der Oberflächenanalyse. Es bombardiert die Probenoberfläche mit einem pulsierten Ionenstrahl, spritzt Sekundär-Ionen aus und bestimmt die Ionenmasse genau mit einem Flugzeitmassenanalysator. Diese Technologie erlaubt die gleichzeitige Erfassung von Elementen, Isotopen und molekularen Strukturinformationen auf der äußersten Ebene der Probe (Sub-Nano-Tiefe) und ermöglicht die Bildverarbeitung von Bereichen auf Mikron- bis Millimeter-Ebene sowie die Komponentenverteilung in Tiefenrichtung (Tiefenanalyse). Im Gegensatz zu herkömmlichen Elementanalysen bietet ToF-SIMS eine ausgezeichnete Erkennung von organischen und anorganischen Stoffen, insbesondere für die Erkennung von Unbekannten, die Untersuchung von Oberflächenmodifikationen, die Fehleranalyse und die Charakterisierung von Nanofilms.

MiniSIMS-ToF Sekundär-Ionen-Massenspektrometer für FlugzeitEin mit zahlreichen internationalen Auszeichnungen ausgezeichnetes Desktop-Sekundär-Ionen-Massenspektrometer, das von SAI entwickelt wurde. Es integriert SIMS-Fähigkeiten, die traditionell große Ultra-Hochvakuumsysteme erfordern, in ein Desktop-Gerät, mit extrem geringen Anforderungen an Laborflächen und unterstützenden Einrichtungen und bis zu 90% geringeren Untersuchungskosten für einzelne Proben im Vergleich zu herkömmlichen Geräten.

Im Vergleich zu herkömmlichen Quad-Pole-SIMS haben ToF-Analysatoren natürliche Vorteile in Bezug auf Geschwindigkeit, Informationsmenge und Unbekannte. Und MiniSIMS‑ToF bringt diese Fähigkeit* weiter in Desktops mit niedrigen Betriebskosten vor, so dass sich mehr Labor- und Industrieanwender eine echte SIMS-Analyse leisten und davon profitieren können.

MiniSIMS-ToF Sekundär-Ionen-Massenspektrometer für FlugzeitKernvorteile:

1. Mehr Kraft
Unterstützung für statische SIMS (Surface Single Molecular Layer Analysis), Imaging SIMS (Spatial Distribution Visualization) und Dynamic SIMS (Deep Profiling), die eine Vielzahl von Anforderungen abdecken, von der wissenschaftlichen Forschung bis zur industriellen Fehleranalyse.

Flugzeitqualitätsanalysator
Die ToF-Technologie ermöglicht eine quasi-parallele Prüfung, bei der alle Massenzahlen gleichzeitig erfasst werden. Jedes Spektrum, jedes Pixel oder jede Tiefenschicht enthält vollständige Massenspektruminformationen, die nach der Analyse zurückverfolgbar sind und keine unbekannten Komponenten verpassen.

3. Kompaktes Design
Mit einer Fläche von weniger als 0,5 Quadratmetern und einem Gewicht von nur etwa 60 kg kann die gesamte Maschine ohne spezielle Wasserkühlung oder Stromversorgung einfach auf einem normalen Testtisch montiert werden.

4. Schneller Start und hoher Durchsatz
Von der Atmosphäre bis zum Arbeitsvakuum dauern nur wenige Minuten und die effiziente Datenerfassung ermöglicht eine erhebliche Verbesserung der Effizienz der täglichen Analyse, insbesondere für das Screening von Proben mit mehreren Chargen.

5. Unbekannte erkennen
Für Fehleranalysen und Spitzenforschungen ist die Entdeckung unbekannter Komponenten oft ein Durchbruch. MiniSIMS‑ToF ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Entdeckung und Identifizierung unbekannter Verunreinigungen, Rückstände, Zusatzstoffe oder Abbauprodukte.

Typische Anwendungsbereiche

Elektronische Komponenten: Verschmutzungsanalyse von Schweißplatten, Identifizierung von Oberflächenrückständen

Oberflächenbeschichtung: Gleichmäßigkeit der Beschichtung, Schnittstellenanalyse zwischen Schichten

Sensoren: Charakterisierung des chemischen Zustands der empfindlichen Materialoberflächen

Reibung: Schmierstoffmigration, Verschleißoberflächenanalyse

Katalysator: Verteilung der aktiven Komponenten, Untersuchung der Inaktivierungsursachen

Klebstoffe und Folien: Chemie der Klebstoffgrenzfläche, ultradünne Folienzusammensetzung

Biomaterialien: Bewertung der Oberflächenmodifikation von Medizinprodukten

Korrosion und Schutz: Identifizierung von Korrosionsprodukten, Passivierungsfilmanalyse

Bildung: Unterricht und Präsentation der Oberflächenanalyse

Speichergeräte: Magnetkopf/Plattenbeschmutzung