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Enlitech Photovoltaik-Effizienzverlustanalyser

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Übersicht

Der QE-RX Photovoltaik-Effizienzverlustanalyser kann für die Entwicklung von hocheffizienten Solarzellen eingesetzt werden. Das QE-RX ermöglicht nicht nur die Messung von PV-EQE-, Reflexionsgrad- und PV-IQE-Daten, sondern auch die Analyse von Jsc-, Voc- und FF-Verlusten in Kombination mit der Analysesoftware SQ-JVFLA. Drei verschiedene Testfunktionen wurden in QE-RX integriert und die SQ-JVFLA-Software entwickelt, um den Anwendern zu helfen, drei verschiedene Verluste mithilfe der Theorie der thermischen Grenzen von Shockley-Queisser zu analysieren.

Produktdetails

Laborwerkzeuge für höhere Präzision _ AM1.5G Sonnensimulator mit Photovoltaik-Solarzellen-Effizienz-Verlustanalyse-Lösung mit Spot-V

Enlitech 光伏电池效率损失分析仪

Warum können Spot-Observatoren Ihnen helfen, Ihre Forschung zu verbessern?

Klare Beobachtung: Auch in dunklen Kammern oder in experimentellen Umgebungen mit begrenztem Licht können die Flecken deutlich beobachtet werden, um sicherzustellen, dass sich die Probe in einem ausgezeichneten Lichtbereich befindet.

· Einfach zu bedienen: Plug-and-use, keine mühsamen Einstellungen erforderlich, geeignet für eine Vielzahl von Spektralsystemen, so dass Sie die Position der Flecken einfach beherrschen können.

Vielseitige Anwendungen: Egal ob es sich um kleine Proben oder komplexe Spektralexperimente handelt, wir bieten zuverlässige Beobachtungsunterstützung, die Ihnen bei der Präzisionsgestaltung und Datenanalyse hilft.

· Verbesserung der Effizienz: Der Spot-Beobachter kann effektiv Spot-Offset oder Probe-Offset-Probleme vermeiden, um die Genauigkeit jeder Messung zu gewährleisten, die Effizienz des Experiments zu verbessern und Fehler zu verringern.

Eigenschaften

Der QE-RX Photovoltaik-Batterie-Effizienzverlustanalyser hat folgende Eigenschaften:

Enlitech 光伏电池效率损失分析仪

Hohe Genauigkeit und geringe Unsicherheit

Die Kalibrierung von QE-RX ist NIST-nachverfolgbar, wodurch die Testdaten von QE-RX weniger unsicher sind als bei jedem anderen EQE-Testsystem. Gleichzeitig wurde QE-RX von Enlitech entwickelt, einem 10-jährigen ISO/IEC 17025-zertifizierten Kalibrierungslabor. Dadurch sind die QE-RX-Testergebnisse für Si-Solarzellen sehr genau. Mit QE-RX erhalten Sie zuverlässige Ergebnisse.

Enlitech 光伏电池效率损失分析仪

Kompakte Struktur, aber vielfältige Funktionen

Der QE-RX integriert alle optischen und mechanischen Komponenten in den 80cm x 80cm x 60cm großen Gehäuse, einschließlich eines Phasenverstärkers für elektrische Signalaufnahme. Nicht beschränkt auf seine kompakte Größe bietet das QE-RX eine Vielzahl von Testdaten, einschließlich EQE, spektraler Reaktion, Reflexivität und IQE für Solarzellen. Kompakt und vielseitig sind die Vorteile des QE-RX.

Enlitech 光伏电池效率损失分析仪

* Leistungsverlustanalyse

QE-RX bietet in Kombination mit der SQ-JVFL-Software die vollständigsten Analysefunktionen, einschließlich Jsc-loss, Voc-loss, FF-loss und Bandgap-Berechnung. Diese Parameter sind Schlüsselfaktoren bei der Produktionskontrolle und der Effizienzempfehlung, was QE-RX zu einem ausgezeichneten Partner für die Photovoltaikindustrie macht.

Für PESC, PERC, PERL, HJT, Rückkontakt, Doppelseite und TOP-Con Siliziumsolarzellen

Bereitstellung von Daten zu QE (Quanteneffizienz), PV-EQE (externe Quanteneffizienz), IPCE (Effizienz der Eingangsphotonen-Elektronen-Umwandlung), SR (Spektralreaktion), IQE (interne Quanteneffizienz) und Reflexivität.

Kompakte Konstruktion und hohe Wiederholbarkeit von über 99,5%.

Wellenlängenbereich: 300 bis 1200 nm

Jsc Verlust Analyse und Berichterstattung (mit SQ-JVFLA Software).

Berufsverlustsanalyse und Berichterstattung (mit der SQ-JVFLA-Software).

FF Verlust Analyse und Berichterstattung (mit SQ-JVFLA Software).

Die zur Verfügung gestellten EQE-Unsicherheitsbewertungsberichte und ISO/IEC 17025-zertifizierte Qualitätskontrollen können für Zeitschriftenbeiträge verwendet werden.

Diversifizierte und maßgeschneiderte Probenprüfgeräte.

Systemgestaltung

Enlitech 光伏电池效率损失分析仪

Spezifikation

QE-RX Host Funktionen

Messwellenlängenbereich: 300-1200 nm (erweiterbar)

Ø Wiederholbarkeit der Messung jeder Wellenlänge: 300-390nm Durchschnittliche Nichtwiederholbarkeit ≤ 0,3%, 400-1000 nm Durchschnittliche Nichtwiederholbarkeit ≤ 0,15%. Durchschnittliche Nichtwiederholbarkeit von 1000-1200nm Wellenlängen ≤ 0,25%

Ø Kurzschlussstromdichte nicht wiederholbar ≤ 0,1%

Genauigkeit < 0,1%

Ø Durchschnittliche Nichtwiederholbarkeit der 10 Berechnungen = relative Standardabweichung/Durchschnittswert* 100%

Ø Messzeit: 300-1200nm, Scan-Intervall 10nm, Messung nicht länger als 3 Minuten

Ø Messkammer: 80cm Messmaske Dunkelkammer

Ø anwendbare Umgebung: Temperatur 15 ~ 35 Grad, Feuchtigkeit 20% ~ 65%

Ø mit Kurzschlussstrom, offene Schaltungsspannung, Füllfaktor drei Hauptverlustanalyse

Softwarefunktionen

Absolute Lichtstärke Korrektur

Spektrale Reaktionsmessung

Externe Quanteneffizienzmessung (EQE)

Bandbreitenanalyse (Bandgap)