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Hunan Greber Elektronik Technologie Co., Ltd.
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Testsysteme zur Elektrosignalautomatisierung

VerhandlungsfähigAktualisieren am05/15
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AEMS ist ein umfassend aktualisiertes automatisiertes Messsystem für die Signalintegrität, das speziell für PCIe und USB4/TBT entwickelt wurde. Herausforderungen: Probleme bei der Signalqualitätstest: Das Zeitalter der KI und des High-Speed-Computing kommt, die Nachfrage nach Hochgeschwindigkeitsdatenübertragung steigt ständig, während die Hochgeschwindigkeits-Übertragung allmählich Probleme mit der Signalintegrität auftritt, so dass die Messung von elektrischen Signalen ein nicht zu vernachlässigendes Projekt wird.

Produktdetails

Zusammenfassung:AEMSEs ist ein umfassend aktualisiertes automatisiertes Messsystem für die Signalintegrität, das speziell für PCIe und USB4/TBT entwickelt wurde.

Herausforderungen:Probleme bei der Signalqualitätsprüfung:

KIMit dem Zeitalter der Hochgeschwindigkeitsberechnung steigt die Nachfrage nach Hochgeschwindigkeitsdatenübertragung, während die Hochgeschwindigkeitsübertragung allmählich Probleme mit der Signalintegrität auftritt, so dass die Messung des elektrischen Signals ein nicht zu vernachlässigendes Projekt wird.



PCleQualitätsmessung des Signals:

• Große Testaufwand:

Für den Tx-Test eines 8-Slot (x16)-Servers auf PCIe 5.0 werden bis zu 4.608 Eyemaps erkannt und der gesamte Testprozess dauert ungefähr 40 Arbeitstage.

• Einschränkter Testbereich:

Im Allgemeinen reduziert die Industrie den gesamten Testbereich um 50 bis 80 Prozent, was die Wirksamkeit der Qualitätssicherung erheblich beeinträchtigen kann und dazu führen kann, dass potenzielle Probleme nicht ausreichend erkannt werden.

• Herausforderungen der Qualitätssicherung:

Bei manuellen Tests kann das Risiko von Fehlern aufgrund von Betriebsfehlern erhöht werden, was die Genauigkeit und Zuverlässigkeit der Testergebnisse beeinträchtigt.

Anforderungen an KI/Automatisierungslösungen:

Um Effizienz und Genauigkeit gleichzeitig zu steigern, benötigt die Industrie dringend KI- und Automatisierungstechnologien, um Testprozesse zu optimieren und das Fehlerrisiko zu verringern, das durch manuelle Operationen entstehen kann.

Zusammensetzung der AEMS-Architektur:


电气讯号自动化测试系统


High Speed Lanes Schalter

Unterstützung bis zu 16 Spuren Tx

40 GHz Bandbreite ⇒ Unterstützung für PCIe 5.0/6.0

Das Gesamtverlustbudget wird berechnet

S4P-Datei wird zur Verfügung gestellt, um mit Spezifikationen zu passen

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PCIe-Testeinrichtung

PCIe Test Fixture unterstützt die folgenden Formfaktoren:

● CEM

● OCP-Netzwerk 3.0

● EDSFF E1/E3

● U.2/U.3

● M.2

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Drei Merkmale der Automatisierungssoftware

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Automatisierte Schaltbahn:
Schalten Sie die Lane automatisch über den High Speed Lanes Switch

Automatisierte Test Pattern-Umschaltung:
Steuerung von CMTS automatisch umschalten Test Pattern

• Geräteinrichtung und Datenerfassung:
Steuertes Testgerät lädt Profile und erfasst oder speichert Wellenformen automatisch

• Flexible Konfigurationsoptionen:
Vielfältige Konfigurationsoptionen je nach Generation, Lane und Preset Mode

Synchronisierbar oder unabhängig:
Die Konvertierung der Software kann gleichzeitig oder unabhängig erfolgen

Keine menschliche Umsetzung erforderlich:
Konvertierungssoftware kann ohne jemanden ausgeführt werden

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Wie kann AEMS Ihnen helfen, Ihre Testleistung zu verbessern? Wichtige Vorteile auf einmal!

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AEMS unterstützt PCIe-Tests und steigert die Effizienz!

PCIe 5.0 CEM/OCP NIC 3.0 Tx Messergebnisse

PCIe 5.0 Test (CEM oder OCP NIC 3.0/16 Lanes)⇒ Tx量测 (Gen1-5, alle vorgegebenen Modus)

Wählen Sie AEMS und durchbrechen Sie Testengpässe!