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8. Etage, Gebäude B-1, Tiananmen Digital City, Wujin District, Changzhou, Jiangsu
Changzhou Sanfeng Instrument Technologie Co., Ltd.
huangzhiwen@sfmit.com
8. Etage, Gebäude B-1, Tiananmen Digital City, Wujin District, Changzhou, Jiangsu
Umkehrtes Hell-Dark-Field-GoldphasemikroskopDetails zu 4XG:
I. Verwendungszweck
Die 4XG-Serie Forschungs-Umkehrtes Hellfeld-Metallphase-Mikroskop verwendet ein ausgezeichnetes System für unendliche Fernoptik, ein weitwinkeliches Großglas und ein funktionales Designkonzept für unendliche weite Arbeitsdistanzen von Flachfeldobjektiven, um das System zu verbessern, um Polarisationsbeobachtung, Dunkelfeldbeobachtung und andere Funktionen zu erreichen. Der kompakte, stabile und hochsteife Körper verfügt nicht nur über die gleiche Funktion eines wissenschaftlichen großen Metallphasemikroskops, sondern spiegelt auch die Vibrationsschutzanforderungen des Mikroskopbetriebs vollständig wider. Ein ideales Design, das den ergonomischen Anforderungen entspricht, macht den Betrieb bequemer und komfortabler und bietet größeren Raum. Für die mikroskopische Beobachtung von Metallphase-Gewebe und Oberflächenformationen ist es das ideale Instrument für die Metallologie, Mineralogie und Präzisionstechnikforschung. Mikrofotografiekameras und Bildanalysesysteme können konfiguriert werden, um die meisten anspruchsvollen Anforderungen an physikalisch-chemische Analysen und Prüfungen zu erfüllen.
II. Systemzusammensetzung
Forschungsgerichtete Inverted Light Dark Field Metallographic Microscope System ist die Kombination von herkömmlichen optischen Mikroskopen mit Computer (Digitalkamera) durch die optische Umwandlung organisch, kann nicht nur auf der Brille mikroskopische Beobachtung, sondern auch auf dem Computer (Digitalkamera) Display-Bildschirm beobachten in Echtzeit dynamische Bilder, und können die erforderlichen Bilder bearbeiten, speichern und drucken.
Technische Parameter
Brille |
Großes Sichtfeld WF10X (Anzahl der Sichtfelder Φ22mm) |
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Objektive (Unbegrenzte lange Arbeitsdistanz Flachfeld Farbdifferenz Objektiv) |
4XG (mit Objektiv) |
PL L10X/0.25 Arbeitsabstand: 20,2 mm |
PL L20X/0.40 Arbeitsabstand: 8,80 mm | ||
PL L50X/0.70 Arbeitsabstand: 3,68 mm | ||
PL L100X/0.85 (Dry) Arbeitsabstand: 0,40 mm | ||
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4XGE (Beschreibung/Dunkelfeldobjektiv) |
PL L5X/0.12 BD Arbeitsabstand: 9,70 mm |
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PL L10X/0.25 BD Arbeitsabstand: 9,30 mm | ||
PL L20X/0.40 BD Arbeitsabstand: 7,23 mm | ||
PL L50X/0.70 BD Arbeitsabstand: 2,50 mm | ||
Brille |
45° Neigung, Augenaufstandseinstellungsbereich von 53 bis 75 mm. |
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Fokussierungsorgane |
Grobe Mikrodynamische Koaxialfokussierung mit Verriegelungseinrichtung, Mikrodynamikvert: 2 μm. |
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Konverter |
Fünf Löcher (innere Position der Kugel) |
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Laststelle |
Mechanische bewegliche Tragstische, Formgröße: 242mmX200mm, Bewegungsbereich 30mmX30mm. |
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Runde drehbare Tragplattengröße: Maximaler Außendurchmesser Ф130mm, Mindestdurchmesser kleiner als Ф12mm. | ||
Beleuchtungssystem |
6V30W Halogenlampe, Helligkeit einstellbar, für XJL-20 |
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12V50W Halogenlampe, Helligkeit einstellbar, für XJL-20BD | ||
Integrierter Sichtfeld-Lichtpendenz, Apertur-Lichtpendenz und Pullover | ||
Gelbes, grünes und blaues Filterglas | ||
4. Gerätekonfiguration
Hauptausrüstung des Instruments: Instrumentenmaschine, Triokulär, Ausgangsschnittstelle, Unbegrenztes Teleskop, Breitwinkel
Scheiben-Arbeitstisch, Farbfilter, Polarisationsstecker, Lichtquelle-Lichtkastensatz, nationale Standardnetzkabel, Instrument-Staubschutz usw.