Jupiter Discovery Atomkraftmikroskop

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Das Jupiter Discovery Atomkraftmikroskop (AFM) bietet erhebliche Vorteile in Bezug auf Leistung und einfache Bedienung. In Forschung und industriellen Anwendungen streben Forscher allgemein nach zuverlässigen Prüfdaten, die den Betriebsprozess vereinfachen. Die aktuellen Entwicklungen in der AFM-Technologie stellen höhere Anforderungen an die Messgenauigkeit, und die Anwender müssen eine detaillierte Beobachtung im Nanoskala ermöglichen und die Genauigkeit, Stabilität und Effizienz der Messergebnisse sicherstellen. $r$nJupiter Discovery ist gezielt optimiert, um die Leistungsfähigkeit der Erkennung zu verbessern

Produktdetails

Innovationen AFM-Technologie für die Prüfung großer Proben

lUltrahochauflösende Bildgebung

lHochleistungsbildgebung

Optimieren Sie Ihre Arbeitsabläufe und verbessern Sie Ihr Benutzererlebnis

lVorinstallation der Sonde

lTop- und Sideview-Doppel CCD-Systeme

lIntelligent FFM - Topografie

Zubehörrich und skalierbar

lViele Zubehör verfügbar

lWeitere Funktionen erweitern

Innovative DesignkonzepteErhöhung der vertikalen und horizontalen Auflösung

lOptimierte StrukturgestaltungEffektiv verbessert die Steifigkeit des Systems und verringert die Auswirkungen des Wärmedrifts mit einem Geräuschpegel unter 25 Uhr.

lAusgezeichnet Die LVDT-Positionssensortechnologie reduziert den Systemgeräusch erheblich und hält langfristig stabile, hochauflösende Messungen bei, wodurch die Notwendigkeit wiederholter Kalibrierungen reduziert wird.

Erhöhte Testeffizienz

lOptimierte elektronische und mechanische BandbreitendesignDie Scangeschwindigkeit ist im Vergleich zu herkömmlichen Atomkraftmikroskopen mit großen Proben deutlich verbessert, während die Kompatibilität mit verschiedenen Arbeitsmustern und Zubehör beibehalten wird.

lHochgeschwindigkeits-Scan verkürzt nicht nur die AufnahmezeitAuch die Anwendungsmethoden wurden erweitert. Diese Funktion ermöglicht umfangreiche Probenprüfungen mit hoher Auflösung und ermöglicht eine vollständige Charakterisierung größerer Proben mit Multi-Zone-Spleiztechnik.

Vereinfachung der Arbeitsabläufe

lVormontierte SondenentwicklungVereinfachen Sie den Sondenwechselprozess.

lVollautomatisierte Einstellungen reduzieren manuelle Betriebsschritte erheblichTippen Sie mit der Maus, um die Parameteroptimierung abzuschließen.

lAusgestattet mit optischem MehrwinkelbeobachtungssystemZwei CCD-Systeme mit Seitenbeobachtung und HD-Vertikalbeobachtung ermöglichen eine schnelle Positionierung des Erkennungsbereichs.

Einfache Bedienunghohe Benutzerfreundlichkeit

lIntelligente ArbeitsabläufeAutomatische Parametereinstellung und Datenerfassung

lAlle Betriebsmodi folgen einem einheitlichen Designkonzept und führen den Anwender durch automatisierte Prozesse durch die Konfiguration. Das System automatisiert den gesamten Prozess im Rahmen der technischen Machbarkeit für die Teile, in denen menschliches Eingreifen erforderlich istEs bietet ausführliche Bedienungsunterstützung, um sicherzustellen, dass der Bediener den Betrieb reibungslos durchführt.

Intelligenter Autopilot-Algorithmus zur Verbesserung der Betriebseffizienz

lDie AutoPolit-Funktionen konzentrieren sich auf die Optimierung der grundlegenden Bildgebung für den Tap-Modus und den neuen FFM-Topography-Modus, während andere erweiterte Modus erheblich vereinfacht wurden. Selbst fortschrittlichere Modelle wie das Leitungsatommikroskop (CAFM), das Kelvin-Sondenmikroskop (KPFM), das Pressoelektrische Mikroskop (PFM) und das Scannenkapazitativmikroskop (SCM) können jetzt ohne umfangreiche Erfahrung einfach verwendet werden.

Automatisierung mehrpunktiger wiederholter Prüfprozesse

lAutomatisiertes Testmodul zur Konfiguration differenzierter Scan-Szenarien an vorgegebenen Probenkoordinatenpositionen für die industrielle Qualitätsprüfung(QA/QC), Inklusive der Qualitätsüberwachung des Wafer-Ablagerungs-/Ätzprozesses und der Profilanalyse der Oberfläche. Auch die Automatisierung wiederholter Versuchsprozesse in wissenschaftlichen Szenarien wird unterstützt, die in Kombination mit der High-Speed-Scan-Technologie auf die systematische Prüfung großer Proben skalierbar ist.

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