Röntgenfluorescenzspektrometer

Das Röntgenfluorescenzspektrometer (XRF) ist ein verlustfreies Analysegerät, das auf dem Röntgenfluorescenzprinzip basiert und weit verbreitet in der Elementbestandteilprüfung verwendet wird. Das Kernprinzip ist: Hochenergieröntgenstrahlen stimulieren die Oberflächenelementatome der Probe, so dass die innere Elektronenmigration zu einem Hohlloch bildet, die äußere Elektronen füllen die charakteristische Röntgenfluorescenz frei, erfassen und analysieren die Fluoreszensenergie durch den Detektor, um die Elementart und den Gehalt in der Probe schnell qualitativ und quantitativ zu erkennen. XRF hat die Vorteile der nicht-zerstörerischen, schnellen Analysegeschwindigkeit (eine einzelne Inspektion dauert nur Sekunden bis Minuten), der synchronen Multi-Element-Inspektion und andere Vorteile, unterstützt eine Vielzahl von Probenformen wie Feststoffe, Pulver, Flüssigkeiten und andere, geeignet für die Metallurgie, Geologie, Umweltschutz, Petrochemie und andere Industrien, ist ein wichtiges Werkzeug für die Materialwissenschaft und die industrielle Qualitätskontrolle.