Wafer-PrüfmikroskopAusgestattet mit einem großen Bewegungsbereich Tragstisch, Landing-Beleuchtung, Flachfeld-Farbdifferenz-Objektive, große Sichtfeld-Brille, klares Bild, gute Linie, gleichzeitig mit Polarisationseinrichtung, Wafer-Inspektionsmikroskop ist das ideale Instrument für die Metallologie, Mineralogie, Präzisionstechnik, Elektronik und andere Forschungen. Wafer-Inspektionsmikroskop ist ein erfolgreiches Hightech-Produkt, das ausgezeichnete optische Mikroskoptechnologie, fortgeschrittene optische Konvertierungstechnik und Computerbildtechnik kombiniert.Wafer-PrüfmikroskopSie können sowohl manuell beobachten, als auch sehr bequem auf dem Computer, um das Bild rechtzeitig zu beobachten und jederzeit aufzunehmen, um das Profil der Metallphase zu analysieren, zu bewerten und so weiter, können auch hochpixelige Metallphase-Fotos gespeichert oder gedruckt werden. Wafer-Inspektionsmikroskope sind für Schulen, Forschung, Fabriken und andere Abteilungen geeignet.

Wafer Inspektionsmikroskop Funktionen:

20X-Brille, Hilfsobjektive usw. haben eine antistatische Funktion, die Wafer-Inspektionsmikroskop-Funktion ist nützlich, wenn Sie eine antistatische Probe (wie Halbleiterchips usw.) beobachten.

Dichtungsfunktion: Vervielfältigungsglas, 10X / 20X Brille haben Dichtungsfunktion, wenn Wafer-Prüfmikroskop in einer Umgebung mit hoher Luftfeuchtigkeit wie Öl, Gas und Wasserdampf immer noch bequemer verwendet werden kann.

Innovatives menschliches mechanisches Design, das den Bediener langfristig komfortablen Betrieb gewährleistet.

Wafer-Inspektionsmikroskop mit hoher Auflösung, großem Sichtfeld, langer Arbeitsentfernung und anderen Merkmalen,Wafer-PrüfmikroskopWeit verbreitet in den Bereichen Lehr Demonstration, Biotechnik, IT-Industrie Prüfung und andere.

Anschließen Sie die Bildkarte nach dem Gerät kann mit dem Computer verbunden Bild kann eine einzige Jungfräulichkeit speichern und kontinuierliche Jungfräulichkeit erfassen.

Wafer-Inspektionsmikroskop mit Fine-Tuning-Fokusfunktion ermöglicht die genaue und klare Einstellung der Fokusweite bei hohen Vergrößerungen.