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E-Mail-Adresse
michael.han@sypht.com.cn
- Telefon
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Adresse
Kechuang Park, Wujiang Distrikt, Suzhou, Provinz Jiangsu
Produktkategorien
Safet Wissenschaftliche Instrumente (Suzhou) Co., Ltd.
Japanische Elektronik SEM
VerhandlungsfähigAktualisieren am01/30
- Modell
- Natur des Herstellers
- Hersteller
- Produktkategorie
- Ursprungsort
Übersicht
JSM-IT510 InTouchScope SEM ist nicht nur ein unverzichtbares Werkzeug für wissenschaftliche Forschungsarbeiten, sondern auch für Fertigungsanlagen, die eine Qualitätskontrolle erfordern*. In diesen Szenarien muss der Benutzer dieselben Beobachtungsvorgänge wiederholen, sodass die schnelle Ausführung dieser Vorgänge zur Verbesserung der Produktivität beiträgt. Mit der neuen „einfachen SEM“-Funktion des JSM-IT510 können Benutzer „manuelle Wiederholungen“ übergeben, die für SEM-Beobachtungen erforderlich sind, um SEM-Beobachtungen effizienter und einfacher durchzuführen.
Produktdetails
Wasser NEU Japanische Elektronik SEM
Wählen Sie einfach das Zielhorizont "Einfache SEM" zur Unterstützung der täglichen Arbeit.
Probe: Elektronische Komponenten
Beschleunigungsspannung: 15 kV, Verstärkungsmehrfach: 50 x 1.000 (obere) x 1.000 (untere), Signal: BE
JSM-IT510 InTouchScope™Japanische Elektronik SEMProbenaustauschnavigation
Von der Führung zum Probenaustausch bis zur automatischen Beobachtung ist es einfach!
1. Einrichten der Probe nach der Navigationsanleitung
Messung der Probenhöhe
2. Vorbereitung zur Vakuumbeobachtung
*1 Das Probentasch-Navigationssystem (SNS) ist optional
*2 Das Navigationssystem SNSLS ist optional
*3 Probekamera (CS) ist optional
Automatischer Start der Beobachtung
Automatische Bildgebung nach Vakuum
ZeromagJSM-IT510 InTouchScope™Japanisches ElektronenmikroskopEinfache nahtlose Konvertierung zwischen optischen und SEM-Bildern
Zeromag-Funktionen vereinfachen die Navigation und ermöglichen einen nahtlosen Übergang von optischen Bildern zu SEM-Bildern.
SEM、 Optische Bilder und Probenstanddiagramme sind alle miteinander verknüpft, um eine globale Ansicht über den Analyseport zu erhalten.
Probe: Chrysanthemum Fossil Beschleunigungsspannung: 7kV Signal: BE
Echtzeit-Analyse/Echtzeit-Bootchart*2
1. SEM Beobachtung während der Beherrschung der Zusammensetzung der Elemente der Region
Echtzeitanalyse ist eine Funktion, die während der Bildbeobachtung ein EDS-Spektrum oder ein Elementdiagramm in Echtzeit anzeigt. Diese Funktion unterstützt die Suche nach Zielelementen und bietet Warnungen.
Einfache Analyse mit bis zu 3 Klicks zur EDS-Analyse
Viele erweiterte Optionen
Neuer Low Vacuum Hybrid Secondary Electronic Detector (LHSED) *
Der neue Detektor erfasst elektronische und photonische Signale und liefert Bilder mit hohem Signal-Rausch-Verhältnis und verbesserten Profilinformationen
2.NEW Echtzeit 3D Neue Multi-Directional Split BE Detector * erhaltene Bilder können als Echtzeit-3D-Bild angezeigt werden.
Selbst wenn die Probe eine feine Oberfläche aufweist, kann Echtzeit-3D sie intuitiv deutlich darstellen und Informationen über ihre Tiefe erhalten.
Probe: Schraubenbeschleunigungsspannung: 15kV Verstärkungsmehrfach: x100 Signal: BE
3. Montage
Mit der Montagefunktion werden Bilder mit mehreren kleinen Sichtfeldern automatisch aufgenommen und in ein Bild mit einem größeren Sichtfeld zusammengefügt.
Probe: Chrysanthemum Fossilien
Beschleunigungsspannung: 15kV Verstärkungsmehrfach: x150 Signal: BE Anzahl der Sichtfelder: 13 x 13
Anzeige der Signaltiefe
Diese Funktion zeigt in Echtzeit die Analysetiefe (ungefähre Zahlen) der gemessenen Probe an und ist für die Elementanalyse sehr nützlich.
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