Elektronische Komponenten Prüfmikroskop

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Elektronische Komponenten Prüfung Mikroskop $ r $ n Vergrößerungsmethode: Optische 8000-fache Vergrößerung, Elektronik 8000-fache Vergrößerung $ r $ n Pixel: 2 Megapixel ohne Kompression $ r $ n Ausgangsauflösung: 1920 * 1080P $ r $ n Ausgangsart: HDMI HD-Anschluss $ r $ n Funktionen: 2K HD-Bild fotografieren / messen / aufzeichnen / wiedergeben / speichern, Daten exportieren, Vorlagen vorlegen, CAD-Vorlagen importieren. Anwendungsbereiche: Halbleiterchipindustrie, Metalloberflächenanalyse, Chipbewertung

Produktdetails

Elektronische Komponenten PrüfmikroskopVergrößerung: Optik 8000 mal vergrößert, Elektronik 8000 mal vergrößert

Pixel: 2 Megapixel ohne Komprimierung

Ausgabeauflösung: 1920*1080p

Ausgangsart: HDMI HD-Anschluss

Funktionen: 2K HD-Bild fotografieren / messen / aufzeichnen / wiedergeben / speichern, Daten exportieren, Vorlagen vorlegen, CAD-Vorlagen importieren. ..

Anwendungsbereiche: Halbleiterchipindustrie, Metalloberflächenanalyse, Chipbewertung

Das Positivmetallphasemikroskop XJP-302/302BD eignet sich für die mikroskopische Beobachtung undurchsichtiger Objekte. Mit einem ausgezeichneten, unendlich fernen optischen System und einem modularen Funktionskonzept kann das System leicht aufgerüstet werden, Polarisationsbeobachtung, Dunkelfeldbeobachtung und andere Funktionen erreicht werden, ein kompakter, stabiler, hochsteifer Körper, der die Schwingungsschutzanforderungen des Mikrobetriebs vollständig widerspiegelt. Ein ideales Design, das den ergonomischen Anforderungen entspricht, macht den Betrieb bequemer und komfortabler und bietet größeren Raum. Für die mikroskopische Beobachtung von Metallphase-Gewebe und Oberflächenmorma ist es ein Instrument für die Metallologie, Mineralogie und Präzisionstechnikforschung.

电子元件检查显微镜

Elektronische Komponenten PrüfmikroskopTechnische Daten:

Brille	Großes Sichtfeld WF10X (Anzahl der Sichtfelder Φ22mm)
Unbegrenzte Fernfeld Farbdifferenz Objektive	XJP-302 (mit Objektiv)		PL L5X/0.12 Arbeitsabstand: 26,1 mm
			PL L10X/0.25 Arbeitsabstand: 20,2 mm
			PL L20X/0.40 Arbeitsabstand: 8,80 mm
			PL L50X/0.70 Arbeitsabstand: 3,68 mm
			PL L80X/0.80 Arbeitsabstand: 1,25 mm
	XJP-302BD (Beschreibung/Dunkelfeldobjektiv)		PL L5X/0.12 BD Arbeitsabstand: 8,05 mm
			PL L10X/0.25 BD Arbeitsabstand: 7,86 mm
			PL L20X/0.40 BD Arbeitsabstand: 7,23 mm
			PL L50X/0.70 BD Arbeitsabstand: 1,75 mm
			PL L80X/0,80 BD Arbeitsabstand: 0,80 mm
Brille	Tribrille mit 30°-Neigung und 100% Lichtdurchlässigkeit
Beleuchtungssystem	XJP-302	12V30W Halogenlampe mit verstellbarer Helligkeit
	XJP-302BD	12V50W Halogenlampe mit verstellbarer Helligkeit
	Integrierte Sichtfeld-Lichtleiste, Lichtleiste mit Durchmesser, Filterwandler (gelb, blau, grün, geschliffenes Glas), Schiebeinspektor und Polarisator
Fokussierungsorgane	coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial
Konverter	Fünf Löcher (innere Position der Kugel)
Laststelle	Mechanischer Tragstisch, Formgrößen: 280mmX270mm, Bewegungsbereich: Horizontal (X) 204mm, Länge (Y) 204mm

Zubehör auswählen:

Name	Kategorien/technische Parameter		Bemerkung
Brille	Aufteilung 10X (Φ22mm), Gitterwert 0,1 mm / Gitter
Objektive	PL L40X/0.60 Arbeitsabstand: 3.98	Sichtfeld
	PL L60X/0.70 Arbeitsabstand 2.08mm
	PL L100X (trocken) / 0,85 Arbeitsabstand 0,4 mm
	PL L40X/0.60 BD Arbeitsabstand 3.0mm	Helle, dunkle Sicht
	PL L60X/0.70 BD Arbeitsabstand 1,65 mm
	PL L100X/0,85 BD Arbeitsabstand 0,4 mm

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