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Guangzhou Guorun Optoelektronische Technologie Co., Ltd.
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Elektroluminescenz-Tester-ELPL-RobotI

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Elektroluminositätstester-EL&PL-Tester-RobotI ermöglicht die Beschreibung der Elektroluminositätseigenschaften (EL) und der Photoluminositätseigenschaften (PL) von unbearbeiteten Leuchtstoffen. wie das EL-Spektrum, LIV、 Eigenschaften der Ausgangs-, Neigungs- und Quanteneffizienz, Wellenlängen- und FWHM-Verschiebungskurven sowie Wafer-Ebenenhomogenität, Emissionsstärke, Spitzenwellenlänge/Hauptwellenlänge (WLP/WLD), FWHM, Antriebsspannung/Strom usw. Schädigungsfreie Erkennung und schnelle Messung. Mit dieser einzigartigen Leistung bietet die MaxMile ELPL-Technologie der Photoindustrie eine beispiellose elektro-/photoluminescente Lösung, die neue Leistung und höhere Effizienz bietet. Das MaxMile ELPL Elektro-/Photoluminescenz-Testsystem kombiniert proprietäre EpiEL- und PL-Technologien in einem System, das (a) als konventionelles EpiEL-System oder (b) als konventionelles PL-Testsystem oder (c) als ELPL-Kombinationstestsystem verwendet werden kann.
Produktdetails

Elektroluminescente Tester-EL&PL Tester-RobotI Produktbeschreibung:

EL&PL-Tester - Die RobotI MaxMile Extension-Elektro-/Photoluminescenz-Technologie bietet eine einzigartige Charakterisierungslösung für die LED-/LD-Industrie. Es ermöglicht eine systematische Beschreibung der elektroluminescenten Eigenschaften (EL) und der photoluminescenten Eigenschaften (PL) von unbearbeiteten luminescenten Materialien. wie das EL-Spektrum, LIV、 Eigenschaften der Ausgangs-, Neigungs- und Quanteneffizienz, Wellenlängen- und FWHM-Verschiebungskurven sowie Wafer-Ebenenhomogenität, Emissionsstärke, Spitzenwellenlänge/Hauptwellenlänge (WLP/WLD), FWHM, Antriebsspannung/Strom usw. Schädigungsfreie Erkennung und schnelle Messung. Mit dieser einzigartigen Leistung bietet die MaxMile ELPL-Technologie der Photoindustrie eine beispiellose elektro-/photoluminescente Lösung, die neue Leistung und höhere Effizienz bietet. Das MaxMile ELPL Elektro-/Photoluminescenz-Testsystem kombiniert proprietäre EpiEL- und PL-Technologien in einem System, das (a) als konventionelles EpiEL-System oder (b) als konventionelles PL-Testsystem oder (c) als ELPL-Kombinationstestsystem verwendet werden kann.

Das MaxMile Robot I Elektro-/Photoluminescenzsystem ist ein halbautomatisches Testsystem, das Wafergrößen von 2" bis 8" verarbeiten kann, ohne dass die Hardware geändert werden muss. Es ist möglich, eine Wafer-Größe von maximal 12 Zoll zu unterstützen. Mit den neuesten Lösungen in der Branche werden alle Schlüsselkomponenten wie die Systemplattform, der Chip-Aligner und der Box-Ladestation (nur 1 unterstützt) von Null an konzipiert und betonen Funktionalität, Zuverlässigkeit und Einfachheit. Das System verfügt über überlegene Leistung, Vielseitigkeit und Zuverlässigkeit sowie über eine einfache Bedienung und Bedienung, die die Entwicklung der optischen Forschung und Industrie mit neuen Kapazitäten und besserer Effizienz fördern kann.

电致发光光致发光测试仪-EL&PL测试仪-RobotI

Elektroluminescente Tester-EL&PL Tester-RobotI Produkteigenschaften:

  • Kompatibel mit elektrischen und optischen Tests
  • Schädigungsfreie Prüfung und schnelle Prüfung
  • Halbautomatisches Testsystem
  • Grafische Systemsteuerung
  • Intuitive Systemsoftware
  • Ein-Klick-Betrieb
  • Ohne Probenvorbereitung, hohe Produktivität
  • Aktualisierbares automatisches Testsystem
  • Automatisierte Wafer-Size-Erkennung
  • Hochmaßgeschneiderte Systemkonfiguration
  • Unterschiedliche Testanforderungen für Multifunktionssonden
  • Sonden können je nach unterschiedlichen Testanforderungen ausgewählt werden
  • Auf halbautomatische und automatische Modelle aktualisierbar
  • Einfach zu handhaben und zu bedienen

Anwendungsbereich:

  • LED/LD-Lamellenleistungsmessung
  • Verlustfreie schnelle EL- und Wafer-Level-EL-Karte
  • Materialwissenschaftliche Forschung
  • Wafer-freie Werkstoff- und Systementwicklung
  • Sofortige Reaktion auf Rezeptänderungen
  • Halbleiterherstellungsprozesse und Systemoptimierung
  • Sofortige Reaktion auf Rezepturänderungen, Prozess- und Systemoptimierungen
  • Qualitätskontrolle auf Geräteebene für das Materialwachstum
  • Effiziente Wafer-Bewertung, Screening und Sortierung von Geräten

Technische Parameter:

  • Ausdehnungsgröße: 2-8 "(max. 12 ")
  • Arbeitstischgröße: 32" × 32" × 68 "
  • Chip-Ladung: manuell/automatisch
  • Auslagerung: 1 Stück
  • Spektrale Detektionsbereich: 200-800nm
  • Spektralauflösung: 0,5-2nm (abhängig vom Spektrumbereich)

Testartikel:

1. Elektrische Lichtmappung

  • Wellenlänge – WLP/WLD/WLC (Spitze/Haupt/Mitte) Wellenlänge, halbhohe Breite.
  • Lichtintensität - Strahlung / Lichtleistung, Quantenumwandlungseffizienz.
  • Strom - positiver Strom/Spannung, Leitungsspannung, Umkehrstrom/Spannung, Schwellenspannung, Leitungswiderstand, Oberwiderstand

2. Lichtmapping:

  • Wellenlänge – WLP/WLD/WLC (Spitze/Haupt/Mitte) Wellenlänge, halbhohe Breite.
  • Lichtintensität - Strahlung / Lichtleistung, Quantenumwandlungseffizienz.

4. Charakteristik-Mapping:

  • Vorwärtsstrom / Spannung, Umkehrstrom / Spannung, Schwellenspannung, Leitwiderstand usw.

Weitere Funktionen von Mapping:

  • Kurvengrad
  • Filmdicke

* (Für alle oben genannten Testprojekte können Layouts erstellt werden, sowohl für Mapping als auch für Schnelltests)

Typ der Testkurve:

  • Elektroluminescentes Spektrum für bestimmte Antriebsstrom/Spannung
  • Lichtemittentes Spektrum
  • LIV - Strom/Lichtintensität - Spannung
  • Ausgangsstärke - Antriebsstrom
  • Wellenlänge & halbhohe Breite – Antriebsstrom
  • Umkehrt IV

Motivationsquellen:

  • EL: Keithley Digitale Stromversorgung
  • PL: 405nm Lichtquelle (andere Wellenlängen können angepasst werden)
  • 探针类型: Typ I, Typ IA, Typ II, Typ IIA, Typ IIB, Typ IIC und GaN-on-Si
  • Stromprüfung: >10-12Ein
  • Probenahme/Probenahme:
  1. Die elektroluminescenten Probenpunkte und die optischen/elektrischen Messschritte für jeden Punkt können vom Endbenutzer eingestellt werden.
  2. Der photoluminescente Probenpunkt kann vom Endbenutzer bedarfsgemäß eingestellt werden (Hochauflösungsmodus für Anwendungen mit hohem Standard, Schnellscannmodus zur Serienproduktion)
  • Testdauer: ca. 0,5-12 Minuten/Extension (abhängig von Testtyp, Probenahmepunkt, Prüfprotokoll und Messstufeneinstellungen. Die optische Scangeschwindigkeit beträgt bis zu 50 Punkte pro Sekunde.)
  • Mapping-Farbcodierung: Regenbogenfarbe, Gradientenfarbe, Binärfarbe, Temperatur, Grau oder jeder vom Endbenutzer angegebene Farbtyp.
  • Eingangsspannung: 15A/110VAC oder 10A/220VAC (maximale Spannung);
  • Umweltbedingungen:
  1. Temperatur: 15 – 30°C
  2. Relative Luftfeuchtigkeit: 30% -70% ohne Kondensation.
  3. Automatische Testsysteme benötigen Vakuum

Der Testbericht zeigt:

1. Elektrische / optische Mapping

电致发光光致发光测试仪-EL&PL测试仪-RobotI 一

2. Elektrische / photoluminescente Kurven

电致发光光致发光测试仪-EL&PL测试仪-RobotI 曲线图

Schlagwort: PLEL