Leica DM3 XL Prüfsystem für Mikroelektronik und Halbleiter

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In der Mikroelektronik- und Halbleiterindustrie ist die Geschwindigkeit der Prüfung, der Prozesssteuerung oder der Fehler- und Fehleranalyse entscheidend. Je schneller Sie Mängel erkennen, desto schneller reagieren Sie. Das DM3 XL Inspektionssystem hilft Ihrem Team mit einem großen Sichtfeld, Mängel schneller zu erkennen und Ihre Erträge zu steigern. Nutzen Sie das einzigartige Makroobjektiv mit 30% weitem Sichtfeld.

Produktdetails

Mehr Details und mehr Effizienz

Mehr Details zu sehen bedeutet, dass Sie effizienter arbeiten. Zum schnellen Scannen großer Komponenten bis zu 6" bietet das DM3 XL ein einzigartiges Makroobjektiv.

Mit einer 0,7-fachen Vergrößerung erfasst es sofort ein Sichtfeld von 35,7 mm – 30 Prozent größer als andere herkömmliche Scanobjektive.

Unter dem Makroobjektiv ist der Fehler unverformt:

Steigern Sie Ihre Rendite
Zuverlässige Erkennung von unzureichend dargestellten Bereichen am Rand oder in der Mitte des Chips
Erkennung ungleichmäßiger Radialmembrandicken

LED für alle Phasenbeobachtungsmethoden

DM3 XL verwendet LED-Beleuchtung für alle Phasenbeobachtungsmethoden. LED-Beleuchtung bietet eine konstante Farbtemperatur und eine echte Farbbildung bei allen Helligkeitsstufen.

Echte Farbbildung bei allen Helligkeitsstufen

Freie Regulierung
Kein Ersatz der Glühbirne – keine Ausfallzeiten
Kopierbare Ergebnisse

Aufgrund der langen Lebensdauer und des geringen Stromverbrauchs hat die LED auch ein großes Kosteneinsparungspotenzial.

Optische "Meister"

Mit dem DM3 XL können Sie zu einem erschwinglichen Preis eine hervorragende optische Leistung genießen.

Inspektion von Seiten, Rändern oder Schuppen mit Schrägbeleuchtung: Einfache und effektive Beleuchtung der Probe aus verschiedenen Winkeln, um verschiedene Formen zu visualisieren.
Nachweis kleiner Kratzer oder kleiner Partikel in den unteren Schichten der Probe durch den Tieffeldkontrast.

Sie werden von einer deutlich erhöhten Empfindlichkeit und Auflösung schockiert sein.

Verschiedene Proben – Plugin für variable Tragstelle

Unabhängig von der Art und Größe der Probe, die Sie prüfen möchten, gibt es eine große Auswahl an Ladestation-Plugins zur Auswahl:

Größe: 150 mm x 150 mm
Stecker: Metall-Stecker, Chip-Halter oder Maskenhalter
Schnelle, grobe oder präzise Positionierung der Tragstelle

Arbeitskomfort und Intuitivität

Farbkodierte Blendenassistenz (CCDA) vereinfacht die grundlegenden Einstellungen für Auflösung, Kontrast und Bildtiefe, um Ihre Arbeit zu beschleunigen und Betriebsfehler zu minimieren.

Die intuitiven Funktionen helfen Ihrem Team, schneller die besten Ergebnisse zu erzielen.

Dank der einfach bedienbaren Bedienung kann der Benutzer das Mikroskop weiterhin mit den Händen bedienen, während er den Kontrast oder die Beleuchtung wechselt und sich auf die Probe konzentriert.
Einfache Bedienung des Lichtreglers mit der rechten Hand
Anpassung des Mikroskops an die unterschiedlichen Höhen mit variablen Ergonomie-Spiegeln und Fokusknopfen

~ Für weitere Produktdetails rufen Sie bitte 021-80109380 an ~

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