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16, Yezhuang Road, Daye Road, Fengxian District, Shanghai
Shanghai Haixiang Instrument Equipment Factory
16, Yezhuang Road, Daye Road, Fengxian District, Shanghai

1. Produktüberblick:
Diese Ausrüstung eignet sich für Schulen, Fabriken, Militärindustrie, wissenschaftliche Forschungseinheiten, Labore, Universitäten und andere Einheiten, um verschiedene Leistungsindikatoren, Lagerung und Anpassung der Verwendung verschiedener elektronischer Komponenten in hohen Temperaturen, Tieftemperaturen oder abwechselnden Umgebungen zu prüfen.
Technische Parameter:
Modell/ Name |
Schnelltemperatur-Feuchtigkeits-Hitze-Testkammer HXKB-500L |
Innere Gallengröße |
800*600*850mm (Breite * Tiefe * Höhe) |
Temperaturbereich |
-60℃~150℃ |
Wechselkreistemperatur |
-50~120℃ |
Temperaturschwankungen |
±0.2℃ |
Liter/ Kühlgeschwindigkeit |
15℃/ Minuten |
Feuchtigkeitsbereich |
20%~98%RH, Elektronisch |
Stromversorgungsspannung |
380V/50Hz Dreiphase |
Größe |
2010 *1610*1930mm |
Leistung |
49KW |
Testlöcher |
Links gibt es100 mm Testlöcher 2 für externe Stromkabel |
Fahrzeugscheiben |
4 Stück / Stück (maximales Gewicht 50Kg / Stück) |
3. Gehäusestruktur:
lDie Form des Gehäuses ist schön und großzügig, die CNC-Werkzeugmaschine verarbeitet, und der Griff ohne Reaktion ist einfach zu bedienen.
lGehäuse aus hochwertigem Edelstahl (SUS304) Spiegelplatte, Gehäuse mit elektrostatischem Spritzgießen von kaltgewalztem Stahlblech, erhöht die Aussehen-Textur und Sauberkeit.
lGroße Beobachtungsfenster mit Beleuchtung halten das Gehäuse hell und mit eingebettetem gehärtetem Glas im Heizkörper können die Bedingungen im Gehäuse jederzeit klar beobachtet werden. Auf der linken Seite des Gehäuses sind Prüflöcher für externe Versorgungs- oder Signalleitungen ausgestattet.(Durchmesser oder Anzahl der Löcher muss bei der Bestellung angegeben werden.)
lDer Boden der Maschine besteht aus hochwertigen, feststehenden PU-Bewegungsrädern.
Vier.Erfüllt die Kriterien:
lGB-2423.1-89 (IEC68-2-1) Prüfung A: Kryotemperaturprüfmethode.
lGB-2423.2-89 (IEC68-2-2) Prüfung B: Hochtemperaturprüfmethode.
lGJB360.8-87 (MIL-STD-202F) Hochtemperaturlebensprüfung.
lGBJ150.3 (MIL-STD-810D) Hochtemperaturprüfmethode.
lPrüfmethode GJB150.4 (MIL-STD-810D)
lGB/T 2423.2-2008 Prüfung B: Hochtemperaturprüfmethode
lGB10586-89 Technische Bedingungen für die Tieftemperatur-Prüfkammer
lGB/T10592-89 Technische Bedingungen der Hoch- und Tieftemperatur-Prüfkammer
lGB10592-89 Technische Bedingungen der Hoch- und Tieftemperatur-Prüfkammer
lGB11158 Technische Bedingungen der Hochtemperatur-Prüfkammer
lGB2423.1-89 Grundlagenprüfverfahren für Elektrotechnik und Elektronik Prüfung A: Prüfmethode bei niedrigen Temperaturen
lGB2423.2-89 Grundlagenprüfverfahren für Elektrotechnik und Elektronik Prüfung A: Hochtemperatur-Prüfmethode
lIEC60068-2-1.1990 Prüfverfahren in der Tieftemperatur-Prüfkammer
lIEC60068-2-2.1974 Hochtemperatur-Prüfkammer-Prüfverfahren
15 ° C pro Minute Schnelle Temperaturänderung Testbox Nass-Heiß-Alterungsbox