Japanisches Elektroskop IT210

Die Datenerfassung ist einfach!

JSM-IT210 ScannelektroskopEs ist das kleinste japanische Elektronenmikroskop.

5-Achs-Motorantrieb macht den Betrieb ruhiger und schneller; Dank des „Simple SEM“ können Sie die Mikrozonen automatisch beobachten und analysieren.

Der JSM-IT210 ist ein kompakter, unbemannter SEM der neuen Generation.

Hauptmerkmale

1. Sichere und einfache Probenaustauschnavigation

① Folgen Sie den Navigationsanweisungen in die Probe

② Vorbereitung der Beobachtung mit dem Pumpenvakuum

Automatische Beobachtung starten

2. Ohne optische Vergrößerung des Bildes, SEM wie "Zeromag"

"Zeromag" ist eine Funktion zur Verknüpfung von Prüfstand-Diagrammen, optischen Bildern und SEM-Bildern, die bei der Platzierung mehrerer Proben auf dem Prüfstand oder bei der Beobachtung einer bestimmten Position leicht die zu beobachtenden Bereiche finden.

3. Elementaranalyse in Echtzeit während der Beobachtung „Live Analysis“

Die „Live Analyse“ ist eine Funktion, die in Echtzeit charakteristische Röntgenstrahlen und die Elementoberflächenverteilung anzeigt, um während der Beobachtung Zielelemente zu finden.

4. Bunte automatische Testfunktionen "Simple SEM"

"Simple SEM" ist eine Funktion, die automatisch aufnimmt, indem man einfach den Beobachtungsbereich einstellt.

5. Leistungsstarke Unterstützung für automatische Tests

Ein hochpräziser Probentasch ermöglicht die automatische Prüfung. Die Verbesserung der Positionsgenauigkeit des Probenstands macht kontinuierliche Tests und automatisierte Tests mit mehreren Punkten praktischer.

6. Standardausrüstung 60 mm²Großkaliber EDS für schnellere Analyse

* Spektren mit der gleichen Qualität wie herkömmliche EDS können in kurzer Zeit erzielt werden, während Multipoint-Analysen effizient durchgeführt werden können.

* Wärmeempfindliche Proben können auch mit Sicherheit getestet werden

Die herkömmliche EDS-Technik erfordert einen hohen Strom für die Analyse und kann bei wärmeempfindlichen Proben durch thermische Schäden deformiert werden, was die Analyse der Oberflächenverteilung beeinflusst.

60 mm²Mit EDS kann die Oberflächenverteilung des Elements durch die Reduzierung des strahlenden Stromstroms erzielt werden, wodurch thermische Schäden reduziert und analysiert werden können.

* Das Scannelektroskop JSM-IT210 ermöglicht eine klare Elementoberflächenverteilung auch in kurzer Zeit

60 mm²Die EDS-Messung dauert nur eine Minute und kann auch eine ausreichend klare Elementoberflächenverteilung erhalten.