Mini Temperaturprobe

VerhandlungsfähigAktualisieren am10/11

Modell

Natur des Herstellers: Hersteller

Produktkategorie

Ursprungsort

Online Beratung

Übersicht

Elektrische Prüfplattform in situ, geeignet für die elektrische Prüfung von Halbleitermaterialien und Geräten unter Temperaturänderung, kompakt und tragbar integriertes Mikroskop- und Spektralsystem.

Produktdetails

Temperaturbereich -190 ℃ ~ 600 ℃, RT ~ 1000 ℃ Temperaturstabilität ± 0,05 ℃ Atmosphäreschutz, Vakuumprobenbereich 28x30mm Anzahl der Sonden 4 elektrische Anschlüsse BNC Dreichaxiale BNC Optional Tischpotential Erdung Dreichaxiale Rückelektrode Optional Optische Instrumente Mikroskop Spektrometer Eisen Dielektrik Elektrochemische Arbeitsstationen Magnetfeld Elektromessgerät Halbleiteranalyser DLTS

Ähnliches Produkt Empfehlen