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B502, 5. Etage, Zhongcheng Industriepark, Nr. 274, Longhua Industriestraße, Songhe Gemeinde, Longhua Straße, Longhua Distrikt, Shenzhen
Shenzhen Saiyue Elektronik Co., Ltd.
B502, 5. Etage, Zhongcheng Industriepark, Nr. 274, Longhua Industriestraße, Songhe Gemeinde, Longhua Straße, Longhua Distrikt, Shenzhen
Digitale Quelle USM3301Unterstützung von vier Quadranten-Arbeit, die sowohl als Anreizquelle für die externe Stromversorgung als auch als Lastabsorption wirken kann; Mit breiter Reichweite, hoher Auflösung und geringem Rauschen können Funktionen wie I-V-Kurvenscannen realisiert werden; Ein einziges Gerät kann mehrere herkömmliche Elektrogeräte ersetzen. Weit verbreitet in der Forschung, Entwicklung und Produktion von Halbleitern (wie integrierte Schaltungen / optische Geräte, optische Module / Isolatoren), Materialwissenschaften, Energiespeicher, Photovoltaik, IoT und anderen Bereichen。
Digitale QuellenUSM3301Technische Parameter:
Auflösung: 6½ Quelle + 6½ Tabelle
Prüfgenauigkeit: 0,012%
Minimale Programmierungs- und Messauflösung: 10fA/10nV
Maximale Abtastgeschwindigkeit: 50kS/s
Maximale Ausgabe: 300V / 1A / 30W

Integriertes Design für sechs Maschinen
Sechs Maschinen vereint
Integrierte Spannungsquelle, Stromquelle, elektronische Last, Spannungsmesser, Strommesser und Widerstandsmesser sechs Kernfunktionen.
Die gesamte Szene
Ein Gerät kann Testanforderungen wie Stromausgang, Lastsimulation und mehrparametrische Messungen erfüllen.
Effiziente Kosteneinsparungen
Vereinfachen Sie den Testprozess, sparen Sie Platz und Kosten und bieten eine One-Stop-Lösung für Forschung, Entwicklung, Produktion und Qualitätskontrolle.

All-in-One Four Quadrant Abdeckung von Multi-Szene-Tests
Allmächtige Vier Quadrante
±300V / ±1A, Quelle, Falle, Messung 3-in-1.
Eine Kommunikation
Leistungsausgang, Lastsimulation und mehrparametrische Messung für den gesamten Prozess.
Effiziente Präzision
Integrierte Lösungen für die Entwicklung und Prüfung von Elektronik.

Drei professionelle Scanmodus
Umfassende Abdeckung vielfältiger Testanforderungen
- Linearer Scan: Gleichmäßiger Test in gleichmäßigen Schritten, geeignet für die Analyse der Eigenschaften der herkömmlichen Komponenten IV.
- Logaritmisches Scannen: Breite Reichweite nichtlineares Scannen, präzise Abdeckung von hohen und niedrigen Widerständen, breiten Spannungen und anderen Mehrbereichsszenen.
- Listenscan: Anpassen Sie beliebige Testpunkte, um komplexe Arbeitsbedingungen flexibel zu simulieren und kundenspezifische Anforderungen zu erfüllen.
Scan-Testkapazitäten für Forschung, Entwicklung und Qualitätskontrolle*

Integrierte dreikernige mathematische Berechnungsfunktion
Dreikernige mathematische Berechnungen ermöglichen es dem Gerät, drei Arten von Daten lokal in Echtzeit zu konvertieren
Prozentsatz-Berechnung: Schnelle Pass/Fail-Bestimmung und intuitive Darstellung der Testergebnisse.
Reciprocal Countdown: Direkte Umsetzung des Widerstands R in den Leiter G (G = 1/R).
mx+b Linearumwandlung: Genaue Umrechnung von Spannung (U) in Temperatur (℃/mmmTemperatur).
Ein integrierter Algorithmus verarbeitet Daten in einem Schritt ohne zusätzliche Berechnungen.

Menschliche Interaktion
-5 Zoll HD-Touchscreen für intuitive Bedienung
-2U Standard-Gehäusehöhe, passende Gehäuseintegration
- Doppel-Ausgang der vorderen und hinteren Platte, vorderen Bananenkopf für schnelle Tests, hintere drei Koaxien für hohe Präzisionsmessanforderungen
- Ausgestattet mit USB, LAN, digitalen I/O, GPIB und mehr
Kompatibel mit dem SCPI-Standardprotokoll für einfache automatisierte Tests und Systemintegrationen
Kombinieren Sie die einfache manuelle Bedienung mit der Skalierbarkeit der automatisierten Tests, um die vielfältigen Testanforderungen von Forschung, Entwicklung und Produktionslinien zu erfüllen.

Unterstützt 1 Host + 6 von der Maschine Synchronisierung Trigger Funktion
Ein Host kann 6 Geräte einheitlich steuern, um Zeitsynchronisierung, Signalsynchronisierung und Testsynchronisierung zu erreichen.
Einfacher Aufbau von Multi-Channel-Parallel-Testsystemen
Erhöhung der Effizienz von Multi-Device- und Multi-Station-Tests
Für automatisierte Produktionslinien und parallele Testszenarien mit mehreren Kanälen.