EBSD Elektronenrückstrahlungsdiffraktor

Faserkoppelung für hohe Empfindlichkeit

Oxford Instrumente CMOS EBSD verwendet ein faseroptisches Kupplungssystem, das das Licht einbringt, das nicht durch die Objektivblätter eingeschränkt ist. Im Vergleich zu herkömmlichen Linsenkoppelungen verbessert die Empfindlichkeit des Detektors erheblich und kann sogar für die EBSD-Erfassung empfindlicher Materialien wie Perovskit verwendet werden.

Hochtemperaturbildschirm (Optional)

Die neue Generation von HochtemperaturbildschirmenMit der Infrarot-optischen Filtertechnologie kann der Infrarot-Hintergrund, der durch hohe Temperaturen verursacht wird, effektiv gefiltert werden und das Mustersignal erhalten werden.

Allmacht EBSD-Detektor

Der Elektronendiffraktionsdetektor SymmetryS3 ist die dritte Generation der allseitigen Symmetry-Produktreihe. S3 kombiniert eine hohe Geschwindigkeitsanalyse (>5700 Proben/s) mit einer Vielzahl von ausgezeichneten Funktionen, um eine bessere Leistung zu gewährleisten und die Anforderungen der wissenschaftlichen Forschung in allen Bereichen zu erfüllen.

Der SymmetryS3 ist ein EBSD-Detektor, der ausgezeichnete Ergebnisse aus einer Vielzahl von Probenarten liefern soll. Ein optisches Faserkoppelkamerasystem ohne Linsen ermöglicht eine hervorragende Empfindlichkeit unter allen Analysebedingungen, von der Analyse von Oststrommempfindlichen Materialien bis hin zur Hochgeschwindigkeitscharakterisierung herkömmlicher Proben. Die hohe Pixelauflösung in Kombination mit einem garantierten Subpixel-Musterverzerrungsniveau macht den S3 zur idealen Wahl für eine spannungsintensive Analyse und eine hochpräzise EBSD-Arbeit. Die softwaregesteuerte Detektor-Umkehrfunktion sorgt dafür, dass Proben jeder Größe und Form an optimaler geometrischer Position erfasst werden können.

6 Kameramodi für die tägliche und schwierige Analyse von Musterbildern mit einer Auflösung von bis zu 1244 x 1024 Pixeln mit einer Auflösung von >5700 Mustern/s und einer Auflösung von 156 x 128 Pixeln

Bildschirmhebesteuerung für Symmetry S3. Unabhängig von Probengröße, Höhe und Tiefe bleibt die Frontseite des Detektors immer an der optimalen Abnahmeposition

Hohe Auflösung EBSD-Detektor

Der C-Nano+ ist ein ausgezeichneter CMOS-EBSD-Detektor, der EBSD-Muster mit einer Millionenpixelarlösung liefert und eine Analysegeschwindigkeit von über 600 Mustern pro Sekunde garantiert.

Zusammen mit der hohen Empfindlichkeit des Faseroptiksystems C-Nano+ ist ideal für die hochpräzise Analyse anspruchsvoller Materialien, einschließlich Keramik und Mineralien.

Millionenpixel 1244 x 1024 Muster mit einer Auflösung von bis zu 80 Mustern pro Sekunde: Ideal für HR-EBSD-Studien sowie detaillierte Spannungsanalysen und Phasenidentifikationen mit einer maximalen Analysegeschwindigkeit von bis zu 600 Mustern pro Sekunde bei einer Auflösung von 312 x 256 Pixel mit nur einem 3 nA-Strahlstrom (auf Stahl, Ni)

Neue Generation EBSD Datenverarbeitungssoftware

StandardkonfigurationErfüllen Sie Ihre Anforderungen für die routinemäßige EBSD-Datenanalyse

Die meisten Die EBSD-Datenanalyse erfordert eine konventionelle Datenverarbeitung, wie die Zeichnung verschiedener Oberflächenverteilungen, die statistische Korngröße, die Analyse der Struktur, die Betrachtung der Kristallgrenzen, die Studie der Spannung usw. Die Standardkonfiguration von AZtecCrystal bietet leistungsstarke und praktische Werkzeuge für Ihre vielfältigen Datenverarbeitungsanforderungen. AZtecCrystal verarbeitet deutlich schneller und eignet sich ideal für die Verarbeitung von Big Data, die mit einem Hochgeschwindigkeits-CMOS-EBSD-Detektor erfasst werden. Egal ob Neuling oder Experte, Sie können das tun!

lüber 30 Flächenverteilungen mit unbegrenzten Kombinationen zur sofortigen Messung der Korngröße, die ISO- und ASTM-Normen erfüllen und über 30 Kornparameter liefern

lVollständige Strukturanalyseeinschließlich Pol-, Gegen- und Orientierungsverteilungsfunktionen

lUmfassende Analyse der Kristallgrenzen mit Orientierungsdifferenzanalyse und detaillierter Kristalllängenstatistik

lAssoziationsanalyse mit elektronischen BildernKorrektur von Oberflächenverteilungsverzerrungen