-
E-Mail-Adresse
meng.yan@eoptics.com.cn
-
Telefon
18696172880
-
Adresse
Gebäude 6, Financial Harbor 4 Road 10, Donghu New Technology Development Zone, Wuhan
Wuhan Yiguang Technology Co., Ltd
Eine gute Nachricht! Wuhan Yilight Technologie Co., Ltd. erhielt den ersten Preis für technische Erfindung der Provinz Hubei 2019
Datum:2020-08-12Lesen Sie:2
Das Projekt "Schlüsseltechnologien für die elliptische Messung von hochpräzisen Breitspektrum-Müller-Matrixen und Nanomessungsanwendungen", das gemeinsam mit der Wuhan Yalight Science and Technology Co., Ltd. entwickelt wurde, erhielt den ersten Preis für technologische Erfindungen in der Provinz Hubei. Diese Auszeichnung wurde von der Volksregierung der Provinz gegründet, durch den Beurteilungsausschuss der Provinz für wissenschaftliche und technologische Belohnungen und die Prüfung des Ausschusses für wissenschaftliche und technologische Belohnungen der Provinz und die Entscheidung der Volksregierung der Provinz Hubei vergeben, um die Strategie für die Entwicklung mit Innovationsantrieb vertieft umzusetzen und eine starke Innovationsprovinz aufzubauen, um wissenschaftliche und technologische Mitarbeiter und Organisationen zu belohnen, die einen herausragenden Beitrag zum Fortschritt der wissenschaftlichen
Müller-Matrix-Elliptometer sind weit verbreitet in der IC-Fertigung, Flachbild-Displays, Optoelektronik, Photovoltaik, Flexible Elektronik und anderen Ländern in der aufstrebenden strategischen Industrie Nanomaterialien, Nanostrukturen und Grundlagenforschung von Nanogeräten, Fertigungsprozessoptimierung, Online-Überwachung der Massenproduktion und vielen anderen Bereichen von strategischer Bedeutung.
"Hochpräzise Breitspektrum Müller-Matrix-Elliptizmessung Schlüsseltechnologie und Nanomessungsanwendung" das Müller-Matrix-Elliptimeter, das von dem Projekt entwickelt wurde, repräsentiert das hohe Niveau der Elliptimeter-Technologie, dessen Entwicklungsprozess vor allem mit der Breitspektrum-Vollspektrum-Müller-Matrix-Polarisationsmodulationstechnologie, der Präzisionskalibrierung und Fehlerbehebungstechnik der Parameter des Müller-Matrix-Elliptizmesssystems, der Theorie und Methode der komplexen Nanostruktur-Dünnfilm-Elliptizmessung drei Aspekte der technischen Herausforderungen konfrontiert ist.