Das Vollständig reflektierte Röntgenfluorescenzspektrometer (TXRF) ist ein wissenschaftliches Instrument für die Mikroanalyse von mehreren Elementen, das eine schnelle und hochempfindliche Erkennung von Primär- und Spurenelementen (einschließlich Ultra-Spurenelementen) in Flüssigkeiten, Suspensionen, Feststoffen und Schadstoffproben durch Vollständig reflektierte Röntgenfluorescenztechnologie ermöglicht.
TXRF strahlt die Probenoberfläche durch eine einfallende Röntgenstrahlung in einem sehr kleinen Winkel (in der Regel unter 0,1 °), wodurch die Röntgenstrahlung vollständig reflektiert wird. Zu diesem Zeitpunkt werden die eingehenden Röntgenstrahlen nicht mehr von der Probe gestreut, sondern nur Mikronenstufe auf der Oberfläche der Probe angeregt, um ein charakteristisches Röntgenspektrum zu erzeugen. Dieser Prozess verringert deutlich die Störung des Detektorsignals durch die gestreuten Photonen, wodurch das Hintergrundgeräusch erheblich verringert wird (um etwa vier Maßstäbe weniger als herkömmliche XRF), wodurch die Detektion von Spurenelementen im Maßstab ng erreicht wird.
Wenn Röntgenstrahlen mit einem Winkel kleiner als der kritischen Winkel (normalerweise 0,1°-0,5°) auf die Oberfläche des Probenträgers (z. B. Quarzplatten) eindringen, entsteht eine volle Reflexion, um die Absorption und Streuung der Röntgenstrahlen durch den Träger zu vermeiden. Elementare Atome in der Probe (gleichmäßig auf der Trägerfläche ausgebreitet, Dicke ≤ 100 nm) werden angeregt und emittieren charakteristische Röntgenfluorescenz (XRF); Erfassen Sie mit einem Detektor die Energie und Intensität der charakteristischen Röntgenstrahlung und berechnen Sie den Elementgehalt basierend auf der Energie, die Elementart erkennt und die Intensität.
Eigenschaften:
Hohe Empfindlichkeit und niedrige Detektionsgrenzen: Geeignet für die Analyse von ultrafeinen Partikeln und Spurenelementen.
Weniger Probenverbrauch: Eine genaue Analyse erfolgt durch eine Mikro- oder Mikrogrammprobe, insbesondere bei begrenzten Probenmengen.
Matrix-freier Effekt: Die vollständig reflektierte geometrische Konfiguration reduziert die Störungen der Probenbasis auf die Messergebnisse und vereinfacht die quantitative Analyse.
Schnelle, beschädigungsfreie Prüfung: Die Zeit für eine einzelne Prüfung kann auf weniger als 5 Minuten verkürzt werden, ohne dass die Probe beschädigt wird.
Multi-Element-Analysefähigkeit: Sie können mehrere Elemente wie Chrom, Blei und andere acht Hauptschwermetallelemente gleichzeitig erkennen oder auf fast 30 Elemente nach Bedarf erweitern.
Einfache und sichere Bedienung: Die Berührungsschnittfläche ist intuitiv und das Risiko einer geringen Strahlenbelastung gewährleistet die Sicherheit des Bedieners.