In den letzten Jahren wurden nicht gekühlte Infrarot-Fokusebenendetektoren wegen ihrer Leistung geschätzt. Mit seiner breiten Anwendung steigen auch die Anforderungen an die Leistung von nicht gekühlten Infrarot-Fokusebenendetektoren in verschiedenen Bereichen. Unter Anregung der Nachfrage von außen haben nicht gekühlte Infrarot-Detektoren unzählige Verbesserungen und Leistungssteigerungen von ihrer Entstehung vor Jahrzehnten bis zur heutigen weit verbreiteten Anwendung erlebt. Gleichzeitig sind die niedrigen Kostenanforderungen an die Detektorforschung, so dass die Verpackungskosten des Detektors zu einem berücksichtigten Faktor werden müssen. Daher wurde der Selection-Test vor der Verpackung zu einem Forschungs-Hotspot. Dieser Artikel basiert auf der Forschung, die auf diesem Hotspot durchgeführt wurde, und nach der Analyse der Entwicklung der in- und ausländischen Testtechnologie für nicht gekühlte Infrarot-Fokusebenendetektoren sowie der Dynamik der Forschung wurde ein Programm für den automatischen Test von Infrarot-Detektoren vorgeschlagen, der auf der Vakuumsonde basiert. Das automatische Testsystem kann verschiedene Parameter des nicht gekühlten Infrarot-Detektorchips testen und die Reaktionsquote des Chips unter hohen Vakuumbedingungen testen, um die Leistung des Chips zu bewerten und eine Auswahlgrundlage für die Verpackung eines nicht gekühlten Infrarot-Detektorchips zu liefern. Die Hauptforschung dieser Arbeit umfasst drei Aspekte.

(1) Design der Hardware-Testschaltung: Dieser Abschnitt bietet hauptsächlich Antriebsspannung und zeitliche Reihenfolge-Anreize für die Prüfung des Chips, während die Erfassung und Verarbeitung von Spannungssignalen wie die Metareaktion abgeschlossen wird, während der Datenerfassungsabschnitt ein einseitiges Differenznetzwerk entworfen ist, das gemeinsames Rauschen beseitigt und die Antriebsfähigkeit des analogen Spannungssignals verbessert wird.

(2) Konstruktion der Vakuumsonde-Sondekarte: Für verschiedene Arrays von Detektorchips ist in diesem Artikel eine entsprechende Testsondekarte entworfen, während die Erzeugungsschaltung der Ausgrenzungsspannung direkt in die Testsondekarte integriert wird, die Ausgrenzungsspannung kann über die Sonde direkt auf den Chip eingestellt werden, um Störungen während der analogen Signalübertragung zu vermeiden.

(3) Implementierung der automatischen Steuerung des Testsystems: Dieses Design basiert auf der Entwicklungsplattform VC ++, steuert die Vakuumsonde und das FPGA-basierte Testschaltungsmodul über das RS232-Protokoll und nutzt Matlab, um die Verarbeitung und Analyse der Testdaten abzuschließen, um schließlich die automatische Auswahlprüfung der Chips der Serien 320 × 240 und 384 × 288 zu realisieren. Das automatische Testsystem ermöglicht die automatische Prüfung von Wafer- und Singlechips von nicht gekühlten Infrarot-Detektoren, führt die Bewertung der Gesamtleistung des getesteten Chips durch Testergebnisse zu relevanten Parametern wie Reaktionsrate, Rauschen und zeigt die Testergebnisse in Form von Testberichten und Wafermaps. Diese Testergebnisse dienen als wichtige Grundlage für die Auswahl von Chips vor der Verpackung und reduzieren die Testzeit und die Verpackungskosten des Infrarotdetektors erheblich.