FIB Kupfernetz Lift-Out

Für das Laden von Proben in FIB,FIB Kupfernetz Lift-OutEinfache Übertragung von Proben in TEM zur Beobachtung. Diese Trägernetze haben einen Standard-Durchmesser von 3 mm, aber ihre innere Struktur ist speziell konzipiert, in der Regel nur die Hälfte des TEM-Trägernetzes und verfügt über 2, 3, 4 oder sogar 5 oder mehr "Säulen", die durch FIB "geschweißt" werden.。

Es gibt hauptsächlich folgende Materialien:

• Kupfernetz: Die häufigste Wahl. Die Oberfläche ist glatt und leicht zu schweißen. Wenn die Probe jedoch Kupfer selbst enthält oder eine EDS-Analyse von Kupferelementen erforderlich ist, kann die Verwendung von Kupfernetzen Signalstörungen verursachen.。

  
  

• Molybdenum-Trägernetz: Wenn Kupferverschmutzung vermieden werden muss, ist FIB-Molybdenum-Trägernetz die ideale Alternative. Es ist stärker als Kupfer.

  
  

• Silizium-Trägernetz: Wird hauptsächlich für die Analyse von Halbleitergeräten verwendet. Da FIB-Netzträger und Probenmatrysate aus Silizium bestehen, haben sie eine ähnliche Ionenstrahlfräsgeschwindigkeit und führen keine Fremdmetallelementverschmutzung ein, was sich ideal für hochreine Elementanalysen eignet.。

• Kohlenstoff-Trägernetz: FIB-Trägernetz aus reinem Kohlenstoff, der einen metallfreien Hintergrund für die Analyse empfindlicher leichter Elemente bietet。