Fischer Beschichtungsdickenmesser

MMS PC2

Das modulare Messsystem FISCHERSCOPE MMS PC2 mit dem Betriebssystem Windows CE ist die ideale Lösung für die hochpräzise Schichtdickenmessung und Materialprüfung.
Fischer BeschichtungsdickenmesserModulares Design durch Steckkarten, die die gleichen Funktionen wie Handgeräte mit dem gleichen Namen erreichen können. Um die Anwendbarkeit zu verbessern, können Sie die entsprechende Sonde aus einer Vielzahl von Sonden auswählen, um verschiedene Eigenschaften und Spezifikationen der Probe wie Beschichtungsdicke, Leitfähigkeit und Ferritgehalt zu messen.

Fischer BeschichtungsdickenmesserEigenschaften:

Robuste und funktionsreiche Desktopgeräte, die als multifunktionales Messsystem verwendet werden können und Messdaten speichern und verarbeiten können
● Flexible Anwendung dank modularer Konstruktion und austauschbarer Sonden
Integration mehrerer physikalischer Messtechniken in ein einziges Gerät, so dass sie geeignet sind: amplitude- und phasenempfindliche elektrische Wirbelströme, magnetische Induktion, Beta-Strahlen
* Analyse und Statistik
● Intuitive Bedienung über einen großen eingebauten Touchscreen oder mit Tastatur und Maus

FISCHERSCOPE MMS PC2 Der MMS PC2 kann mit einem großen, hochauflösenden Farbtouchbildschirm oder einer Tastatur und Maus bedient werden. Mit LAN- und USB-Schnittstellen, die in die automatische Produktionslinie integriert werden können. Darüber hinaus können bis zu 8 Sonden verwendet werden. Das modulare Design des MMS PC2 ermöglicht es, die Geräte auf Kundenwünsche auszustatten und bei Bedarf mit zusätzlichen Modulen und Sonden zu verbessern. Je nach Bedarf können verschiedene Messmethoden wie Wirbelstrom-, Magnet-, Magnetinduktion- oder Widerstandsmethoden auf dem Gerät verwendet werden. Die Beschichtungsdicke von fast allen Materialien auf Metallen sowie die Beschichtungsdicke von nicht leitenden Materialien kann gemessen werden. Es kann auch zur Messung der Leitfähigkeit von nicht-ferromagnetischen Metallen und zur Messung des Ferritgehalts in Austenit- oder Doppelfassstahl verwendet werden.

Anwendung:

Anodisierte Beschichtung auf Aluminium (PERMASCOPE)
Nano-Beschichtung (Fingerabdruckschutz), Solarzellebeschichtung (Folienschicht, CdTe/Glasuntergrund), Vergoldet auf Steckkontakten, Blei in Schweißmitteln auf Schweißplatten, Spuranalyse, Lichtempfindliche Beschichtungen, Öl- und Wachsschichten (BETASCOPE)
Kupferbeschichtungsmessungin Oberflächen und Durchgangslöchern von Leiterplatten (SIGMASCOPE)
Messung der Kupferschichtdicke der Oberfläche der Leiterplatte (ohne Einfluss der Kupferschicht der Zwischenschicht) während der Herstellung der Leiterplatte (SR-SCOPE)
Dicke der Schweißschicht auf Kupfer bei der Herstellung von Leiterplatten (PERMASCOPE)
In der Automobilindustrie: Grafitbeschichtung auf Kolbenoberflächen oder Korrosionsschutzbeschichtung auf Bremsscheiben (PERMASCOPE)
Ferromagnetische Metallbeschichtung auf Kolbenoberflächen (NICKELSCOPE) in der Automobilindustrie
Ferritingehalt in Austenit- oder Doppelfassstahl (PERMASCOPE)
Leitfähigkeit von nicht ferromagnetischen Metallen wie Kupfer, Aluminium und Titan (SIGMASCOPE)
Mit dem BETASCOPE-Modul kann die Dicke von organischen und metallischen Beschichtungen auf verschiedenen Substraten nach der Beta-Rückstreuungsmethode gemessen werden, was eine beliebige Beschichtung auf verschiedenen Substraten bedeutet, sofern der Unterschied in der Atomanzahl zwischen den beiden Materialien mehr als 5 beträgt. In Kombination mit den geeigneten Sonden kann sogar die Dicke von weichen Beschichtungen und Schmierbeschichtungen, wie z. B. organischen Nanofilmen (Fingerabdruckfilm) auf Edelstahl oder rostfesten Fettschichten bei der Herstellung von Metallplatten, zu Qualitätskontrollzwecken gemessen werden.
In Kombination mit dem passenden Messmodul kann der MMS PC2 flexibel für die Zufuhrprüfung, die Fabrikprüfung oder die Produktionsüberwachung eingesetzt werden. Er bietet eine Vielzahl von Datenberichtsverfahren, eine Qualitäts- und Prozesskontrolle über die FDD-Software von Fischer und ermöglicht die einfache Einrichtung automatisierter Messungen, da das Messsystem einen motorgetriebenen Messtisch oder einen XY-Probentesch direkt steuern kann und die automatische Produktion über LAN- und I/O-Module einbettet.