09,16,2026 4Ansichten
Fokussierte Ionenstrahlprodukte sindKernwerkzeug für den Wandel von „erfahrungsgetriebener“ zu „datengetriebener“ MaterialforschungInMaterialwissenschaften, Biowissenschaften, Industrieprüfungen,HalbleiterBereiche wie FehleranalyseSie spielen eine unersetzliche Rolle，undQualitative Charakterisierung, Probenvorbereitung und 3D-RekonstruktionpositivEs ist sein breites und zentrales Anwendungsszenario..
ZEISS vertieft seine Lokalisierungsstrategie kontinuierlich und führt auf dem chinesischen Markt das neue fokussierte Ionenstrahlscannelektroskop Crossbeam 330 auf.Crossbeam 330 ist speziell für Kernszenen wie qualitativ hochwertige Charakterisierung und Probenvorbereitung entwickelt worden.Umfassende Abdeckung von qualitativ hochwertiger Bildgebung / Schnittanalyse, TEM-Probenvorbereitung durch tiefe Integration von Elektronik- und Ionenspiegeln,Mikronanobearbeitung、 Anwendungsanforderungen wie 3D-Charakterisierung.Speziell entworfene leckfreie Magnetspiegel-Zylinder und in-Zylinder-Reduktionstechnologie können sich einfach an komplexe Proben wie magnetische, nicht leitende Proben anpassen, ohne komplizierte Vorbehandlung zu erfordern, und können während des Bearbeitungsprozesses in Echtzeit überwacht werden, um eine hochauflösende Charakterisierung und präzise Bearbeitung zu erreichen.
Drei große.Besonderheiten：
01
“Stark” Charakterisieren：Hochwertige Bildgebung und umfassende Probenkompatibilität durch das klassische Gemini Elektronik-Optik-System ermöglichen Ihnen eine überlegene Leistung in FIBBildverarbeitung von SEM
02
„Schnell“ vorbereitet：Gute Charakterisierungsfähigkeit in Kombination mit einer Ionenpistole mit hohem Durchsatz ermöglicht eine schnelle Probenvorbereitung und qualitativ hochwertige Charakterisierung von Sub-Oberflächenstrukturen
03
„Einfach“ TEM: außergewöhnlichDie Ionenstrahleigenschaften sorgen für eine einfache Vorbereitung von hochwertigen TEM-Folienproben; Mit neu entwickelten automatisierten Prozessen und benutzerfreundlicher Software können die Herausforderungen bei der TEM-Probenvorbereitung erheblich reduziert werden.
Von der ganzheitlichen Analyse des Makros bis hin zur tiefen Untersuchung mikroskopischer Mechanismen entwickelt sich die Spitzenforschung schnell in eine skalübergreifende, mehrdimensionale Richtung, und die Anforderungen an komplexe und systematische Charakterisierung sind zum Kernzeichen wissenschaftlicher Durchbrüche und industrieller Innovationen geworden, die auch reale Herausforderungen wie Datenfragmentierung, mühsame Bedienung von mehreren Geräten und Fragmentierung von Analyseprozessen mit sich bringen.
Kreuzstrahl 330 lässt sich nahtlos in die umfassenden Charakterisierungslösungen von ZEISS integrieren, mit den einzigartigen Charakterisierungsvorteilen verschiedener Geräte wie Tiefenverbindungsoptische Mikroskope, Röntgenmikroskope und andere. AutomatisierungDer ROIKontinuierliche Charakterisierung und Multimodalanalyse，Technische Barrieren zwischen Geräten brechen，Systematische Lösung komplexer Forschungsanforderungen.
Nahtlose Integration in die Forschung auf mehreren Skalen und systematische Lösung komplexer Forschungsanforderungen:
Verbindungsprozesse zwischen Röntgenmikroskop und fokussiertem Ionenstrahlscannelektroskop (XRM-FIB) zur Positionierung, Belichtung, Charakterisierung und Analyse von Batterieverschmutzungen
Das neue ZEISS Fokus Ionenstrahl-Scan-Elektroskop Crossbeam 330 bietet mit seiner hervorragenden Bildgebungs- und Probenvorbereitung, einem intelligenteren Betriebsprozess und einer multimodalen IntegrationsplattformNeue Materialien, Metalle, neue Energien, Geowissenschaften, elektronische Halbleiter und Life SciencesDie Spitzenflächen bieten effiziente und zuverlässige One-Stop-Lösungen für Charakterisierung und Bearbeitung, die Ihnen helfen, einen höheren Durchbruch in der Forschung und eine industrielle Modernisierung zu erreichen.
