Elektronischer ROHSX-Strahlenfluorescenzanalyser für Metallkomponentenanalyse

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Das japanische Elektronische ROHSX-Fluoreszenzanalysator für Metallkomponentenanalyse (SXES: Soft X-Ray Emission Spectrometer) erzielt eine hohe Energieauflösung durch die Kombination eines neu entwickelten Diffraktionsrasters mit einer hochempfindlichen Röntgen-CCD-Kamera. Wie EDS kann parallel detektiert werden und mit einer hohen Energieauflösung von 0,3 eV (Al-L-Benchmark am Fermi-Rand) analysiert werden, die die Energieauflösung des WDS übertrifft.

Produktdetails

Das Röntgenfluorescenzspektrometer JSX-1000S ist mit einem Touchscreen bedient und ermöglicht eine einfachere und schnellere Elementanalyse. Es verfügt über regelmäßige Vorschriften, quantitative Analyse (FP-Methode, Inspektionslinie), RoHS-Element-Screening-Funktion usw.Elektronischer ROHSX-Strahlenfluorescenzanalyser für MetallkomponentenanalyseReiche Auswahl an Hardware/Software-Zubehör und umfassendere Analysen.

Hauptmerkmale

1. Einfache Bedienung

* Elektronischer ROHSX-Strahlenfluorescenzanalyser für MetallkomponentenanalyseInstallieren Sie einfach die Probe und berühren Sie den Bildschirm.

* Der Berührungsbegriff ermöglicht auch den Wechsel der Anzeige von Analyseergebnissen und Spektrogrammen, so einfach wie mit Tablets und Smartphones (auch mit Tastatur und Maus).

* Die GUI ist einfach zu verstehen und intuitiv zu bedienen.

日本电子ROHSX射线荧光分析仪金属成分分析

2. Hohe Empfindlichkeit & hoher Durchsatz

Die neu entwickelten SDD (Silicium Drift Detector) von JEOL sowie ein neu entwickeltes optisches System und Filter, die den gesamten Energiebereich unterstützen, ermöglichen eine hochempfindliche Analyse. Die Installation einer Probenraum-Vakuumaufgasseinheit (optional) kann die Empfindlichkeit für leichte Elemente erhöhen.

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Hochempfindliche Analyse im gesamten Energiebereich

Mit Filtern (bis zu 9 Arten*) und Probenraum-Vakuum-Abgasseinheiten können hochempfindliche Analysen im gesamten Energiebereich durchgeführt werden.

* Cl, Cu, Mo und Sb sind optional

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Spurenelementedetektion (unter 10 ppm)

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3. Lösungen anbieten

Die Lösungsanwendungen führen automatisch die gewünschten Testanalysen auf der Grundlage von bereits angemeldeten Rezepten durch. Wählen Sie einfach das Symbol der Ziellösung aus der Liste der Lösungsanwendungen aus, um die Analyseergebnisse zu erhalten, die eine vereinfachte Analyse für eine Vielzahl von Branchen bieten.

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Die neu entwickelte intelligente FP-Methode (Basic Parametric Method) erfordert keine Probenbereitung und korrigiert die Restbestandteile und Dicken automatisch, um hochpräzise quantitative Ergebnisse zu erzielen.
(Restbestandteile und Dickenkorriktur unterstützen nur organische Proben)

Dicke	Korrektur	Cr	Zn	CD	Pb	Automatische Balance
0,5 mm	Nichts	0.008	0.037	0.001	0.002	99.76
3,8 mm	Nichts	0.012	0.109	0.004	0.006	99.64
0,5 mm	haben	0.011	0.137	0.015	0.010	99.54
3,8 mm	haben	0.011	0.134	0.016	0.011	99.55
Standardwerte		0.010	0.125	0.014	0.010

(Massenprocent)
Hauptparameter

Detektionselementenbereich	Mg bis U
Detektionselementenbereich	F bis U (optional)
Röntgengeschichte	5 bis 50 kV, 1mA
Ziel	Rh
Einmalige Filter bis zu 9 Arten Automatischer Wechsel	Normen: OPEN, ND, Cr, Pb, Cd
Einmalige Filter bis zu 9 Arten Automatischer Wechsel	Auswahl: Cl, Cu, Mo, Sb
Gleichrichter 3 Arten Automatischer Wechsel	0,9 mm, 2 mm, 9 mm
Detektoren	Siliziumdriftdetektor (SDD)
Probenraumgröße	300mmφ × 80mmH
Probe Raum Atmosphäre	Atmosphäre / Vakuum (optional)
Probenraumbeobachtungsstelle	Farbkamera
Betriebscomputer	Windows ®　 Touchscreen Desktop-Computer
Analysesoftware (Standard)	Qualitative Analyse (automatische Qualifizierung, KLM-Markierung, Spitzenanzeige, Spektrogrammsuche) Quantitative Analyse (Block-FP-Methode, Inspektionslinie) RoHS-Analyselösungen (Cd, Pb, Cr, Br, Hg) Einfache Analyselösungen Berichterstellungssoftware
Analysesoftware (optional)	Analysesoftware für die FP-Methode Assoziationsfilter FP-Analysesoftware
Tägliche Inspektionssoftware (Standard)	Kugeldruckerhöhung, Energiekorrektur, Festigkeitskorrektur

Windows ® Eine eingetragene Marke oder Marke von Microsoft in den USA oder anderen Ländern.
Japanische Elektronik ROHSX Strahlenfluorescenzanalyser Metallzusammensetzung Analyse Hauptzubehör:
1. Probe-Raum-Vakuum-Abgaseinheit
2. Multi-Probe-automatische Austausch-Einheit
3. Filtergruppe
4. Filterfilm FP Methode Analyse Software
5. Film FP Methode Analyse Software
6. Und Spitze Beseitigung Software
7. Nickelbeschichtete Siebelösungen
8. Siebelösungen für Zinnbeschichtungen
9. Chlor-Element-Screening-Lösungen

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