Leco Lichtspektrum

Leco LichtspektrumDie Kombination von Glitzer-Entladungs-Ionenquellen und einem Dual-Fokus-hochauflösenden Massenanalysator ermöglicht die qualitative und quantitative Analyse fast aller Elemente in einer festen Probe, einschließlich C, N und O, durch eine direkte und schnelle Analyse des Magazininhalts der hochreinen Probe und der Beschichtungsmaterialelemente.Werkzeuge.

Leco LichtspektrumDefinieren Sie neue Maßstäbe für die direkte Analyse hochreiner Materialien in Feststoffen. Durch die Minimierung der Kalibrierungs- und Probenvorbereitungsvorgänge können die Probenanwendungen erhöht und ultraniedrige Prüfgrenzen erreicht werden, wodurch GD-MS für Anwendungen der Metallanalyse und der Tiefenprofilierung geeignet ist.
Keramik und mehrere andere nicht leitfähige Pulver werden mit einer Sekundärelektrode analysiert, die das gleiche Niveau an Empfindlichkeit und Datenqualität liefert. Dies macht GD-MS zu einer zuverlässigen Standardmethode für die Spurmetallanalyse.
Fast alle Elemente, die in festen Proben vorhanden sind, können routinemäßig nachgewiesen und quantifiziert werden: Viele Elemente enthalten weniger als Milliardenpartitionen (ppb).
µs pulsierte Hochstromgeschwindigkeits-Glänzerentladungsbatterie
Hochempfindliche Ionenquelle mit Impulsentladungsmodus
Breite einstellbare Spritzraten für schnelle ganzheitliche Analysen und erweiterte Tiefenprofilierungsanwendungen
Aluminiumpulveranalyse mit Sekundärelektroden
Doppelfokussiertes Massenspektrometer
Hohe Ionentransmittlungsrate und niedriger Hintergrund ermöglichen ein Signalräuschverhältnis unter ppb
Hochwertige Auflösung bietet Zui ein hohes Maß an Selektivität und Genauigkeit: Voraussetzung für die Analyseergebnisse Ja*
Automatische Prüfsysteme in zwölf Größengruppen
Messung von Substraten und Supersporenelementen in einer Analyse mit einem vollautomatischen Detektor, der einen dynamischen linearen Bereich von 12 Größengraden abdeckt
Direkte quantitative Bestimmung der IBR (Ionenstrahlverhältnis) der Matrix-Elemente
Hocheffiziente und einfach zu bedienende Softwarepakete
Alle Parameter werden vom Computer gesteuert.
Vollautomatische Abstimmung, Analyse und Datenbewertung
Automatische LIMS-Konnektivität
Fernsteuerung und Diagnose
für Windows 7
Die Umlaufzeit der Probe ist in der Regel weniger als 10 Minuten.
Fähigkeit, Matrix-Elemente bis zu Super-Spurenelementen in einer Analyse zu bestimmen
Tiefenanalyse mit Schichtdicken von Hunderten von Mikron bis zu einem Nanometer
Kleine Chemikalieneffekte zur direkten Quantifizierung