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Adresse
Kechuang Park, Wujiang Distrikt, Suzhou, Provinz Jiangsu
Produktkategorien
Safet Wissenschaftliche Instrumente (Suzhou) Co., Ltd.
Field Launch Scan Elektronenmikroskop
VerhandlungsfähigAktualisieren am01/30
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Übersicht
JSM-IT810$r$n Feld-Emissions-Scan-Elektronenmikroskop$r$n JSM-IT810 Serie FE-SEM kombiniert Vielseitigkeit und hohe räumliche Auflösung für den automatisierten Betrieb. Die integrierte Automatisierung von Bildgebung und EDS-Analysen ohne Kodierung macht den Arbeitsablauf reibungsloser und effizienter. Darüber hinaus wurden einige neue Funktionen hinzugefügt, die sicherstellen, dass alle SEM-Benutzer qualitativ hochwertige Daten und ein besseres Benutzererlebnis erhalten. Die Bedienung der FE-SEM war noch nie so einfach wie die Serie JSM-IT810.
Produktdetails
JSM-IT810Field Launch Scan ElektronenmikroskopSteigern Sie die Betriebseffizienz von der Inbetriebnahme der Instrumente bis hin zur Beobachtungsanalyse mit Automatisierungstechnologien!
JSM-IT810Field Launch Scan ElektronenmikroskopDie FE-SEM-Serie kombiniert Vielseitigkeit und hohe räumliche Auflösung für einen automatisierten Betrieb. Die integrierte Automatisierung von Bildgebung und EDS-Analysen ohne Kodierung macht den Arbeitsablauf reibungsloser und effizienter. Darüber hinaus wurden einige neue Funktionen hinzugefügt, die sicherstellen, dass alle SEM-Benutzer qualitativ hochwertige Daten und ein besseres Benutzererlebnis erhalten. Zu diesen Funktionen gehören das SEM-automatische Anpassungspaket, die Trapezialkorrektur (sehr nützlich bei EBSD-Tests) und die Live-3D-Rekonstruktion zur Beobachtung der Oberflächenformation.
Die Bedienung der FE-SEM war noch nie so einfach wie die Serie JSM-IT810.
Hauptmerkmale
1. Automatische Beobachtungsanalyse „Neo Action“
Intelligenter Betrieb zur automatisierten Ausführung von SEM-Beobachtungen und Energiespektralanalyse (EDS)
Probe: Chondrule in Chondrit Julesberg (L3.6), Landungsspannung: 5 kV
2. Automatische Kalibrierungsfunktion „SEM Auto-Adjustment-Paket“
Verwenden Sie die Probe zur automatischen Vergrößerungsanpassung, Elektronenstrahlenpaarung und EDS-Energiekalibrierung. Regelmäßige Kontrollen stellen sicher, dass das Gerät in einem ausgezeichneten Zustand ist.
3. Echtzeit 3D Funktionen
Fünf-Segment-Halbleiterdetektoren können die Rückstreuung des elektronischen Signals auswählen. Das 2D-Bild, das von der Außenseite 4 gewonnen wurde, kann für die 3D-Bildrekonstruktion verwendet werden.
Die neue Live-3D-Funktion ermöglicht die Messung und Überprüfung der Topologie einer Probe in Echtzeit.
4. Integrierte EDS
Die integrierte EDS-Integration beseitigt die Barriere zwischen der SEM-Beobachtung und der EDS-Elementanalyse. Es gibt verschiedene Analysemuster wie Punkte, Flächen, Linien und MAP auf dem Bildschirm, die sofort analysiert werden können.
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