Emissionsspektrum XES

Emissionsspektrum XES ist eine wichtige Analysetechnik, die hauptsächlich zur Untersuchung der elektronischen Struktur und chemischen Eigenschaften von Materialien verwendet wird. Harte Röntgenstrahlen verfügen über eine hohe Energie und können tief in die Probe eindringen, was XES zu einem leistungsstarken Werkzeug für die Erkennung tiefer Materialinformationen macht.

Lange Zeit konnte das Röntgenabsorptionsfeinstrukturspektrum (XAFS) nur an verschiedenen synchronen Strahlungslichtquellen getestet werden. Aufgrund der begrenzten Zeit der Lichtquelle kann die Maschine die Testanforderungen vieler Forscher nicht erfüllen. In den vergangenen Jahren sind XAFS-Daten zum „Standard“ für führende Zeitschriften geworden, wodurch immer mehr Themengruppen XAFS-Tests benötigen. Mit der Philosophie, XAFS in jedes Labor einzuführen, haben das Institut für Hochenergiephysik der chinesischen Akademie der Wissenschaften und die chinesische Universität für Wissenschaft und Technologie gemeinsam das neue Röntgenabsorption-Feinstrukturspektrometer (RapidXAFS) vorgestellt.

Emissionsspektrum XESProduktvorteile:

Eigenschaften:

• Höchste Lichtdurchflussprodukte

  Photonendurchfluss höher als 1.000.000 Photonen / s / eV - 4.000.000 Photonen / s / eV, Spektrifizierungseffizienz mehrmals höher als andere Produkte; Erhalten Sie die gleiche Datenqualität wie synchronisierte Strahlung

• Ausgezeichnete Stabilität

  Einfarbige Lichtintensitätsstabilität von mehr als 0,1% bei wiederholter Aufnahme von Energie < 50 meV

• 1% Erkennungsgrenze

  Hoher Lichtdurchfluss, ausgezeichnete optische Pfadoptimierung und Lichtquellenstabilität sorgen dafür, dass hochwertige EXAFS-Daten bei gemessenen Elementgehalten > 1% erhalten werden

• Doppel-Roland-Rundstruktur

  Durchbruchsvolle Verwendung der Doppelroller-Kreisstruktur zur gleichzeitigen Charakterisierung der lokalen Struktur von zwei Elementen in einer Röntgenquelle
  

Die Röntgenabsorptionsfeine Struktur (XAFS) ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Untersuchung der lokalen Atom- oder Elektronenstruktur von Materialien, das in den beliebten Bereichen Katalyse, Energie, Nano und andere weit verbreitet wird.

Emissionsspektrum XESHauptvorteile:

1. Nicht abhängig von der geordneten Struktur der Langstrecke, kann für die Forschung von nichtkristallinen Materialien verwendet werden;

2. ohne Störungen anderer Elemente können verschiedene Elemente im gleichen Material getrennt untersucht werden;

3. Proben ohne Beschädigung, in der Atmosphäre getestet, kann in situ getestet werden;

4. Unabhängig vom Zustand der Probe können Feststoffe (Kristalle, Pulver), Flüssigkeiten (Lösung, Schmelzzeit) und Gase usw. gemessen werden;

5. Sie können strukturelle Parameter wie die Sortieratomart, die Sortierzahl und den Atomabstand erhalten, wobei die Genauigkeit des Atomabstandes bis zu 0,01A erreicht werden kann.

Doppel-Rollen-Kreisstruktur

Vergleichbar mit der synchronen Strahlungsauflösung

XES-Tests unterscheiden N, C und O

Das XAFS-Spektrum besteht hauptsächlich aus zwei Teilen: der röntgenabsorbierenden Nebenstruktur (XANES) und der erweiterten röntgenabsorbierenden Feinstruktur (EXAFS). Der Energiebereich von EXAFS liegt ungefähr 50 eV bis 1000 eV hinter der Absorptionskante und stammt aus der einzigen Streuung von Elektronen zwischen den umgebenden und absorbierten Atomen durch Röntgenstrahlen. XANES umfasst einen Bereich von ca. 10 eV vor dem Absorptionsrand bis ca. 50 eV nach dem Absorptionsrand, der hauptsächlich durch die durch Röntgenstrahlen angeregte Multielektronenstreuung von Photoelektronen aus der inneren Schicht zwischen den umliegenden und absorbierenden Atomen stammt.

Messbare Elemente: grün teilweise messbare K-Seite, gelb teilweise messbare L-Seite

XAFS Anwendungen:

• Industrielle Katalyse

• Energiespeichermaterial

• Nanomaterialien

• Umwelttoxizität

• Auch Qualitätsanalyse

• Schwerelementanalyse