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Shenzhen Pengfenglian Industrial Co., Ltd
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KSI V450E Ultraschall-Scannmikroskop Messbar Schichtweise Löcher

VerhandlungsfähigAktualisieren am01/16
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KSI V450E Ultraschall-Scannmikroskop Messbar Schichtig Löcher Mehrschichtiges messbares Akustikmikroskop, auch als Ultraschall-Scannmikroskop bezeichnet, zur Erkennung von Fehlern in der Innenschicht, Löchern, Rissen und anderen in verschiedenen Geräten KSI V450E Ultraschall-Scannmikroskop Messbar Schichtig Löcher

Produktdetails

KSI V450E Ultraschall-Scannmikroskop Messbar Schichtweise Löcher
KSI V450E Ultraschall-Scannmikroskop Messbar Schichtweise Löcher
Scanakustikmikroskop

Scan-Akustikmikroskop, Englisch für Scanning Acoustic Microscope, auch bekannt als Ultraschall-Scan-Mikroskop, zur Erkennung von Fehlern in der Innenschicht, Löchern, Rissen und anderen in verschiedenen Geräten.




KSI v300E Hochpräzises Scanakustikmikroskop

KSI V450E 超声波扫描显微镜可测 分层 空洞

1) Scannen von Maschinen

(1) XundundDie Achsen werden von hochpräzisen Magnetfestigungsmotoren angetrieben

(2) XundundMaximaler Scanbereich auf einmal: 300mm x 300mm

(3) XundundAchsenMindestscannstrecke: 0,2 mm x 0,2 mm

(4) Maximale Scangeschwindigkeit:2000mm/sMaximale Scanbeschleunigung30 m/s2

(5) XundundWiederholungsgenauigkeit des Achsenscanns ±0,1 um

(6) ZDie Achse ist ein hochpräziser selbstverriegelter Schrittmotor mit maximalem Strom:100 mm

(7) ZWiederholungsgenauigkeit des Motors: ± 0.25μm

2) Scanmodus

(1) Punktwellenform(A-Scan)

(2) Autopsie Scan(B-Scan)

(3) Querschnittsscan(C-Scan)

(5) Mehrschichtige Querschnittsscans mit gleichzeitigem Intervall(X-Scan)

(6) Benutzerdefinierte Querschnittsscans mit mehreren Schichten zur unabhängigen Einstellung von Parametern wie der Dicke verschiedener Schichten

(7) Transmissionsscan

(8) Sequenzscan, Tray-Scan, Qualitätsscan, Surface Tracking-Scan, Hologramm-Scan (physischer Scan)

(9) andere

3) Empfänger und Umrichter von Pulssignalen

(1) Scan-Arbeitsmodus: Einkanal-Arbeitsmodus

(2) Bandbreite des Pulssignal-Transceivers:5 MHz~550MHz

(3) Gesamtgewinn:150 dB

4) Hauptfunktionen

(1) Testen von internen Mängeln des getesteten Werkstücks, wie Löcher, Schichten, Risse, Fremdkörper usw.;

(2) Scannen von Bildvorlagen für einen einfachen Zugang zu parametrisch konsistenten akustischen Mikrobildern;

5) Andere Indikatoren

(1) Bildformat speichern:JPG-DateienundBMPmit TIFF,SAM;

(2) Maximale Bildabtastpixel:32000×32000Pixel Die Bildauflösung oder die einzelne Pixelgröße kann angepasst werden und die verwendete Bildauflösung wird vom Gerät automatisch berechnet

6) Liste der Konfigurationen und Zubehör

(1) Der KSI v300EGastgeber 1Plattform

(2) Sonde: Je nach Bedarf können Sie frei wählen.200Viele Sonden

① 15MHzSonden;

30MHz Sonde;

③Andere Vereinbarungen200Viele Sondenmodelle;

(3) Computersysteme 1Set

⑦IntelKerni5Mehrkernprozessor

⑧128GBFestplatte+1000 GBMechanische Festplatte

⑨16 GBSpeicher

⑩2ein27Zoll-Display

11 OriginalWindows 10 von MicrosoftBetriebssystem (eingebaut)

12 Tastatur und Maus

13 Ksi VisionHost-Steuerung Scan-Software

14 Fernwartungssoftware

(4) Die übrigen Teile des Instruments sind wie folgt

①Motorantrieb 3einer;

②Ultraschallsignalgeneratoren und -empfänger 1einer;

③大理石防震平台;

④Ultraschallsignal-Vorverstärker 1einer;

⑤Spüle 1ein

⑥Automatischer Ablauf 1ein

⑦Trockene Handtücher 1Artikel

(5) Zubehör, Verbrauchsmaterialien, Verschleißteile:

①Zufälliges Zubehör: Benutzerhandbuch usw.

②Alles.Kabel undSonden gehören zu verschleißbaren Teilen,1MonatNichtmenschliche Schäden können ersetzt werden.




KSI v450E Großer Ultraschalldetektor mit hoher Auflösung

KSI V450E 超声波扫描显微镜可测 分层 空洞



Der neue KSI v450EScannenakustisches Mikroskop für DBCPlatte, IGBT-Modul, Solarpanel, Multiwaferund andereGroße Probeninspektionen.Das neuev450Ekombiniert KSI's unvergleichlicheHochgeschwindigkeitsscanningund einzigartige Schwingungsentkopplung Granit Design mit einemextra großer Scanbereich von 450mm x 450mm.Mit demKSI v450E einfache Handhabungundschnelle Bewertungvongroße Größe Probenist garantiert.



Schlüsselfunktionen des KSI v450E:

• Extra großes 450mm x 450mm Scanfeld für DBC-Substrat / IGBT-Modul / PCB

• Extra verdickte Marmorbasis und vertiefter Wassertank erleichtern die vollautomatische und halbautomatische Prüfung von DBC-Substraten und IGBT-Modulen

• Neues hoch ergonomisches, benutzerfreundliches Design mit breiter Abdeckungsöffnung für einfache Handhabung großer Proben

• Perfekt geeignet für große Probeninspektionen einschließlich DBC, IGBT, Leiterplatten, Solarpanel, Multiwafer und alle anderen großen Größen und Standardanwendungen



Gleichzeitiges Multi JEDEC Tray ScanningFür alle Standards.

• Alles-in-einemScannenakustisches Mikroskop zur Inspektion von PCB, Multiple Jedec, Flip Chip, gestapelten DIE, DBC, IGBT, Multiwafer, MLCC, Solarzellen und anderen Halbleiter- sowie Materialwissenschaftlichen Anwendungen

• Ausgleichsloses Vibrationsentkopplungs-Granitdesignund Hochgeschwindigkeits-Linearantrieb mit max. BewegungGeschwindigkeit 2.000 mm/sund maximalBeschleunigung 30.000 mm/s²

• Einzigartiger FCT™ (Fluid Cut Technology) Wandler



Verfügbare Optionen:

• Kundenspezifische Tray-Befestigung für alle Anwendungen (Wafer, jedec, BGA, DBC, IGBT, Flip Chip etc.)

• Konstante KupplungsflüssigkeitsqualitätmitDI-WasserauffüllgerätundWasserreinheitskontrolle

• BeseitigungvonVerschmutzungen und Gasblasen in KupplungsflüssigkeitfürHöchste Bildqualität und stabiler Scanprozess

• AutomatisierungvonProbenpositionierung, Scanprozess, Ausfallerkennung, Analyse & Quantifizierung



IP-holding GmbH, Walther-Rathenau-Str.18, 35745, Herborn, Deutschland.


KSI V-quattro Viersonde Ultraschallscannmikroskopsystem


KSI V450E 超声波扫描显微镜可测 分层 空洞

Multitasking-System - 4-Sonden-Ultraschall-Scan-Mikroskop-Analysesystem

Vier Sondensystem mit 4 Wandlern gleichzeitig
Maximale Scangeschwindigkeit: 2000 mm/s
30% höhere Scaneffizienz im Vergleich zu anderen Marken
Maximaler Scanbereich: 1000mm x 700mm
- Mindestscannbereich: 200μm x 200μm
Bandbreite: 550MHz
Maximale Vergrößerung: 250mal
Der neue FCT-Wandler

KSI V-duo Doppelsonde Ultraschallscannmikroskopsystem

KSI V450E 超声波扫描显微镜可测 分层 空洞

Doppelsonde-Ultraschall-Scan-Mikroskop-System mit 2 Wandlern gleichzeitig
Maximale Scangeschwindigkeit: 2000 mm/s
30% höhere Scaneffizienz im Vergleich zu anderen Marken
Maximaler Scanbereich: 700mm x 600mm
- Mindestscannbereich: 200μm x 200μm
Bandbreite: 550MHz
Maximale Vergrößerung: 625 Mal
- Neue Transformatoren

KSI V-Octo 8-Sonden-Ultraschallscannmikroskopsystem

KSI V450E 超声波扫描显微镜可测 分层 空洞

Großes 8-Sonden-Ultraschall-Scan-Mikroskop-Analysesystem

Das System verwendet gleichzeitig acht Wandler, um eine schnelle Bilderfassung und eine hohe Leistung zu gewährleisten.
Maximale Scangeschwindigkeit: 2000 mm/s
30% höhere Scaneffizienz im Vergleich zu anderen Marken
Maximaler Scanbereich: 1000mm x 700mm
- Mindestscannbereich: 200μm x 200μm
Bandbreite: 550MHz
Maximale Vergrößerung: 250mal
- Neue Transformatoren