Ineffiziente Chip-Erkennung? QualitätsvertrauenMikroskopiePositionsfehler im Millisekundengerät des Wärmebildgeräts

In der Welle der schnellen Entwicklung der weltweiten Halbleiterindustrie sind die Präzision und Effizienz der Chipfertigung zu den zentralen Faktoren geworden, die die Wettbewerbsfähigkeit der Branche bestimmen. Als Präzisionsindustrie steht die Chipfertigung vor einer großen Herausforderung bei der Erfassung von Mängeln in der Nanomaschine: Traditionelle Prüfmethoden haben Schwächen bei Geschwindigkeit, Genauigkeit und Echtzeit, die die Effizienz und die Effizienz der Produktion des Chips erheblich einschränken. Vor diesem Hintergrund ist der GlaubeMikroskopieWärmebildgerätSerie X 1280, Serie X640Technischer Durchbruch, dankReaktionsgeschwindigkeit auf Millisekundengeschwindigkeit zur Fehlererkennung auf Micron-Ebene für ChipsHard-Core-Kraft, um eine völlig neue Dynamik für die Chip-Fertigung Industrie.

Die herkömmliche optische Prüftechnik ist aufgrund der optischen Diffraktionsgrenzen begrenzt und schwierig, die Mikrometer-Fehlererkennungsbarriere zu brechen, während das Elektronenmikroskop zwar eine Sub-Nano-Genauigkeit hat, aber aufgrund der langsamen Erkennungsgeschwindigkeit und der Notwendigkeit einer zerstörerischen Probenahme steckt.“Genauigkeit und Geschwindigkeit sind unvereinbar.”Schwierigkeiten; Gleichzeitig verursacht die ungewöhnliche Wärmeverteilung der kleinen Struktur des Chips einen Wärmeausfall, aber die herkömmlichen Infrarot-Wärmekameras unterliegen einer mangelnden räumlichen Auflösung und können immer nicht mikroskopische Wärmefehler genau lokalisieren; Noch widersprüchlicher ist, dass der lange Prozess, der sich auf die manuelle Überprüfung stützt, die Effizienz der Prüfung erheblich beeinträchtigt, zusammen mit dem hohen Preis der Prüfausrüstung, die kontinuierlich den Gewinnraum des Unternehmens beeinträchtigt.“Hohe Kosten, geringe Effizienz und hohes Risiko”Der Teufelskreis wird zu einer technologischen Kette, die den Durchbruch der Industrie behindert.

Sichtbare Kamera Aufnahmen Chip Kernteil Kondensator 2mm * 3mm

Mikrothermische Kameras der Serie X 1280 und X640durchMikroskopieObjektiv mit hochempfindlichen Infrarot-Detektoren,Bis zu 1,3 Millionen Infrarot-Pixel-Punkte, die auch Objekte kleiner als 3 Mikron ermöglichenDie mikroskopische Wärmeverteilung der internen Leitungen und Schweißpunkte des Chips kann eindeutig erfasst werden；Unterstützung pro SekundeBis zu 125HzHochgeschwindigkeits-Wärmebildgebung, Echtzeit-Nachverfolgung der Stromversorgung des Chips, vorübergehende Temperaturänderungen während des Betriebs und frühzeitige Warnung vor lokalen Überhitzungsrisiken；Ausgestattet mit professioneller Temperaturmesssoftware, kann die Emissivität einstellbar sein, um verschiedene Wärmeleitstoffe wie Chip-Verpackungsharz, Metallschweißkugel, Keramik-Substrate und andere genau zu kalibrieren, um die Konsistenz der gesamten Chip-Detektion auf Siliziumbasis, Siliziumcarbid und Galliumnitrid zu gewährleisten.

Mikrothermische Kamera X640F300UM25 für Aufnahmen mit 2mm * 3mm Kapazität

Mikrothermische Kamera X640F300UM17 für Aufnahmen mit 2mm * 3mm Kapazität

Mikrothermische Kamera X640F300UM8 für Aufnahmen mit 2mm * 3mm Kapazität

Mikrometer messbar|Sehen Sie wenig wissen，Temperaturmessung für kleine Objekteund geboren

Qualitativ hochwertige Detektoren und professionelle Algorithmen sind wie ein Paar von "feurigen Augen", die dem Benutzer helfen, die Nuancen des Bildes zu erkennen und die kleinen Temperaturunterschiede in der Szene zu erfassen, so dass das detektierte Objekt unter der Perspektive des "Wärmebildmikroskops" winzig erscheint.

Ausgestattet mit speziellen Ständern für Forschung，Kontinuierliche Online-Überwachung in Echtzeit

Für die kleinen Eigenschaften des gemessenen Objekts, speziell ausgestattet mit der wissenschaftlichen Forschung spezielle Ständer, für das Experiment Objekte auf statische Entfernung Echtzeit-Beobachtung, so dass die thermische Bildgebung wissenschaftliche Forschung Operation reibungsloser, hilft wissenschaftliche Forschungsprojekte wie Faser-Erkennung, Wärmedrähte, Chip-Material beschädigungsfreie Erkennung und andere Bereiche Forschungsprojekte reibungslos vorantreiben, unterstützen wir die individuelle Dingzhi und SDK Sekundäre Entwicklung, um sicherzustellen, dass die Benutzer in der mikroskopischen Forschung in der Lage sind, sich gut zu fühlen, die Kante

Bevorzugt von NutzernMikroskopieWärmekamera，Auswahl der Universitätseinheiten

Die Mikrothermische Kamera X-Serie hat mehrere Forschungseinheiten der Universität unterstützt, die Forschungsprojekte der Wärmebildgebung, wie die Forschung über den thermischen Effekt von Materialien an der Pekinger Universität, die Überwachung des Widerstandsdrahts an der Tsinghua-Universität in Shenzhen, die Laserkristallforschung an der Zhejiang-Universität und andere, die Feinheit und Klarheit der Wärmebildgebung und die Präzision der Temperaturmessung sind von den wissenschaftlichen Nutzern sehr beliebt.

Aufnahme Modell X640D150UM8 (Mikroskop)

Aufnahme Modell X640F615UM8 (Mikroskop)

Aufnahme Modell X640D150UM8 (Mikroskop)

Bis zu Millionen Infrarotpixel+MikroskopieObjektiv，Temperaturmessung von kleinen Objekten in hoher Auflösung

QualitätsvertrauenWissenschaftliche AnwendungWärmekamera für unterschiedliche Kundenbedürfnisse,AnwendungVerschiedene Auflösungen wie 348*288、640*480、1280*1024Ja, Mikroobjektive mit unterschiedlichen Brennweiten können hinzugefügt werdenwie1280*1024MikroskopieWärmekamera 4,8 μm Objektiv、640*512Mikrothermische Kamera 17 μm Objektiv,640*512Mikrothermische Kamera 8 μm Objektiv, bis zu 1,3 Millionen Infrarot-Pixel-Punkte, sogar Objekte, die kleiner als 3 Mikron sind, können eine hohe Auflösung thermische Bildgebung Temperaturmessung erreichen.

Infrarotbildgerät mit 4,8 μm Mikroobjektiv

ausgestattetIRStudio Forschungssoftware，unterstützenKurvenanalyse | Frame-für-Frame-Analyse | Offline-Analyse

Das IRStudio System ist eine professionelle Infrarot-Analysesoftware, die von GeForce für Infrarot-Thermocameras und deren Derivate entwickelt wurde. Mit leistungsstarken Aufzeichnungs- und Analysefunktionen können Infrarotdaten angezeigt, aufgezeichnet und charakterisiert werden, um kritische Entscheidungsfindungen zu unterstützen und die praktischen Anwendungsanforderungen der Benutzer in Forschung und Entwicklung zu erfüllen.