Optimierungslösung für Low-Power-Tests der Nano(A)-Klasse IT2800

Mit der raschen Entwicklung der Mikroelektronik und der Verbesserung des Entwurfsniveaus hat sich die Integration und die Datenmenge des Chips erheblich erhöht. Dies führt zu einem drastischen Anstieg des Stromverbrauchs des Chips. Aus diesem Grund erfordern die Chips ein Design und Testen mit geringem Stromverbrauch. Einige Elektronikprodukte im gleichen Leben, wie IoT-Geräte, tragbare Batterieprodukte usw., müssen auch Low-Power-Tests durchgeführt werden, um einen längeren Betriebszustand zu gewährleisten.

Eigenschaften des Low Power Tests

Niedriger statischer Strom, uA-Ruhestrom und sogar nA-Leckstrom

Komplexe Signale, dynamische Stromveränderungen im großen Bereich, Mikroampere (uA) Ruhestrom bis zu mehreren Hundert mA oder sogar mehrere A Emissionen

Strom

Die Breite des Strompulzs ist eng, in der Regel in der Größe von mehreren hundert Mikrosekunden bis Millisekunden

Erfordert hohe Probenabgabegeschwindigkeit und lange kontinuierliche Messungen

Low-Power-Testlösungen

Traditionelle Lösung 1, Hochleistungsstromversorgung + Multimeter

Dies liegt vor allem daran, dass Tests mit niedrigem Stromverbrauch häufig dynamische Eigenschaften schnell erfordern, hohe Stromgenauigkeit, schnelle Reaktionsgeschwindigkeit und die Rücklesegeschwindigkeit der Stromversorgung selbst langsamer sind, um Strommutationen zu vermeiden, müssen oft mit digitalen Multimetern zur Datenerfassung zusammengearbeitet werden.

Traditionelle Lösung 2, Stromanalysator + Hochpräzisionsnetzwerte

Datenaufzeichnung mit Stromanalysatoren anstelle digitaler Multimeter-Funktionen, die sehr teuer sind und manchmal auch mit Charge-Software testen müssen