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Raum 311, Gebäude 5, 526 Fudong Road 3, Freihandelszone, Pudong, Shanghai
Tongcheng Instrument (Shanghai) Co., Ltd.
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Tragbares Rauheitsmesser SURTRONIC Duo von Taylor
Rauheitsmeter wird auch als Oberflächenrauheitsmeter, Oberflächenrauheitsmeter, Oberflächenrauheitsdetektor, Rauheitsmesser, Rauheitsmesser, Rauheitstester und andere verschiedene Namen bezeichnet, die im Ausland zuerst geforscht und produziert wurden, bevor sie in das Inland eingeführt wurden. Taylor hat eine Vielzahl von Rauheitsmessern, die in der Regel weit verbreitet werden, sind DUO und 25. Wenn nur die Rauheit gemessen wird, sind es DUO und 25.
DUO ist in zwei Hemisphären unterteilt, die Mess- und Bedienungsteile sind trennbar und werden über drahtlose Signale übertragen. Das bedeutet, dass der Bediener bei der Messung nicht vor Ort sein kann, solange der handgehaltene Anzeigeteil die Messungen sehen kann, das ist das alte Modell, das neue Modell ist quadratisch trennbar.
Tragbares Rauheitsmesser SURTRONIC Duo von Taylor
25 ist ein berührbares Rauheitsmesser, verbinden Sie zuerst den Sensor an der einstellbaren Halterung am vorderen Ende des Instruments, und das End des Sensors ist mit dem Instrument über eine Leitung verbunden. Wenn die Stirnnadel vertikal mit dem gemessenen Werkstück in Berührung kommt, wird die Oberfläche des Werkstücks beim Einschalten durch den Instrumentensensor gemessen. Sensorhöhe kann über einstellbare Halterung an der Frontseite eingestellt werden
Eigenschaften:
Haltbarkeit: Selbst bei Fehlbetrieb wird es nicht leicht beschädigt.
• Wartungsbedingungen Es ist einfach, Staub und Ölverschmutzung zu entfernen, die sich während des Gebrauchs angesammelt haben.
• Anwendbarkeit 1 kann als Filter verwendet werden, um die höchsten Oberflächenfrequenzen zu entfernen, die die Messungen in kontrollierten Umgebungen zuverlässiger machen, während andere Taylor Hopson-Instrumente eine Nadel mit einem Radius von 2 µm (80 uin) verwenden. Dieser kleinere Radius kann in Kombination mit einem Sensormesskopf mit geringerer Berührungskraft verwendet werden, um minimale Oberflächenfehler zu analysieren.