Brook Stufenmesser Sonde-Oberflächenkontimeter

Sondenprofiler/Stufenmesser- Deck Pro.

Reife Technologie, verbesserte Leistung

Dekorieren Sie Pro

Brook Stufenmesser Sonde-OberflächenkontimeterDektak Pro ™ Aufgrund seiner Vielseitigkeit, der einfachen Bedienung und der präzisen Präzision werden bei der Messung von Foliendicke, Stufenhöhe, Spannung, Oberflächenrauheit und Wafer-Verzerrung weit gelobt. Elfte Generation Dektak ® Das System, mit einer hervorragenden Leistung bei 4 Å Wiederholbarkeit und einer 200 mm Plattformoption, ermöglicht eine Vielzahl von Analysen der Oberflächenformation von Materialien sowohl in der Forschung als auch in der Industrie. Bei der Oberflächenmessung ist Dektak Pro die ideale Wahl für Mikroelektronik, Film- und Beschichtungsanwendungen sowie Life Science-Anwendungen.

Genauere PräzisionGrad

Bei der Sondenprofiliermessung bewegt sich die Sondenspitze entlang der Oberfläche und erhält Höheninformationen über jeden Punkt entlang der Bahn, wodurch eine hochauflösende Oberflächenmorphanalyse möglich ist. Die sondenförmige Profilmessung ist für ihre hohe Genauigkeit und niedrige Kosten weit anerkannt, und neue technologische Fortschritte in der Forschung und Entwicklung erhöhen die Geschwindigkeit und Vielseitigkeit, um den sich ändernden Anforderungen von Präzisionsanwendungen gerecht zu werden.

Leistung und Wiederholbarkeit

Dektak Pro sorgt durch seine hohe Auflösung, Stabilität, Robustheit und Haltbarkeit für zuverlässige und qualitativ hochwertige Ergebnisse in den kommenden Jahren und sogar Jahrzehnten. Die neuen Modelle vererben die Innovationen auf der Dektak-Plattform und bieten eine höhere Auflösung, geringere Geräusche und einen einfacheren Sondenaustausch, die alle für die Optimierung der Wiederholbarkeit und Genauigkeit des Systems von entscheidender Bedeutung sind.

Unter geeigneten Bedingungen kann Dektak Pro sogar eine Stufenhöhe von 1 Nanometer messen und eine Wiederholbarkeit von über 4 Å bei einem Stufenhöhenstandard von 1 Mikrometer erreichen.

Leistung steht im Detail

Brook Stufenmesser Sonde-OberflächenkontimeterDas Einzelbogen-Design von Dektak Pro reduziert effektiv die Empfindlichkeit gegenüber ungünstigen Umweltbedingungen wie Lärm und Vibrationen und bietet gleichzeitig Platz für große Probentests. Eine neue Generation intelligenter Elektronikanwendungen minimiert Temperaturänderungen und elektronische Geräusche, wodurch Fehler und Unsicherheiten bei hochpräzisen Messungen reduziert werden.

Der Low Inertia Sensor (LIS 3) ermöglicht es dem System, sich schnell an plötzliche Änderungen der Oberflächenform anzupassen, um Genauigkeit und Reaktionsfähigkeit in dynamischen Messszenarien aufrechtzuerhalten. Die Sondenwechseltechnologie eliminiert die Notwendigkeit von Fehlerstellungen und Systemerneuerungen durch die selbstorientierte Sondenklammerung und ermöglicht einen einfachen Sondenwechsel in weniger als einer Minute.

Schnelle Ergebnisse

Dektak Pro verwendet die Technologie der Straight-Drive-Scanplattform, eine fortschrittliche Scanplattform-Technologie, die die Messzeit erheblich verkürzt, ohne die Auflösung und den Rauschboden zu beeinträchtigen, wodurch die Erfassung von Ergebnissen für 3D-Profil- oder Langkonturscans beschleunigt wird, während eine hervorragende Datenqualität und Wiederholbarkeit erhalten werden.

Vision64 ® Die Software nutzt eine 64-Bit-Parallelverarbeitungstechnologie, die eine schnelle Datenverarbeitung auch bei großen Datenmengen ermöglicht. Darüber hinaus vereinfacht die automatisierte Analyse von mehreren Scans wiederholte Aufgaben und erhöht die Geschwindigkeit und den Komfort.

Einfachere Bedienung

Die Datenerfassung erfolgt in der Vision64-Software von Bruker, die eine vereinfachte grafische Benutzeroberfläche bietet, die eine intelligente Architektur, intuitive visualisierte Workflows und umfangreiche benutzerdefinierte Automatisierungsfunktionen kombiniert. Dektak Pro verbessert das Datenerfassungserlebnis weiter, was sich jetzt in:

Kleinere optische Verzerrungen ermöglichen einen klaren Fokus auf den gesamten Blickfeld und erleichtern die schnelle Positionierung von Teststellen

Ein einziger Messkopf deckt eine Stufenhöhe von 1 nm bis 1 mm und eine Last von 1 bis 15 mg ab (bis zu 0,03 mg im N-Lite+-Modus), ohne dass eine Neukalibrierung erforderlich ist

Einfache grafische Benutzeroberfläche zur Automatisierung der Messeinstellungen und zur Vereinfachung des Betriebs

Erweitern Sie Ihre analytischen Fähigkeiten

Der Datenanalysator in Vision64 macht die Analyse durch Datenfilterung, automatische Abgleichung, automatische Stufenerkennung und Rezeptfunktionen leistungsstarker und einfacher.

• Treppenhöhe

Der leistungsstarke neue Stufenhöhenalgorithmus von Dektak Pro liefert zuverlässige und umfassende Ergebnisse für eine Vielzahl komplexer Oberflächenkonturmessungen. Die automatisierten Analyseprogramme minimieren zudem die Auswirkungen des Benutzers auf die Berechnung der Stufenhöhe und verbessern die Konsistenz und Objektivität der Dateninterpretation.

• Oberflächenrauheit und Wellen

Dektak Pro bietet eine kostengünstige und benutzerfreundliche Lösung zur Quantifizierung von Oberflächenrauheit, Textur und Welligkeit mit hoher Präzision. Eine Vielzahl von Sondenspezifikationen, benutzerdefinierte Sondenkraft (1-15 mg, mit N-Lite+ bis zu 0,03 mg) und ein vertikaler Messbereich von bis zu 1 mm ermöglichen Messungen auf einer Vielzahl von Oberflächen.

• 2D-Spannungsmessung

Mit Dektak Pro hat der Anwender eine starke Kontrolle über die 2D-Spannungsanalyse. Durch die Entfernung von benutzerdefinierten Abweichungspunkten und die Anpassung von Grenzen können wiederholbare und genauere Spannungsmessungen erzielt werden.

• Wafer-Verformung und 3D-Spannungsmessung

Die genaue Beurteilung von Verformungen durch Membranspannungen ist entscheidend für die Entwicklung kontrollierter Prozesse und die Herstellung hochwertiger Geräte. Dektak Pro misst präzise Membranspannungen, die zu Verformungen, Rissen und Schichtabtrennungen führen können.

Umfassende Anwendungsumgebung

Dektak Pro erfüllt die Anforderungen an Forschung und Entwicklung, Prozessentwicklung und aktuelle und zukünftige Qualitätssicherung/Qualitätskontrolle (QA/QC) und eignet sich für eine Vielzahl von industriellen und Forschungsanwendungen, darunter:

• Mikroelektronik

Überwachung von Ablagerungs- und Erosionsprozessen

Messgeräte und Sensorhöhen

Einschätzung der Trenntiefe

• Folien und Beschichtungen

Überprüfung der UV-/gehärteten Beschichtung der Brille

Optimierung der Dekorationsbeschichtung auf Armaturen/Zubehör

Analyse der Dicke der Lack- oder Tintebeschichtung

• Lebenswissenschaften

Analyse der Dicke von Biomaterialien

Bewertung der Oberflächenformation von Biosensoren

Charakterisierung des Mikrofluidkanals