Zweites Ionen-Massenspektrometer für Flugzeit

* Ionenstrahltechnologie für hohe räumliche Auflösung

Das PHI nanoTOF3 bietet eine hochwertige und räumlich hochauflösende TOF-SIMS-Analyse: Die räumliche Auflösung beträgt 500 nm bei hoher Qualität und 50 nm bei hoher Raumauflösung.

Impulsstrahlflecken bei hoher räumlicher Auflösung besser als 50 nm

Triple Ion Focusing Time-of-Flight (TRIFT)

- Dreifach Ionenstrahlfokussierter Massenanalysator

Breitbanddurchgangsenergie, Wide-Stereo-Empfangswinkel

- Geeignet für die Analyse verschiedener Form-Proben

Sekundäre Ionen, die durch den Haupt-Ionenstrahl angeregt werden, fliegen in unterschiedlichen Winkeln und Energien von der Probenoberfläche aus, insbesondere bei Proben mit Höhenunterschieden und unregelmäßigen Formen, auch wenn dieselben Sekundäre Ionen im Analyzer Flugzeitunterschiede aufweisen, was zu einer schlechten Massenauflösung führt und die Spektrospichform und den Hintergrund beeinflusst.

Der TRIFT-Massenanalysator korrigiert sowohl den Sekundär-Ionen-Emissionswinkel als auch die Energie, um eine konsistente Flugzeit für die gleichen Sekundär-Ionen zu gewährleisten, so dass TRIFT die Vorteile einer hohen Qualitätsoplösung und einer hohen Erkennungsempfindlichkeit berücksichtigt, um den Schatteneffekt bei der Bildgebung ungleichmäßiger Proben zu reduzieren.

Neues vollautomatisches Probenvertragssystem

Das PHI nanoTOF3 verfügt über ein vollautomatisches Probenförderungssystem, das auf der XPS Q-Serie ausgezeichnet funktioniert: Maximale Probengrößen von bis zu 100 mm x 100 mm und ein integriertes Probenpark im Analyseraum; In Kombination mit dem Queue Editor ermöglicht es eine vollautomatische kontinuierliche Prüfung einer großen Anzahl von Proben.

Neu entwickelte pulsierte Argon-Ionen-Pistole

Automatische Doppelstrahlneutralisierungstechnologie

Die meisten Proben, die mit TOF-SIMS getestet werden, sind isolierte Proben, deren Oberflächen in der Regel elektrisch geladen sind. Das PHI nanoTOF3 nutzt die Technologie der automatischen Ladungs-Doppelstrahlneutralisierung, die eine wirklich automatische Ladungsneutralisierung von Isolationsmaterialien jeglicher Art und in allen Formen ohne zusätzliche menschliche Handlungen ermöglicht, indem gleichzeitig Low-Energy-Elektronenstrahlen und Low-Energy-Argon-Ionenstrahlen ausgestrahlt werden.

*Eine Ar-Ionenpistole ist erforderlich

MS/MS平行成像

Gleichzeitige Erfassung von MS1/MS2 Daten

Bei TOF-SIMS-Tests empfängt der MS1-Massenanalysator alle sekundären Ionenfragmente, die von der Probenoberfläche erzeugt werden, und das MS1-Spektrum ist schwer zu unterscheiden von Makromolekularen, die sich der Massenzahl nähern. Durch die Installation eines seriellen Massenspektrums MS2 zur Kollisionsinduzierten Isolierung von Radion-Charakteristik-Ionenfragmenten für bestimmte Ionen kann ein MS2-Spektrogramm eine weitere Identifizierung der molekularen Struktur ermöglichen.

Das PHI nanoTOF3 verfügt über eine parallele Bildgebung im seriellen Massenspektrum MS/MS und ermöglicht die gleichzeitige Erfassung von MS1- und MS2-Daten im Analysegebiet, was ein leistungsstarkes Werkzeug für die präzise Analyse der molekularen Struktur bietet.

Fernzugriff zur Fernsteuerung des Instruments

PHI nanoTOF3 ermöglicht den Zugriff auf Instrumente über ein LAN oder das Internet. Durch die Einführung des Probenstands in den Probenraum können alle Vorgänge wie Probeneinsatz, Probenaustausch, Test und Analyse aus der Ferne gesteuert werden. Unsere Fachleute können das Gerät auf der Ferne diagnostizieren*.

Vielfältige Konfigurationen zum vollen Nutzen des Potenzials von TOF-SIMS

Probentransfererrohre für eine Vielzahl von Instrumenten

Das Probentransfererrohr ist ein speziell für atmosphärisch empfindliche Proben entwickeltes Probentransferergerät. Diese Vorrichtung ermöglicht die Vorbereitung und Übertragung der Proben unter Schutz von Inertgasen, wodurch der Kontakt der Proben mit der Atmosphäre während der Übertragung vermieden wird. Darüber hinaus sind die Probenförderungsrohre mit einer Vielzahl von PHI-XPS- und AES-Geräten kompatibel, um eine umfassende Analyse mit einer Vielzahl von Oberflächenanalysetechniken zu erleichtern.

Handschuhkosten für den Probenraum

Optional ist eine abnehmbare Handschuhkasse erhältlich, die direkt an die Probenaufnahmeraum angeschlossen ist. Proben, die leicht mit der Atmosphäre reagieren, wie Lithium-Ionen-Batterien und organische OLEDs, können direkt auf den Probentesch montiert werden. Darüber hinaus kann das Einfrieren der Probenoberfläche verhindert werden, wenn die Probe nach der Abkühlungsanalyse ausgetauscht wird.

Heiz- und Kühlprobenständer

Die Probe kann an der Messstelle erhitzt und gekühlt werden. Die Temperatur kann zwischen -150 ° C und 200 ° C gesteuert werden, von der Probenahme bis zur Messung, die Temperatur kann jederzeit überwacht und gesteuert werden.

Probenstand für die Oberflächenanalyse

Die Probentasche kann ohne Konkubenz beobachtet werden. Es gibt keine Einschränkungen für den Qualitätsbereich der Spektrifizierung, was eine breite Erfassung-Stereowinkel und eine hochpräzise Massenspektrometrie ermöglicht. Geeignet für Proben wie Kugeln, Draht und Fasern.

Argon-Cluster-Ionenpistole

Mit dem Argon-Cluster-Ionenstrahl (Ar-GCIB) können organische Materialien mit niedrigem Schaden Ionengraviert werden, was eine Tiefenanalyse ermöglicht, während die molekulare Struktur der organischen Verbindungen erhalten bleibt.

Cäsium-Ionenpistolen und Argon/Sauerstoff-Ionenpistolen

Optional können Cäsium-Ionen-Pistolen (Negative-Ionen-Analyse) und Sauerstoff-Ionen-Pistolen (Positive-Ionen-Analyse) als Spritz-Ionen-Pistolen für die hochempfindliche Analyse von anorganischen Materialien verwendet werden, die eine verstärkte Wirkung auf die Sekundär-Ionen der jeweiligen Polarität haben.