Brook Dektak Serie Stufenmesser/Sondenprofilmesser

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Brook Dektak Serie Stufenmesser/Sondenprofilmesser

_Brook Dektak Serie Stufenmesser/SondenprofilmesserEs eignet sich für eine Vielzahl von Bereichen wie die Oberflächenmessung im Nanoskala, die Oberflächenmorphanalyse und andere, mit mehr als 50 Jahren Forschung und Entwicklung, reife Technologie und zuverlässige Leistung.

Die Geräte ermöglichen eine hervorragende Wiederholbarkeit von 4Å (0,4nm) und eine schnelle Scangeschwindigkeit, die die Implementierung von nanoskaligen Oberflächenmorometrietechnologien in den Branchen Mikroelektronik, Halbleiter, Touchscreens, Solarenergie, hochhelle LEDs, Medizin- und Materialwissenschaften, Film- und Beschichtungen sowie Life Science-Anwendungen unterstützt.

Die neue Generation von Brook Treppenmessen - Dektak Pro

Dektak Pro ™ Aufgrund seiner Vielseitigkeit, der einfachen Bedienung und der präzisen Präzision werden bei der Messung von Foliendicke, Stufenhöhe, Spannung, Oberflächenrauheit und Wafer-Verzerrung weit gelobt. Elfte Generation Dektak ® Das System, mit einer hervorragenden Leistung bei 4 Å Wiederholbarkeit und einer 200 mm Plattformoption, ermöglicht eine Vielzahl von Analysen der Oberflächenformation von Materialien sowohl in der Forschung als auch in der Industrie. Bei der Oberflächenmessung ist Dektak Pro die ideale Wahl für Mikroelektronik, Film- und Beschichtungsanwendungen sowie Life Science-Anwendungen.

Leistung und Wiederholbarkeit

Dektak Pro sorgt durch seine hohe Auflösung, Stabilität, Robustheit und Haltbarkeit für zuverlässige und qualitativ hochwertige Ergebnisse in den kommenden Jahren und sogar Jahrzehnten. Die neuen Modelle vererben die Innovationen auf der Dektak-Plattform und bieten eine höhere Auflösung, geringere Geräusche und einen einfacheren Sondenaustausch, die alle für die Optimierung der Wiederholbarkeit und Genauigkeit des Systems von entscheidender Bedeutung sind.

Unter geeigneten Bedingungen kann Dektak Pro sogar eine Stufenhöhe von 1 Nanometer messen und eine Wiederholbarkeit von über 4 Å bei einem Stufenhöhenstandard von 1 Mikrometer erreichen.

Leistung steht im Detail

Das Einzelbogen-Design von Dektak Pro reduziert effektiv die Empfindlichkeit gegenüber ungünstigen Umweltbedingungen wie Lärm und Vibrationen und bietet gleichzeitig Platz für große Probentests. Eine neue Generation intelligenter Elektronikanwendungen minimiert Temperaturänderungen und elektronische Geräusche, wodurch Fehler und Unsicherheiten bei hochpräzisen Messungen reduziert werden.

Der Low Inertia Sensor (LIS 3) ermöglicht es dem System, sich schnell an plötzliche Änderungen der Oberflächenform anzupassen, um Genauigkeit und Reaktionsfähigkeit in dynamischen Messszenarien aufrechtzuerhalten. Die Sondenwechseltechnologie eliminiert die Notwendigkeit von Fehlerstellungen und Systemerneuerungen durch die selbstorientierte Sondenklammerung und ermöglicht einen einfachen Sondenwechsel in weniger als einer Minute.

Schnelle Ergebnisse

Dektak Pro verwendet die Technologie der Straight-Drive-Scanplattform, eine fortschrittliche Scanplattform-Technologie, die die Messzeit erheblich verkürzt, ohne die Auflösung und den Rauschboden zu beeinträchtigen, wodurch die Erfassung von Ergebnissen für 3D-Profil- oder Langkonturscans beschleunigt wird, während eine hervorragende Datenqualität und Wiederholbarkeit erhalten werden.

Vision64 ® Die Software nutzt eine 64-Bit-Parallelverarbeitungstechnologie, die eine schnelle Datenverarbeitung auch bei großen Datenmengen ermöglicht. Darüber hinaus vereinfacht die automatisierte Analyse von mehreren Scans wiederholte Aufgaben und erhöht die Geschwindigkeit und den Komfort.

Klassisches und zuverlässiges Treppenmesser - Dektak XT

Das Brook DektakXT Sondenprofiler (Stufenmesser) kombiniert revolutionäres Desktop-Design mit ReifeDie Technologie und das Design ermöglichen die Einheit von hoher Leistung, hoher Benutzerfreundlichkeit und hohem Kostenverhältnis, von der Forschung und Entwicklung bis zur Qualitätskontrolle.

Eigenschaften:

- Leistungsstarke Stufenwiederholbarkeit unter 4Å

Single-Arch-Design für bahnbrechende Scanstabilität

- Verbesserte „intelligente Elektronik“ für verbesserte Präzision und Stabilität

Optimierte Hardware-Konfiguration, die die Datenerfassungszeit um 40 % verkürzt

64-Bit-Synchronisierungssoftware Vision64 für zehnmal schnellere Datenanalyse

- Intuitive Vision64 Benutzeroberfläche für einfachere Bedienung

- Automatisches Nadelspitzen-Kalibrierungssystem, mit dem der Benutzer die Nadelspitzen einfach austauschen kann

- Vielfältige Sondenmodelle

Single-Sensor-Design

- Sicherstellung hoher Durchflussprüfungen

Sondenprofiliertes System / Stufenmesssystem -Dektak XTL

Das Dektak XTL Sondenprofiliersystem (Stepper System) ist ein Sondenprofiliersystem für Anwendungen wie die Herstellung von großen Wafers und Platten, das Proben von bis zu 350 mm x 350 mm aufnimmt und eine hohe Präzisionsscannleistung sowie eine hervorragende Wiederholbarkeit und Reproduzierbarkeit bietet.

Die Anlage ist mit Luftschwingungsisolation und vollständig geschlossener Arbeitsstation konzipiert und verfügt über einfach zu bedienende Verriegelungstüren, die in anspruchsvollen Produktionsumgebungen verwendet werden können. Dual-Kamera-Architektur zur Verbesserung der Raumwahrnehmung. Ein hohes Automatisierungsniveau maximiert den Testfluss.

Eigenschaften:

- Leistungsfähigkeit der Dektak-Serie

- Einbogen-Architektur, integriertes Schwingungsisolierungssystem und große Verriegelungstüren

- Größerer Arbeitstisch für hochpräzise Codierung von XY-Proben

- Doppelkamera-Steuerungssystem

- Einfache Analyse und Datenerfassung

- N-Lite Low Power mit Soft Touch-Technologie

- Zuverlässige Automatisierung und Betrieb

- Verbesserte Analysesoftware

- Automatisches Nadelspitzen-Kalibrierungssystem, mit dem der Benutzer die Nadelspitzen einfach austauschen kann

- Vielfältige Sondenmodelle