Das Fischerscope X-Ray XDL230

Kerntechnologien und Leistung1

• Messprinzip: Anwendung der Röntgenfluorescenzspektrometrie, um die genaue Messung der Beschichtungsdicke zu erreichen, mit einer beschädigungsfreien Detektionsmethode und einer automatischen Fokussierungsfunktion, die die Integrität der Probe und die Messgenauigkeit gewährleisten kann.

• Elementmessbereich: Abdeckt Cl(17)-U(92), bis zu 24 Elemente und 23 Schichten können gleichzeitig gemessen werden.

• Hardware-Leistung:

• Manuelle X / Y-Plattform: Bewegungsbereich ≥95x150mm, verfügbare Arbeitsfläche ≥420x450mm, um die Anforderungen an die Platzierung und Messung mehrerer Proben zu erfüllen.

• Elektrische Z-Achse: Unterstützt manuelle / Autofokussierung, Bewegungsbereich ≥ 140 mm, kann für Proben in verschiedenen Höhen angepasst werden.

• DCM-Technologie: Die Methode der Distanzkompensation (DCM) ermöglicht eine Distanzmessung von Kammerproben in einer Tiefe von 80 mm.

• Hochspannungsregelung: Variable Hochspannung unterstützt 30KV, 40KV, 50KV Drei-Gang-Regelung, die flexibel auf verschiedene Testszenarien reagieren kann.

• Gleichrichter: Ein runder Gleichrichter mit φ0,3 ermöglicht eine verbesserte Messgenauigkeit sowie optionale Gleichrichter wie φ0,1 mm, φ0,2 mm und rechteckige 0,3 mm x 0,05 mm.

• Röntgendetektor: Ein proportionaler Empfänger sorgt für einen stabilen Empfang des Signals.

• Kamera: Hochauflösende CCD-Kamera mit 40 bis 160-facher Vergrößerung für die beobachtliche Positionierung der Probe, die Messposition entlang des primären Röntgenstrahls beobachtet, mit manueller Fokussierung, Kreuzlinien (mit kalibrierter Skala und Messpunktgröße), LED-Beleuchtung mit einstellbarer Helligkeit und Laserpunkten zur genauen Positionierung der Probe.

Software und Datenverarbeitung 1

• Betriebssystem und Software: Auf der chinesischen Oberfläche von Windows 7 und höher basiert die professionelle Testsoftware WinFTM mit einer USB-Schnittstelle zur Verbindung von PC und Drucker.

• Statistische Berechnungsfunktion: Datensatz mit integrierter Zeit- und Datumsfunktion, mit Durchschnittswerten, Standardabweichungen, Maximum- und Minimumwerten und anderen statistischen Berechnungen; Unterstützt die Eingabe von Toleranzbereichen, berechnet CP- und Cpk-Werte und übergreift automatische Alarmmeldungen.

• Kalibrierung und Bestimmung: Basis-Parametermethode mit eingebauter Spektrumbibliothek mit 12 reinen Elementen, die keine Standardmessungen für die Kalibrierung von Scheiben ermöglicht; Mit MQ-Wertanzeige zur Beurteilung der Übereinstimmung des Messprogramms mit der Probe und zur Verhinderung von Fehlverfahren.

• Standardscheiben: Ausgestattet mit 12 Standardscheiben für reine Elemente (Ag, Cu, Fe, Ni, Zn, Zr, Mo, Sn, W, Au, Pb, Cr).

Geräteparameter3

• Stromanforderungen: 200V, 50Hz, maximale Leistung 120W (ausgenommen Computer).

• Schutzklasse: IP40.

• Außenmaßungen: Breite x Tiefe x Höhe (mm) 570x760x650.

• Innere Messkammergrößen: Breite x Tiefe x Höhe (mm) 460x495x140.

• Gewicht: 107 kg.

• Anwendungstemperatur: 10 ℃ - 40 ℃.

• Lager- oder Transporttemperatur: 0 ℃ - 50 ℃.

• Relative Luftfeuchtigkeit: ≤95% ohne Belastung.

Anwendungsbereich 2

• Industrielle Produktion: Messung von galvanischen Teilen in Massenproduktion, geeignet für die Beschichtungsprüfung von Teilen in der Automobil-, Raumfahrt- und Elektronikindustrie, wie etwa die Messung und Qualitätskontrolle der Beschichtungsdicke von Automobilmotorenteilen, Metallkonstruktionen für Luftfahrt und Raumfahrt, Gehäusen für elektronische Geräte usw.

• Elektronik: Messung von funktionalen Beschichtungen in der Elektronik- oder Halbleiterindustrie, wie Chipstifte, Kupferfolienbeschichtungen auf gedruckten Leiterplatten, Goldfingerbeschichtungen usw., um die elektrische Leistung und Zuverlässigkeit von Elektronikprodukten zu gewährleisten.

• Dekorindustrie: Messung von ultradünnen Beschichtungen, wie z. B. Dekorationschrom, zur Prüfung der Beschichtungsdicke von Dekorprodukten wie Möbeln, Badehardware und Accessoires, um die Schönheit und Haltbarkeit der Produkte zu gewährleisten.