Immer mehr wissenschaftliche Dokumente zeigenQSense^®Zuverlässigkeit der Technik.

Der Kern dieser Technologie besteht darin, dass Quarzkristalle bei einer bestimmten Frequenz bei einer Lastspannung schwingen. Wenn sich die Masse auf der Kristalloberfläche ändert, ändert sich auch die Schwingungsresonanzfrequenz des Kristalls. Auf diese Weise können Schnittstellenqualität und strukturelle Veränderungen auf der N-Ebene der Empfindlichkeit gemessen werden. Diese Methode ermöglicht die Messung in Echtzeit und ohne Markierungen von Materialoberflächen, die eine dünne Folie bilden können.

QSense^®Die Messung von Qualitätsveränderungen und die gleichzeitige Messung des Dispersionsfaktors ermöglicht Informationen über die Struktur und die Viskoelastizität der Folie. Es liefert Informationen wie die Molekulardicke, Struktur, Wassergehalt und mehr. Darüber hinaus können Änderungen der Oberflächensabsorptionsschicht vor, während und nach der Reaktion nachgewiesen werden.

Metalle, Polymere, chemisch modifizierte Oberflächen, solange Materialien, die auf der Oberfläche des Chips zu dünnen Folien ausgebreitet werden können, können unsere kundenspezifischen Chipbeschichtungen sein.