Leica EM RES102 Multifunktions-Ionendämpfer

Leica EM RES102 Multifunktions-Ionendämpfer

Probenvorbereitung für TEM, SEM und LM

Die Leica EM RES102 ist eine einzigartige Ionenstrahlschleifmaschine mit zwei sattelförmigen Ionenquellen mit einstellbarer Ionenstrahlenergie für optimale Ionenschleifergebnisse.

Dieses eigenständige Desktop-Gerät umfasst TEM-, SEM- und LM-Probenvorbereitungsfunktionen, die sich von anderen Geräten auf dem Markt unterscheiden. Neben dem hochenergetischen Ionenschleifen

Zusätzlich zur Funktionalität kann der Leica EM RES102 auch bei energiearmen, extrem milden Ionenstrahlschleifprozessen eingesetzt werden.

› Ein- oder doppelseitiges Ionenstrahlschleifen eignet sich für die Ionenstrahlverdünnung von Materialien. Die sadelförmige Ionenquelle kann eine große transparente dünne Zone des Elektronenstrahls erhalten.

› Programmierte Steuerung der Änderung des Ioneneintragswinkels, geeignet für die Fertigstellung spezieller Probenbereitungszwecke, wie z. B. die Reinigung von FIB-Proben, um amorfe Nichtkristallschichten zu reduzieren.

› Ionenstrahlpolierung Der maximale Polierbereich beträgt bis zu 25 mm.

› Die Ionenstrahlenreinigung eignet sich für die Reinigung von Verunreinigungsschichten der Probenoberfläche oder von Auftragsschichten, die nach dem mechanischen Polieren der Oberfläche entstehen.

› Verbesserung der Oberflächenverleitung der Probe, die chemische Gravur ersetzen kann.

› 35° Steigungsschneiden zur Herstellung von Schnitten für mehrlagige Proben.

› 90° Steigungsschneiden wird zur Herstellung von Halbleiterproben oder Montageanordnungen für Verbundstrukturen verwendet, so dass eine minimale mechanische Vorbearbeitung erforderlich ist.

- Es liegt an Ihrer Wahl.

Um die unterschiedlichsten Anwendungsanforderungen zu erfüllen, kann der Leica EM RES102 eine Vielzahl von Probenständen für die TEM-, SEM- und LM-Probenvorbereitung montieren. Vorrauchraum

Das System ermöglicht einen schnellen Probenaustausch, wodurch die Effizienz des Probenaustausches effektiv verbessert werden kann.

Dieser Probentasch eignet sich für die Reinigung, Polieren und Verstärkung der Ionenstrahlen von SEM- und LM-Proben und kann bei Umgebungstemperatur oder LN2-Kühlung verwendet werden. SEM Probenstand

Proben mit einer maximalen Größe von bis zu 25 mm können hergestellt werden. Der Adapter dient zur Festlegung eines SEM-Probensitzes in der kommerziellen Produktion mit einer 3,1 mm Durchmesserstücke.

Der Steigschneidtesch eignet sich zum Schneiden von Proben mit Längenschnitt (90°) oder Schrägschnitt (35°), um die SEM-Beobachtung der inneren Längenstruktur der Probe zu erleichtern und kann bei Umgebungstemperatur oder LN2-Kühlung verwendet werden. SEM clamp holder to hold small sampleswith maximal dimensions of 5(H) x 7(W) x2(T)mm.This holder can be easily transferredto the SEM without removing the sample.TEM Sample Holder (Quick ClampHolder)for single and double-sided low angle millingdown to 4 °.

Der Dünnplattenprobentisch dient zur Aufnahme von Proben mit einer maximalen Größe von 5 (H) × 7 (W) × 2 (D) mm. Der Probenstand kann bequem direkt in die SEM übertragen werden, ohne dass eine Probe abgenommen werden muss.

Produkte.

TEM-Probenklammer zur einseitigen oder zweiseitigen Ionenstrahlverdünnung mit einem Verdünnungswinkel von bis zu 4°.

TEM-Gefrierprobenverrichtungen werden in Verbindung mit LN2-Kühlgeräten zur Herstellung temperaturempfindlicher Proben verwendet.

Die FIB-Reinigungsproben werden zur Reinigung von FIB-Proben verwendet, um die Oberflächenförmigkeit der nicht-kristallinen Schichten zu reduzieren.

Die Leica EM RES102 ermöglicht die Ionenstrahlverdünnung, Reinigung, Schnittschneiden, Polieren und Verbesserung der Auskleidung von Proben, die Ihre Anwendungsanforderungen an Vielfalt und Bequemlichkeit erfüllen.

› 19" Touchscreen-Computer-Steuereinheit zur Überwachung und Aufzeichnung des Probenaufnahmeprozesses

› Integrierte Anwendungsparameterbibliothek

› Programmierte Probenparametereinstellung zur Beschleunigung der Lernkurve für Anfänger

› Hilfedateien für Anfänger und Wartung von Geräten

Effizient/kostensparend

TEM, SEM und LM Anwendungsfunktionen in einem

› Die TEM-Probenvorbereitung erhält eine große dünne Fläche, die die TEM-Probenvorbereitungseffizienz effektiv verbessert

› SEM Probenbereitung mit bis zu 25 mm Probendurchmesser

› Vorpumpkammersystem ermöglicht einen schnellen Probenaustausch, reduziert Wartezeiten und gewährleistet ein kontinuierliches hohes Vakuum im Probenraum

› Lokalnetzfunktion für einfache Fernbedienung

› Der Probentasch LN2 ermöglicht das Ionenschleifen von temperaturempfindlichen Proben unter optimalen Bedingungen

Sicherheit

› Präzise automatische Beendigung für optische Beendigung oder Faraday Cup-Beendigung von transparenten Proben

› Live-Bilder oder Videos können während der Probenaufnahme von Zeit zu Zeit gespeichert werden

› Ionenquelle- und Probenbewegungsmotorantrieb, programmierte Steuerung für wiederholte Probenergebnisse