Energie-Diffusion-X-Fluoreszenz-Spektrometer XD-1000 Vollautomatisches Filmdickenmesser

Energie-Diffusion-X-Fluoreszenz-Spektrometer XD-1000 Vollautomatisches FilmdickenmesserDas Oberlichtspektrometer ist ein Spektrometer, das speziell für die Erkennung einer Vielzahl von fremden Teilen entwickelt wurde. Verschiedene Arten von Beschichtungsdickenanalysen können gleichzeitig die Galvanisierungsflüssigkeit analysiert werden. Es eignet sich für eine Vielzahl von übergroßen Teilen, fremden Nutzteilen, kleinen intensiven Mehrpunktprüfungen oder die automatische Erkennung einer großen Anzahl von kleinen Teilen einzeln.

Spektrometer zur Zusammensetzungs- und Dickenanalyse insbesondere für die Oberflächenbehandlung von Werkzeugformen, Badeprodukten, Leiterplatten und hochpräzisen elektronischen Komponenten.

Es wird weit verbreitet für die Qualitätskontrolle, die Eingangsprüfung und die Messung der Produktionsprozesskontrolle einer Vielzahl von Produkten.

1) Ausgestattet mit Mikrofokuss-Röntgengenerator und ausgezeichnetem optischem Umwandlungsfokusssystem mit verlustloser Zoom-Erkennungstechnologie, die Mindestmessfläche kann bis zu 0,01 mm²

2) manuelle Zoomfunktion, kann eine verschlechtungsfreie Erkennung verschiedener fremdförmiger Nuten durchführen, Nuttiefenbereich 0-70mm

3) Kern-EFP-Algorithmus, der eine schnelle, quasi-stabile Datenanalyse von mehreren Schichten und mehreren Elementen ermöglicht, ausgestattet mit einer vollautomatischen, programmierbaren mobilen Plattform, die eine unbewachte, mehrpunktige, präzise Verschiebung und gleichzeitige Erkennung von Proben erreichen kann

4) kann gleichzeitig 23 Beschichtungen, 24 Elemente analysieren, Messelementbereich: Chlor Cl (17) - Uran U (92), Beschichtungsanalysebereich: Lithium Li (3) - Uran U (92), BeschichtungDetektionsgrenze: 0,005 μm

5) menschliche geschlossene Software, automatische Beurteilung der Fehlermeldung Korrektur und Betriebsschritte, um Fehler zu vermeiden

6) Standard φ 0,2 mm Gleichrichter

7) Ausgestattet mit Mikrooptik-Sammlung-Technologie, kürzlich Messflecken Diffusion weniger als 10%

Anwendungsbereiche

Instrumentparameter