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Hangzhou Daji Optoelektronische Instrumente Co., Ltd.
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Blattflächenanalysemesser (normal)

VerhandlungsfähigAktualisieren am02/07
Modell
Natur des Herstellers
Hersteller
Produktkategorie
Ursprungsort
Übersicht
Blattflächenanalysemesser (üblich) werden für die Flächenanalyse von Pflanzenblatten usw. verwendet.
Produktdetails

1, mit Windows-System-Tablet (≥11,6 "/4G-Speicher/64G-Festplatte/5 Megapixel-Fotoaufnahme/Unterstützung für WIFI-WLAN), 10000mAH 12V mobile Stromversorgung unterstützt Hintergrundbeleuchtung Platte, kann im Freien Hintergrundbeleuchtung für 3 Stunden. Die maximale Messfläche ist A4 mit automatischer Kalibrierung und automatischer Bildkorrektur.

2, fotografieren und analysieren Sie die Operation mit einem Klick, eine große Menge voller automatischer Analyse der Blattfläche, Umfang, maximale Blattlänge, maximale Blattbreite, Rechteckgrad, Konvolutionsverhältnis, Kugelförmigkeit, Formkoeffizient, Anzahl von Wurmlochen, Wurmlochbereich, Blattgrifflänge und andere Parameter von mehreren Blättern und markieren Sie den Blattrand, um die Richtigkeit zu überprüfen.

3, kann das Blatt kleiner als 1 mm ^2 analysieren, Analysefehler <0,5%, Analysezeit in der Messung <2 Sekunden, automatisch unabhängig von den einzelnen Blatten markieren und das Diagramm speichern, können die Analyseergebnisse in die Excel-Tabelle ausgegeben werden.

4, kann automatisch die Kornlänge, Kornbreite und Projektorbereiche von normalen Samen wie nicht berührtem Reis, Weizen und Melonen bestimmen.